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2SK2882
东芝场效应晶体管
硅N沟道MOS型(L
2
-π - MOSV )
2SK2882
斩波稳压器, DC-DC转换器和电机驱动器
应用
4 -V栅极驱动
低漏源导通电阻,R
DS ( ON)
= 0.08
(典型值)。
高正向转移导纳: | Y
fs
| = 17 S(典型值)。
低漏电流:I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
= 150 V)
增强型: V
th
= 0.8~2.0 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
单位:mm
绝对最大额定值
(大
=
25°C)
特征
漏源电压
漏,栅极电压(R
GS
=
20 kΩ)
栅源电压
漏电流
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
E
AS
I
AR
E
AR
T
ch
T
英镑
等级
150
150
±20
18
54
45
176
18
4.5
150
55~150
单位
V
V
V
A
W
mJ
A
mJ
°C
°C
脉冲(注1 )
漏极功耗(TC
=
25°C)
单脉冲雪崩能量
(注2 )
雪崩电流
重复雪崩能量(注3 )
通道温度
存储温度范围
JEDEC
JEITA
东芝
SC-67
2-10R1B
重1.9克(典型值)
注意:
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加而在显著变化
温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道到外壳
耐热性,信道至环境
符号
R
TH( CH-C )
R
第(章-a)的
最大
2.78
62.5
单位
° C / W
° C / W
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 : V
DD
=
50 V ,T
ch
=
25 ° C(初始) ,L
=
0.8 mH的,R
G
=
25
Ω,
I
AR
=
18 A
注3 :重复评价:脉冲宽度有限的最高结温
此晶体管是静电感应装置。请谨慎操作。
1
2006-11-20
2SK2882
电气特性
(大
=
25°C)
特征
栅极漏电流
排水截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
符号
I
GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
Y
fs
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
10 V
V
GS
0V
4.7
Ω
V
DS
=
10 V, V
GS
=
0 V,F
=
1兆赫
测试条件
V
GS
= ±16
V, V
DS
=
0 V
V
DS
=
150 V, V
GS
=
0 V
I
D
=
10毫安,V
GS
=
0 V
V
DS
=
10 V,I
D
=
1毫安
V
GS
=
4 V,I
D
=
9 A
V
GS
=
10 V,I
D
=
9 A
V
DS
=
10 V,I
D
=
9 A
150
0.8
10
V
OUT
24
ns
56
典型值。
0.09
0.08
17
1380
200
610
12
最大
±10
100
2.0
0.18
0.12
单位
μA
μA
V
V
Ω
S
pF
pF
pF
I
D
=
9 A
R
L
=
11
Ω
开启时间
开关时间
下降时间
t
on
t
f
V
DD
100 V
& LT ;
1%, t
w
=
10
μs
=
打开-O FF时间
总栅极电荷
(栅极 - 源极加上栅极 - 漏极)
栅极 - 源电荷
栅 - 漏极( “米勒” )费
t
关闭
130
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
120 V, V
GS
=
10 V,I
D
=
18 A
57
43
14
nC
nC
nC
源极 - 漏极额定值和特性
(大
=
25°C)
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
(注1 )
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
符号
I
DR
测试条件
典型值。
最大
18
单位
A
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
I
DR
=
18 A,V
GS
=
0 V
I
DR
=
18 A,V
GS
=
0 V
dI
DR
/ DT
=
100 A / μs的
185
1.3
54
1.7
A
V
ns
μC
记号
K2882
产品型号(或缩写代码)
LOT号
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
2
2006-11-20
2SK2882
I
D
– V
DS
20
8
6
16
10
3.5
12
3.2
8
VGS
=
3 V
4
4
3.8
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
50
常见的来源
Tc
=
25°C
脉冲测试
I
D
– V
DS
10
8
6
5
4.5
40
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
30
4
20
3.5
10
3
VGS
=
2.5 V
0
0
1
2
3
4
5
0
0
2
4
6
8
10
漏源电压
V
DS
(V)
漏源电压
V
DS
(V)
I
D
– V
GS
30
常见的来源
4
V
DS
– V
GS
常见的来源
Tc
=
25°C
V
DS
(V)
VDS
=
10 V
脉冲测试
3
漏电流I
D
(A)
脉冲测试
20
漏源电压
2
ID
=
18 A
Tc
= 55°C
10
100
25
1
9
3
0
0
1
2
3
4
5
0
0
2
4
6
8
10
12
栅源电压
V
GS
(V)
栅源电压
V
GS
(V)
Y
fs
– I
D
50
30
常见的来源
VDS
=
10 V
脉冲测试
(S)
Tc
= 55°C
25
1000
常见的来源
R
DS ( ON)
– I
D
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(mΩ)
500
300
Tc
=
25°C
脉冲测试
正向转移导纳
Y
fs
100
10
5
3
100
50
30
4
VGS
=
10 V
1
1
3
5
10
30
50
100
10
0.1
0.3 0.5
1
3
5
10
30
50
漏电流I
D
(A)
漏电流I
D
(A)
3
2006-11-20
2SK2882
R
DS ( ON)
TC =
200
常见的来源
160
ID
=
18 A
120
4.5
80
9
脉冲测试
100
常见的来源
50
30
Tc
=
25°C
脉冲测试
I
DR
– V
DS
漏源导通电阻
R
DS ( ON)
(mΩ)
反向漏电流I
DR
(A)
10
10
5
3
3
5
1
1
0
VGS
=
0,
1
V
40
0
80
40
0
40
80
120
160
0.4
0.8
1.2
1.6
壳温度( ° C)
漏源电压
V
DS
(V)
电容 - V
DS
5000
3000
西塞
4
V
th
TC =
常见的来源
VDS
=
10 V
ID
=
1毫安
脉冲测试
V
th
(V)
栅极阈值电压
(PF )
1000
500
300
科斯
3
电容C
2
100
50
30
CRSS
常见的来源
VGS
=
0 V
f
=
1兆赫
Tc
=
25°C
0.3 0.5
1
3
5
10
30 50
100
1
10
0.1
0
80
40
0
40
80
120
160
漏源电压
V
DS
(V)
壳温度( ° C)
P
D
TC =
60
160
动态输入/输出特性
40
常见的来源
ID
=
18 A
Tc
=
25°C
脉冲测试
120
VDS
80
30
VDD
=
120 V
10
20
30
漏极功耗P
D
(W)
40
漏源电压
V
DS
(V)
20
60
40
VGS
0
0
40
80
120
160
0
0
20
40
60
0
壳温度( ° C)
总栅极电荷Q
g
( NC )
4
2006-11-20
2SK2882
r
th
– t
w
3
归瞬态热阻抗
r
日(T )
/R
TH( CH-C )
1
0.5
0.3
=
0.5
0.2
0.1
0.1
0.05
0.03
0.01
0.01
0.005
0.003
10
μ
100
μ
1m
10 m
100 m
单脉冲
0.05
0.02
PDM
t
T
=
t/T
RTH ( CH-C )
=
2.78°C/W
1
10
脉冲宽度
t
w
(s)
安全工作区
100
50
30
ID MAX(连续) *
ID MAX(脉冲) *
200
E
AS
– T
ch
雪崩能量E
AS
(兆焦耳)
100
μs*
1毫秒*
160
漏电流I
D
(A)
10
5
3
直流操作
Tc
=
25°C
120
80
40
1
0.5
0.3
0
25
*:
单非重复性
脉冲锝
=
25°C
曲线必须降低
线性地增加
温度。
50
75
100
125
150
通道温度(初始)T
ch
(°C)
VDSS最大
30
100
300
0.1
1
3
10
漏源电压
V
DS
(V)
15 V
15
V
B
VDSS
I
AR
V
DD
V
DS
测试电路
R
G
=
25
Ω
V
DD
=
50 V,L
=
0.8 mH的
电波表
1
2
B
VDSS
Ε
AS
=
·L ·I·
B
2
VDSS
V
DD
5
2006-11-20
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    地址:深圳市福田区振兴路156号上步工业区405栋3层

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