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2SK3472
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π -MOS
V)
2SK3472
开关稳压器的应用
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
= 4.0毫欧(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 0.8 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
= 450 V)
增强模型: V
th
= 2.0 4.0 V(V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
漏电流
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
450
450
±30
1
2
20
122
1
2
150
55
to150
单位
V
V
V
A
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
脉冲(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-64
2-7B1B
重量:0.58克(典型值)。
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
6.25
125
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
203毫亨,R
G
=
25
Ω,
I
AR
=
1 A
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度
此晶体管是静电感应装置。小心轻放。
1
2006-11-06
2SK3472
电气特性(Ta
=
25°C)
特征
栅极漏电流
漏源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
(栅极 - 源极加上栅极 - 漏极)
栅极 - 源电荷
栅 - 漏极( “米勒” )费
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
360 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
1 A
& LT ;
1%, t
w
=
10
μs
=
V
DD
200 V
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
10 V
V
GS
0V
10
Ω
I
D
=
0.5 A
V
OUT
V
DS
=
25 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±10 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
450 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
0.5 A
±30
450
2.0
0.3
典型值。
4.0
0.8
180
2
20
7
15
30
70
5
3
2
最大
±10
100
4.0
4.6
ns
nC
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
R
L
=
400
Ω
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏反向电流(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V
I
DR
=
1 ,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
350
1.3
最大
1
2
1.7
单位
A
A
V
μs
μC
记号
K3472
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线表示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2006-11-06
2SK3472
I
D
– V
DS
1.0
共源10
Tc
=
25°C
脉冲测试
8.0
0.6
2.0
5.75
6.0
5.5
1.6
10
8.0
I
D
– V
DS
6.25
6.0
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
0.8
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
5.25
1.2
5.75
0.4
5.0
4.75
0.8
5.5
5.25
0.2
VGS
=
4.5 V
0.4
5.0
VGS
=
4.5 V
0
0
2
4
6
8
10
0
0
10
20
30
40
50
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
2.0
常见的来源
VDS
=
20 V
脉冲测试
20
V
DS
– V
GS
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
1.6
V
DS
(V)
漏源电压
100
16
漏电流I
D
(A)
1.2
12
0.8
8
0.4
25
Tc
= 55°C
4
0.25
0
ID
=
1 A
0.5
0
0
2
4
6
8
10
0
4
8
12
16
20
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
I
D
10
常见的来源
5 V
DS
=
20 V
3脉冲测试
Tc
= 55°C
25
100
R
DS ( ON)
I
D
50
常见的来源
(S)
正向转移导纳
Y
fs
(Ω)
R
DS ( ON)
1
0.5
0.3
漏源导通电阻
30锝
=
25°C
脉冲测试
10
5
3
VGS
=
10, 15 V
0.1
0.05
0.02
0.1
0.3
0.5
1
3
5
10
1
0.1
0.3
0.5
1
3
5
10
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2006-11-06
2SK3472
R
DS ( ON)
Tc
(Ω)
16
常见的来源
VGS
=
10 V
脉冲测试
10
常见的来源
I
DR
V
DS
漏源导通电阻R
DS ( ON)
(A)
12
3
脉冲测试
反向漏电流I
DR
8
0.5
2
ID
=
1 A
1
0.3
0.25
0.1
10
3
1
0.03
1
VGS
=
0,
1
V
0.6
0.8
1.0
1.2
0
80
40
0
40
80
160
0.01
0
0.2
0.4
外壳温度
TC ( ℃)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
500
300
5
西塞
V
th
Tc
常见的来源
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
脉冲测试
V
th
(V)
栅极阈值电压
4
(PF )
100
50
30
科斯
10
5
3
常见的来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
0.3 0.5
1
3
5
10
电容C
3
2
1
CRSS
30 50
100
0
80
40
0
40
80
120
160
1
0.1
漏源电压
V
DS
(V)
壳温度( ° C)
P
D
Tc
40
500
动态输入/输出特性
常见的来源
ID
=
1 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
VDS
90
300
VDS
=
360 V
12
180
20
漏极功耗P
D
(W)
V
DS
(V)
400
16
30
20
漏源电压
200
VGS
100
8
10
4
0
0
40
80
120
160
200
0
0
20
40
60
80
0
100
外壳温度
TC ( ℃)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2006-11-06
栅源电压
V
GS
(V)
2SK3472
r
th
t
w
10
归瞬态热阻抗
r
日(T )
/R
第(章-a)的
3
1
=
0.5
0.3 0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
0.03
0.01
0.01
10
μ
100
μ
1m
10 m
100 m
单脉冲
PDM
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
6.25°C/W
1
10
脉冲宽度
t
w
(S)
安全工作区
30
150
E
AS
– T
ch
雪崩能量E
AS
(兆焦耳)
10
120
3
漏电流I
D
(A)
ID MAX(脉冲)
*
ID MAX(连续)
1毫秒
*
90
100
μs
*
1
60
0.3
直流操作
Tc
=
25°C
30
0.1
*:
单一不重复的脉冲
Tc
=
25°C
00.3曲线必须降低
线性地增加
温度。
00.1
0.1
1
0
25
50
75
100
125
150
通道温度(初始)总胆固醇( ° C)
VDSS最大
10
100
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
波形
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
203毫亨
Ε
AS
=
1
B VDSS
L
I2
B
2
VDD
VDSS
5
2006-11-06
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    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

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