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2SK4015
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π型MOS VI)的
2SK4015
开关稳压器的应用
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 0.60
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 7.4 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(V
DS
= 600 V)
增强模型: V
th
= 2.0 4.0 V(V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
600
600
±30
10
40
45
363
10
4.5
150
-55到150
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
1 :门
2 :排水
3 :源
单位
V
V
V
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10U1B
重量:2.7克(典型值)。
注:在重负载下连续使用(如高温/电流/电压和应用
在温度等显著变化)可能会导致此产品在可靠性,降低显著甚至
如果操作条件(即工作温度/电流/电压等)内的绝对最大
收视率。请在审查东芝半导体可靠性设计适当的可靠性
手册( “注意事项” /降级的概念和方法)和个人数据的可靠性(即可靠性
测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
2
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
2.78
62.5
单位
° C / W
° C / W
1
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
6.36 mH的,我
AR
=
10 A,R
G
=
25
Ω
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。小心轻放。
3
1
2009-09-29
2SK4015
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
10 A
1%, t
w
=
10
μs
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
V
GS
0V
50
Ω
I
D
=
5 A
V
OUT
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
600 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
5 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
5 A
±30
600
2.0
3.7
典型值。
0.60
7.4
1500
15
180
22
50
36
180
42
23
19
最大
±10
100
4.0
0.86
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
ns
R
L
=
40
Ω
V
DD
200 V
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏反向电流(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
10 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
10 A,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
170
0.6
最大
10
40
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
注4 :根据地段第一个行标识产品的说明
标签。
没有下划线: [铅] /包括> MCV
下划线: [ [G ] /符合RoHS标准或[ G] ] / RoHS指令[铅]
K4015
产品型号(或缩写代码)
LOT号
注4
请联系您的东芝销售代表了解详细信息,以
环境问题,如产品的RoHS指令的兼容性。
RoHS指令的指令欧洲议会的2002/95 / EC
与2003年1月27日,安理会对使用的限制
某些有害物质的电器和电子设备。
2
2009-09-29
2SK4015
I
D
– V
DS
10
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
8
7
6
20
6.3
16
10
8
7
6.8
6.6
12
6.3
8
6
5.7
4
5.4
VGS
=
5 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
20
30
40
50
I
D
– V
DS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
6
5.7
4
5.4
2
VGS
=
5 V
漏源电压V
DS
(V)
漏电流I
D
(A)
8
漏源电压V
DS
(V)
I
D
– V
GS
16
常见的来源
V
DS
=
10 V
脉冲测试
10
Tc
= 55°C
25
V
DS
– V
GS
常见的来源
Tc
=
25℃
脉冲测试
漏源电压V
DS
(V)
漏电流I
D
(A)
8
12
6
ID
=
10 A
8
100
4
4
5
2
2
0
0
4
8
12
16
20
0
0
2
4
6
8
10
栅源电压V
GS
(V)
栅源电压V
GS
(V)
|Y
fs
| – I
D
100
10
常见的来源
VDS
=
10 V
脉冲测试
R
DS ( ON)
– I
D
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
正向转移导纳
Y
fs
(S)
10
Tc
= 55°C
25
100
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
1
VGS
=
10 V
1
0.1
0. 1
1
10
100
0.1
0.1
1
10
100
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2009-09-29
2SK4015
R
DS ( ON)
Tc
2.0
常见的来源
VGS
=
10 V
脉冲测试
ID
=
10 A
1.2
2
5
0.8
100
I
DR
V
DS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
1.6
反向漏电流I
DR
(A)
10
1
5
10
0.4
0
80
40
0
40
80
120
160
0.1
3
0
0.4
1
VGS
=
0 V
0.8
1.2
1.6
外壳温度
TC ( ℃)
漏源电压V
DS
(V)
C
V
DS
10000
5
V
th
Tc
V
th
(V)
常见的来源
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
(PF )
1000
西塞
4
栅极阈值电压
电容C
3
100
科斯
2
10
CRSS
常见的来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
10
100
1
1
0.1
0
80
40
0
40
80
120
160
漏源电压V
DS
(V)
外壳温度
TC ( ℃)
P
D
Tc
50
600
动态输入/输出
特征
常见的来源
ID
=
10 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
VDS
VDD
=
100 V
200 V
400 V
300
VGS
5
15
P
D
(W)
漏源电压V
DS
(V)
漏极功耗
400
10
30
7.5
20
200
10
100
2.5
0
0
40
80
120
160
200
0
0
20
40
60
0
80
外壳温度
TC ( ℃)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2009-09-29
栅源电压V
GS
40
500
12.5
(V)
2SK4015
r
th
– t
w
归一化瞬态热
阻抗
日(T )
/R
TH( CH-C )
10
1
占空比= 0.5
Duty=0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
PDM
t
0.01
0.01
单脉冲
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
2.78°C/W
10½
100½
1
10
0.001
10μ
100μ
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
100
ID MAX(脉冲)
*
100
μs
*
ID MAX(连续)
*
400
500
E
AS
– T
ch
10
雪崩能量
E
AS
(兆焦耳)
(A)
300
漏电流I
D
1毫秒
*
直流操作
Tc
=
25°C
200
1
100
0.1
*
单一不重复的脉冲
Tc
=
25°C
曲线必须降低
线性地增加
0
25
50
75
100
125
150
通道温度(初始)
T
ch
(°C)
VDSS最大
100
1000
0.01
1
温度。
10
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
漏源电压
V
DS
(V)
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
6.36 mH的
波形
Ε
AS
=
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDSS
VDD
5
2009-09-29
2SK4015
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π型MOS VI)的
2SK4015
开关稳压器的应用
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 0.60
Ω
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 7.4 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(V
DS
= 600 V)
增强模型: V
th
= 2.0~4.0 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
600
600
±30
10
40
45
363
10
4.5
150
-55~150
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
1 :门
2 :排水
3 :源
单位
V
V
V
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10U1B
重量:2.7克(典型值)。
注:在重负载下连续使用(如高温/电流/电压和应用
在温度等显著变化)可能会导致此产品在可靠性,降低显著甚至
如果操作条件(即工作温度/电流/电压等)内的绝对最大
ratings.Please在审查东芝半导体可靠性设计适当的可靠性
手册( “注意事项” /降级的概念和方法)和个人数据的可靠性(即可靠性
测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
2
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
2.78
62.5
单位
° C / W
° C / W
1
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
6.36 mH的,我
AR
=
10 A,R
G
=
25
Ω
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。小心轻放。
3
1
2007-06-29
2SK4015
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
10 A
& LT ;
1%, t
w
=
10
μs
=
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
V
GS
0V
50
Ω
I
D
=
5 A
V
OUT
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
600 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
5 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
5 A
±30
600
2.0
3.7
典型值。
0.60
7.4
1500
15
180
22
50
36
180
42
23
19
最大
±10
100
4.0
0.86
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
ns
R
L
=
40
Ω
V
DD
200 V
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
10 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
10 A,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
170
0.6
最大
10
40
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
K4015
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线表示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2007-06-29
2SK4015
I
D
– V
DS
10
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
8
7
6
20
6.3
16
10
8
7
6.8
6.6
12
6.3
8
6
5.7
4
5.4
VGS
=
5 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
20
30
40
50
I
D
– V
DS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
6
5.7
4
5.4
2
VGS
=
5 V
漏源电压V
DS
(V)
漏电流I
D
(A)
8
漏源电压V
DS
(V)
I
D
– V
GS
16
常见的来源
V
DS
=
10 V
脉冲测试
10
Tc
= 55°C
25
V
DS
– V
GS
常见的来源
Tc
=
25℃
脉冲测试
漏源电压V
DS
(V)
漏电流I
D
(A)
8
12
6
ID
=
10 A
8
100
4
4
5
2
2
0
0
4
8
12
16
20
0
0
2
4
6
8
10
栅源电压V
GS
(V)
栅源电压V
GS
(V)
|Y
fs
| – I
D
100
10
常见的来源
VDS
=
10 V
脉冲测试
R
DS ( ON)
– I
D
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
正向转移导纳
Y
fs
(S)
10
Tc
= 55°C
25
100
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
1
VGS
=
10 V
1
0.1
0. 1
1
10
100
0.1
0.1
1
10
100
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2007-06-29
2SK4015
R
DS ( ON)
Tc
2.0
常见的来源
VGS
=
10 V
脉冲测试
ID
=
10 A
1.2
2
5
0.8
100
I
DR
V
DS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
1.6
反向漏电流I
DR
(A)
10
1
5
10
0.4
0
80
40
0
40
80
120
160
0.1
3
0
0.4
1
VGS
=
0 V
0.8
1.2
1.6
外壳温度
TC ( ℃)
漏源电压V
DS
(V)
C
V
DS
10000
5
V
th
Tc
V
th
(V)
常见的来源
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
(PF )
1000
西塞
4
栅极阈值电压
电容C
3
100
科斯
2
10
CRSS
常见的来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
10
100
1
1
0.1
0
80
40
0
40
80
120
160
漏源电压V
DS
(V)
外壳温度
TC ( ℃)
P
D
Tc
50
600
动态输入/输出
特征
常见的来源
ID
=
10 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
VDS
VDD
=
100 V
200 V
400 V
300
VGS
5
15
P
D
(W)
漏源电压V
DS
(V)
漏极功耗
400
10
30
7.5
20
200
10
100
2.5
0
0
40
80
120
160
200
0
0
20
40
60
0
80
外壳温度
TC ( ℃)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2007-06-29
栅源电压V
GS
40
500
12.5
(V)
2SK4015
r
th
– t
w
归一化瞬态热
阻抗
日(T )
/R
TH( CH-C )
10
1
占空比= 0.5
Duty=0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
PDM
t
0.01
0.01
单脉冲
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
2.78°C/W
10½
100½
1
10
0.001
10μ
100μ
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
100
ID MAX(脉冲)
*
100
μs
*
ID MAX(连续)
*
400
500
E
AS
– T
ch
10
雪崩能量
E
AS
(兆焦耳)
(A)
300
漏电流I
D
1毫秒
*
直流操作
Tc
=
25°C
200
1
100
0.1
*
单一不重复的脉冲
Tc
=
25°C
曲线必须降低
线性地增加
0
25
50
75
100
125
150
通道温度(初始)
T
ch
(°C)
VDSS最大
100
1000
0.01
1
温度。
10
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
漏源电压
V
DS
(V)
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
6.36 mH的
波形
Ε
AS
=
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDSS
VDD
5
2007-06-29
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