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2SK3130
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型( π - MOSV )
2SK3130
开关稳压器的应用
反向恢复时间:吨
rr
= 85 ns的
内置的高速续流二极管
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 1.12
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 5.0 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
= 600 V)
增强模型: V
th
= 2.0~4.0 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
漏电流
DC
脉冲
(注1 )
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
600
600
±30
6
24
40
345
6
4
150
55~150
单位
V
V
V
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10R1B
重1.9克(典型值)
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
3.125
62.5
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
90 V,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
16.8毫亨,R
G
=
25
Ω,
I
AR
=
6 A
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最大通道温度。
此晶体管是静电感应装置。请小心处理
1
2006-11-08
2SK3130
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
栅源击穿电压
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
开启时间
开关时间
下降时间
打开-O FF时间
总栅极电荷
(栅极 - 源极加上栅极 - 漏极)
栅极 - 源电荷
栅 - 漏极( “米勒” )费
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
400 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
6 A
符号
I
GSS
V
( BR ) GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
I
D
=
3 A
V
DS
=
10 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±25
V, V
DS
=
0 V
I
G
= ±100 μA,
V
DS
=
0 V
V
DS
=
600 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
10 V,I
D
=
3 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
3 A
±30
600
2.0
1.5
典型值。
1.12
5.0
1300
130
400
25
45
40
150
30
18
12
最大
±10
100
4.0
1.55
pF
单位
μA
V
μA
V
V
Ω
S
10 V
0V
50
Ω
R
L
=
100
Ω
V
DD
300 V
V
OUT
ns
V
GS
nC
& LT ;
1%, t
w
=
10
μs
=
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏反向电流(注1 )
脉冲漏极电流反向
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
(注1 )
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
测试条件
I
DR
=
6 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
6 A,V
GS
=
0 V,
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
典型值。
85
0.21
最大
6
24
1.7
单位
A
A
V
ns
μC
记号
K3130
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2006-11-08
2SK3130
I
D
– V
DS
5
常见的来源
Tc
=
25°C
4
脉冲测试
5.8
3
5.6
2
15
10
10
6
8
15
10
I
D
– V
DS
常见的来源
Tc
=
25°C
6.4
脉冲测试
6.2
6
6.0
4
5.8
漏电流I
D
(A)
5.4
5.2
漏电流I
D
(A)
1
VGS
=
5.0 V
0
0
2
4
6
8
10
2
5.4
VGS
=
5.0 V
0
0
10
20
30
40
50
漏源电压
VDS
(V)
漏源电压
VDS
(V)
I
D
– V
GS
10
常见的来源
VDS
=
20 V
8
脉冲测试
20
V
DS
– V
GS
常见的来源
V
DS
(V)
Tc
=
25°C
16
脉冲测试
漏电流I
D
(A)
漏源电压
6
12
ID
=
6 A
8
4
100
2
Tc
=
25°C
4
3
1.5
0
0
2
4
6
8
10
0
0
4
8
12
16
20
栅源电压
VGS ( V)
栅源电压
VGS ( V)
|Y
fs
| – I
D
100
100
VDS
=
20 V
脉冲测试
R
DS ( ON)
– I
D
(Ω)
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
常见的来源
|Y
fs
| (S)
正向转移导纳
10
Tc
=
25°C
100
漏源电阻R
DS ( ON)
VGS
=
10, 15 V
10
1
0.1
0.1
1
10
100
1
0.1
1
10
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2006-11-08
2SK3130
R
DS ( ON)
TC =
5
常见的来源
4
脉冲测试
ID
=
6 A
3
3
1.5
2
VGS
=
10 V
10
常见的来源
I
DR
– V
DS
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(Ω)
(A)
Tc
=
25°C
脉冲测试
反向漏电流I
DR
1
1
10
0
0
40
80
120
160
0.1
0
0.2
5
3
0.4
VGS
=
0,
1
V
0.6
0.8
1.0
1.2
壳温度( ° C)
漏源电压
VDS
(V)
电容 - V
DS
3000
西塞
1000
5
V
th
TC =
常见的来源
V
th
(V)
(PF )
4
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
脉冲测试
500
300
科斯
电容C
栅极阈值电压
3
100
50
30
常见的来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
0.3 0.5
1
3
5
10
2
CRSS
1
10
0.1
30 50
100
漏源电压
VDS
(V)
0
80
40
0
40
80
120
160
壳温度( ° C)
P
D
TC =
50
500
动态输入/输出特性
20
漏极功耗P
D
(W)
(V)
40
400
VDS
300
VDD
=
100 V
200
400
200
常见的来源
ID
=
6 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
16
漏源电压
20
8
10
100
VGS
4
0
0
40
80
120
160
200
0
0
10
20
30
40
0
50
壳温度( ° C)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2006-11-08
栅源电压
30
12
VGS ( V)
VDS
2SK3130
r
th
t
w
10
归瞬态热阻抗
1
=
0.5
r
日(T )
/R
TH( CH-C )
0.2
0.1
0.1
0.05
0.02
0.01
0.01
单脉冲
PDM
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
3.125°C/W
0.001
10
μ
100
μ
1m
0.01
0.1
1
10
脉冲宽度
安全工作区
100
TW (S )
500
E
AS
T
ch
雪崩能量E
AS
(兆焦耳)
ID MAX(脉冲)
*
100
μs
*
10
ID MAX(连续)
1毫秒
*
400
300
漏电流I
D
(A)
200
1
直流操作锝
=
25°C
100
0
25
0.1
*
单一不重复的脉冲
Tc
=
25°C
曲线必须降低
线性地增加
温度。
0.01
1
10
100
50
75
100
125
150
通道温度(初始)总胆固醇( ° C)
VDSS最大
1000
漏源电压
VDS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
90 V,L
=
16.8毫亨
E上
=
电波表
B VDSS
1
L
I2
B
2
VDSS
VDD
5
2006-11-08
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    电话:0755-82780082
    联系人:杨小姐
    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

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