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2SK3561
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOSVI )
2SK3561
开关稳压器的应用
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 0.75Ω ( TYP。)
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 6.5S (典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(V
DS
= 500 V)
增强型: V
th
= 2.0~4.0 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 k)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
500
500
±30
8
32
40
312
8
4
150
-55~150
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
1 :门
2 :排水
3 :源
单位
V
V
V
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10U1B
重量:2.7克(典型值)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
3.125
62.5
单位
2
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
8.3 mH的,我
AR
=
8 A,R
G
=
25
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
3
1
1
2005-01-26
2SK3561
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
= 8
A
& LT ;
1%, t
w
=
10
s
=
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
测试条件
V
GS
= ±
25 V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±
10
A,V
DS
=
0 V
V
DS
=
500 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
4 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
4 A
典型值。
最大
单位
±
30
500
2.0
0.75
6.5
1050
10
110
26
45
38
130
28
16
12
±
10
100
A
V
A
V
V
4.0
0.85
3.0
S
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
pF
10 V
V
GS
0V
50
I
D
=
4 A
V
OUT
ns
R
L
=
50
V
DD
200 V
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
典型值。
最大
8
32
单位
A
A
V
ns
I
DR
=
8 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
8 A,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A/
s
1200
10
1.7
C
记号
K3561
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2005-01-26
2SK3561
I
D
– V
DS
10
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
20
10½15
6
5.25
10½15
I
D
– V
DS
6
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
5.5
12
5
8
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
8
5
16
6
4.75
4
4.5
4.25
2
VGS
=
4 V
4
4.5
VGS
=
4 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
V
DS
– V
GS
V
DS
(V)
20
常见的来源
10
常见的来源
Tc
=
25℃
8
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
16
VDS
=
20 V
脉冲测试
漏源电压
12
6
ID
=
8 A
8
Tc
= 55°C
4
100
25
4
4
2
2
0
0
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
正向转移导纳
Y
fs
(S)
100
10
R
DS ( ON)
– I
D
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
()
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
Tc
= 55°C
Tc
= 55°C
25
100 25
100
1
VGS
=
10 V½15V
1
常见的来源
VDS
=
10 V
脉冲测试
0.1
0.1
1
10
100
0.1
0.1
1
10
100
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2005-01-26
2SK3561
R
DS ( ON)
TC =
2.0
100
I
DR
– V
DS
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(
)
反向漏电流I
DR
(A)
常见的来源
1.6
VGS
=
10 V
脉冲测试
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
1.2
ID
=
8 A
4
0.8
2
1
10
5
3
1
0.2
0.4
0.6
VGS
=
0,
1
V
0.8
1.0
1.2
0.4
0
80
40
0
40
80
120
160
0.1
0
外壳温度
Tc
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
10000
5
V
th
TC =
(PF )
西塞
1000
栅极阈值电压
V
th
(V)
4
电容C
科斯
100
3
2
常见的来源
1
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
0
80
脉冲测试
40
0
40
80
120
160
10种常见来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
0.1
1
10
CRSS
100
漏源电压
V
DS
(V)
外壳温度
Tc
(°C)
P
D
TC =
动态输入/输出
特征
V
DS
(V)
400
VDS
VDD
=
100 V
400
16
40
漏源电压
300
200
200
VGS
100
常见的来源
ID
=
8 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
0
0
10
20
30
40
12
8
20
4
0
0
40
80
120
160
0
50
外壳温度
Tc
(°C)
总栅极电荷
Q
g
( NC )
4
2005-01-26
栅极 - 源极电压V
GS
(V)
60
500
20
漏极功耗
P
D
(W)
2SK3561
r
th
– t
w
归一化瞬态热
阻抗
日(T )
/R
TH( CH-C )
10
1
Duty=0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
PDM
t
0.01
0.01
单脉冲
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
3.125°C/W
0.001
10μ
100μ
10½
100½
1
10
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
100
ID MAX(脉冲)
*
500
E
AS
– T
ch
漏电流I
D
(A)
10
ID MAX(连续)
*
1毫秒
*
雪崩能量
E
AS
(兆焦耳)
100
s
*
400
300
200
1
直流操作
Tc
=
25°C
100
单一不重复的脉冲
0.1
曲线
线性
Tc=25℃
必须
BE
降额
IN
0
25
50
75
100
125
150
增加
温度。
通道温度(初始)
T
ch
(°C)
VDSS最大
100
1000
0.01
1
10
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
15 V
测试电路
R
G
=
25
V
DD
=
90 V,L
=
8.3mH
电波表
Ε
AS
=
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDSS
VDD
5
2005-01-26
2SK3561
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOSVI )
2SK3561
开关稳压器的应用
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 0.75Ω ( TYP。)
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 6.5S (典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(V
DS
= 500 V)
增强型: V
th
= 2.0~4.0 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
500
500
±30
8
32
40
312
8
4
150
-55~150
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
单位
V
V
V
1 :门
2 :排水
3 :源
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10U1B
重量:2.7克(典型值)。
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
2
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
3.125
62.5
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
8.3 mH的,我
AR
=
8 A,R
G
=
25
Ω
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
1
3
1
2006-11-06
2SK3561
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
= 8
A
& LT ;
1%, t
w
=
10
μs
=
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
V
GS
0V
50
Ω
I
D
=
4 A
V
OUT
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
500 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
4 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
4 A
±30
500
2.0
3.0
典型值。
0.75
6.5
1050
10
110
26
45
38
130
28
16
12
最大
±10
100
4.0
0.85
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
ns
R
L
=
50
Ω
V
DD
200 V
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
8 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
8 A,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
1200
10
最大
8
32
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
K3561
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2006-11-06
2SK3561
I
D
– V
DS
10
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
20
10½15
6
5.25
10½15
I
D
– V
DS
6
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
5.5
12
5
8
(A)
(A)
漏电流I
D
8
5
16
漏电流I
D
6
4.75
4
4.5
4.25
2
VGS
=
4 V
4
4.5
VGS
=
4 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
V
DS
(V)
20
常见的来源
10
V
DS
– V
GS
常见的来源
Tc
=
25℃
8
脉冲测试
(A)
16
VDS
=
20 V
脉冲测试
漏电流I
D
漏源电压
12
6
ID
=
8 A
8
Tc
= 55°C
4
100
25
0
0
4
4
2
2
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
正向转移导纳
Y
fs
(S)
100
10
R
DS ( ON)
– I
D
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
Tc
= 55°C
Tc
= 55°C
25
100 25
100
1
VGS
=
10 V½15V
1
常见的来源
VDS
=
10 V
脉冲测试
0.1
0.1
1
10
100
0.1
0.1
1
10
100
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2006-11-06
2SK3561
R
DS ( ON)
TC =
2.0
100
I
DR
– V
DS
反向漏电流I
DR
(A)
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(
Ω)
常见的来源
VGS
=
10 V
1.6
脉冲测试
1.2
ID
=
8 A
4
0.8
2
1
10
5
3
1
0.2
0.4
0.6
VGS
=
0,
1
V
0.8
1.0
1.2
0.4
0
80
40
0
40
80
120
160
0.1
0
外壳温度
Tc
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
10000
5
V
th
TC =
(PF )
1000
西塞
栅极阈值电压
V
th
(V)
4
C
电容
科斯
100
3
2
常见的来源
1
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
0
80
脉冲测试
40
0
40
80
120
160
10种常见来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
0.1
1
10
CRSS
100
漏源电压
V
DS
(V)
外壳温度
Tc
(°C)
P
D
TC =
V
DS
(V)
60
500
动态输入/输出
特征
(V)
栅源电压
V
GS
20
漏极功耗
P
D
(W)
400
VDS
VDD
=
100 V
400
16
40
漏源电压
300
200
200
常见的来源
VGS
100
ID
=
8 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
0
0
10
20
30
40
12
8
20
4
0
0
40
80
120
160
0
50
外壳温度
Tc
(°C)
总栅极电荷
Q
g
( NC )
4
2006-11-06
2SK3561
r
th
– t
w
归一化瞬态热
阻抗
日(T )
/R
TH( CH-C )
10
1
Duty=0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
PDM
t
0.01
0.01
单脉冲
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
3.125°C/W
0.001
10μ
100μ
10½
100½
1
10
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
100
ID MAX(脉冲)
*
500
E
AS
– T
ch
(A)
10
ID MAX(连续)
*
1毫秒
*
雪崩能量
E
AS
(兆焦耳)
100
μs
*
400
300
漏电流I
D
200
1
直流操作
Tc
=
25°C
100
单一不重复的脉冲
0.1
曲线
线性
Tc=25℃
必须
BE
降额
IN
0
25
50
75
100
125
150
增加
温度。
通道温度(初始)
T
ch
(°C)
VDSS最大
100
1000
0.01
1
10
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
8.3mH
电波表
Ε
AS
=
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDSS
VDD
5
2006-11-06
2SK3561
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOSVI )
2SK3561
开关稳压器的应用
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 0.75
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 6.5 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(V
DS
= 500 V)
增强型: V
th
= 2.0 4.0 V(V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
DC
漏电流
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
500
500
±30
8
32
40
312
8
4
150
-55到150
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
单位
V
V
V
1 :门
2 :排水
3 :源
脉冲(T
=
1毫秒)
(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10U1B
重量:2.7克(典型值)。
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
2
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
3.125
62.5
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
8.3 mH的,我
AR
=
8 A,R
G
=
25
Ω
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
1
3
1
2009-09-29
2SK3561
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
栅极 - 源电荷
栅极 - 漏极电荷
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
= 8
A
& LT ;
1%, t
w
=
10
μs
=
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
V
GS
0V
50
Ω
I
D
=
4 A
V
OUT
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
500 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
4 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
4 A
±30
500
2.0
3.0
典型值。
0.75
6.5
1050
10
110
26
45
38
130
28
16
12
最大
±10
100
4.0
0.85
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
ns
R
L
=
50
Ω
V
DD
200 V
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏反向电流(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
8 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
8 A,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
1200
10
最大
8
32
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
注4 :根据地段第一个行标识产品的说明
标签。
没有下划线: [铅] /包括> MCV
下划线: [ [G ] /符合RoHS标准或[ G] ] / RoHS指令[铅]
K3561
产品型号(或缩写代码)
请联系您的东芝销售代表了解详细信息,以
LOT号
注4
环境问题,如产品的RoHS指令的兼容性。
RoHS指令的指令欧洲议会的2002/95 / EC
与2003年1月27日,安理会对使用的限制
某些有害物质的电器和电子设备。
2
2009-09-29
2SK3561
I
D
– V
DS
10
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
20
10½15
6
5.25
10½15
I
D
– V
DS
6
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
5.5
12
5
8
(A)
(A)
漏电流I
D
8
5
16
漏电流I
D
6
4.75
4
4.5
4.25
2
VGS
=
4 V
4
4.5
VGS
=
4 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
V
DS
(V)
20
常见的来源
10
V
DS
– V
GS
常见的来源
Tc
=
25℃
8
脉冲测试
(A)
16
VDS
=
20 V
脉冲测试
漏电流I
D
漏源电压
12
6
ID
=
8 A
8
Tc
= 55°C
4
100
25
0
0
4
4
2
2
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
正向转移导纳
Y
fs
(S)
100
10
R
DS ( ON)
– I
D
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
Tc
= 55°C
Tc
= 55°C
25
100 25
100
1
VGS
=
10 V½15V
1
常见的来源
VDS
=
10 V
脉冲测试
0.1
0.1
1
10
100
0.1
0.1
1
10
100
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2009-09-29
2SK3561
R
DS ( ON)
TC =
2.0
100
I
DR
– V
DS
反向漏电流I
DR
(A)
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
10
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(
Ω)
常见的来源
VGS
=
10 V
1.6
脉冲测试
1.2
ID
=
8 A
4
0.8
2
1
10
5
3
1
0.2
0.4
0.6
VGS
=
0,
1
V
0.8
1.0
1.2
0.4
0
80
40
0
40
80
120
160
0.1
0
外壳温度
Tc
(°C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
10000
5
V
th
TC =
(PF )
1000
西塞
栅极阈值电压
V
th
(V)
4
C
电容
科斯
100
3
2
常见的来源
1
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
0
80
脉冲测试
40
0
40
80
120
160
10种常见来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
1
0.1
1
10
CRSS
100
漏源电压
V
DS
(V)
外壳温度
Tc
(°C)
P
D
TC =
V
DS
(V)
60
500
动态输入/输出
特征
(V)
栅源电压
V
GS
20
漏极功耗
P
D
(W)
400
VDS
VDD
=
100 V
400
16
40
漏源电压
300
200
200
常见的来源
VGS
100
ID
=
8 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
0
0
10
20
30
40
12
8
20
4
0
0
40
80
120
160
0
50
外壳温度
Tc
(°C)
总栅极电荷
Q
g
( NC )
4
2009-09-29
2SK3561
r
th
– t
w
归一化瞬态热
阻抗
日(T )
/R
TH( CH-C )
10
1
Duty=0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
PDM
t
0.01
0.01
单脉冲
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
3.125°C/W
0.001
10μ
100μ
10½
100½
1
10
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
100
ID MAX(脉冲)
*
500
E
AS
– T
ch
(A)
10
ID MAX(连续)
*
1毫秒
*
雪崩能量
E
AS
(兆焦耳)
100
μs
*
400
300
漏电流I
D
200
1
直流操作
Tc
=
25°C
100
单一不重复的脉冲
0.1
曲线
线性
Tc=25℃
必须
BE
降额
IN
0
25
50
75
100
125
150
增加
温度。
通道温度(初始)
T
ch
(°C)
VDSS最大
100
1000
0.01
1
10
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
8.3mH
电波表
Ε
AS
=
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDSS
VDD
5
2009-09-29
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    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

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电话:0755-88917652分机801-83200050
联系人:柯
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