2SK2963
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型(L
2
-π -MOS
V)
2SK2963
DC-DC转换器,继电器驱动器和电机驱动器
应用
4 V栅极驱动
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
=
0.5
Ω
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
|
=
1.2 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
=
100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
=
100 V)
增强型: V
th
=
0.8至2.0V (Ⅴ
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安)
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
漏电流
漏极功耗
漏极功耗
(注2 )
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
100
100
±20
1
3
0.5
1.5
137
1
0.05
150
55
150
单位
V
V
V
A
脉冲(注1 )
JEDEC
W
W
mJ
A
mJ
°C
°C
2-5K1B
JEITA
东芝
单脉冲雪崩能量
(注3)
雪崩电流
重复雪崩能量(注4 )
通道温度
存储温度范围
重量0.05克(典型值)。
注1 :请在使用条件下的设备,该通道的温度低于150 ℃。
注2 :安装在陶瓷基板(25.4毫米
×
25.4 mm
×
0.8 mm)
注3 : V
DD
=
25 V ,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
221毫亨,R
G
=
25
Ω,
I
AR
=
1 A
注4 :重复评价:脉冲宽度有限的最高结温。
注5 :
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加和显著变化
在温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
此晶体管是静电敏感器件。
请谨慎操作。
热特性
特征
耐热性,信道至环境
符号
R
第(章-a)的
最大
250
单位
° C / W
1
2007-03-16
2SK2963
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型(L
2
-π -MOS
V)
2SK2963
DC-DC转换器,继电器驱动器和电机驱动器
应用
4 -V栅极驱动
导通电阻低的漏极 - 源极,R
DS ( ON)
=
0.5
Ω
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
|
=
1.2 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
=
100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
=
100 V)
增强型: V
th
=
0.8至2.0V (Ⅴ
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安)
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
漏电流
漏极功耗
漏极功耗
(注2 )
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
100
100
±20
1
3
0.5
1.5
137
1
0.05
150
55
150
单位
V
V
V
A
脉冲(注1 )
JEDEC
W
W
mJ
A
mJ
°C
°C
2-5K1B
JEITA
东芝
单脉冲雪崩能量
(注3)
雪崩电流
重复雪崩能量(注4 )
通道温度
存储温度范围
重量0.05克(典型值)。
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 :安装在一个陶瓷基板(25.4毫米
×
25.4 mm
×
0.8 mm)
注3 : V
DD
=
25 V ,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
221毫亨,R
G
=
25
Ω,
I
AR
=
1 A
注4 :重复评价:脉冲宽度有限的最高结温。
注5 :
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加和显著变化
在温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” / ''降级概念和可靠性
方法'')和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
此晶体管是静电感应装置。
小心轻放。
热特性
特征
耐热性,信道至环境
符号
R
第(章-a)的
最大
250
单位
° C / W
1
2008-03-06