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2SK2615
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型(L
-π - MOSV )
2
2SK2615
DC-DC转换器,继电器驱动器和电机驱动器
应用
低漏源导通电阻
高正向转移导纳
低漏电流
增强型
: R
DS ( ON)
= 0.23
(典型值)。
: |Y
fs
| = 2.0 S(典型值)。
单位:mm
: I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
= 60 V)
: V
th
= 0.8 2.0 V(V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
绝对最大额定值
( TA = 25°C )
特征
漏源电压
漏极 - 栅极电压(R
GS
= 20 k)
栅源电压
漏电流
漏极功耗
漏极功耗
通道温度
存储温度范围
(注2 )
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
T
ch
T
英镑
等级
60
60
±20
2
6
0.5
1.5
150
55
150
单位
V
V
V
A
W
W
°C
°C
脉冲(注1 )
JEDEC
JEITA
东芝
2-5K1B
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 :安装在陶瓷衬底(25.4毫米× 25.4毫米× 0.8mm)的
重量0.05克(典型值)。
注3 :
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加和显著变化
在温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道至
环境
符号
R
第(章-a)的
最大
250
单位
C / W
此晶体管是静电感应装置。
请谨慎操作。
记号
产品型号(或缩写代码)
注4 : A线到一个批号的右侧标识的指示
产品标签。
如果没有行: [铅] /包括> MCV
用线: [ [G ] /符合RoHS标准或[ G] ] / RoHS指令[铅]
请联系您的东芝销售代表了解详细信息,以
环境问题,如产品的RoHS指令的兼容性。
RoHS指令的指令欧洲议会的2002/95 / EC
与2003年1月27日,安理会对使用的限制
某些有害物质的电器和电子设备。
Z
LOT号
A
注4
1
2009-09-29
2SK2615
电气特性
( TA = 25°C )
特征
栅极漏电流
漏截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
符号
I
GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
|Y
fs
|
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
48 V, V
GS
= 10 V,I
D
= 2 A
V
DS
= 10 V, V
GS
= 0 V , F = 1兆赫
测试条件
V
GS
= ±16 V, V
DS
= 0 V
V
DS
= 60 V, V
GS
= 0 V
I
D
= 10 mA时, V
GS
= 0 V
V
DS
= 10 V,I
D
= 1毫安
VGS = 4 V, ID = 1
VGS = 10V , ID = 1
V
DS
= 10 V,I
D
= 1 A
60
0.8
1.0
典型值。
0.33
0.23
2.0
150
25
70
25
最大
±10
100
2.0
0.44
0.30
pF
单位
μA
μA
V
V
S
开启时间
开关时间
下降时间
30
ns
50
关断时间
总栅极电荷(栅源
加栅极 - 漏极)
栅极 - 源电荷
栅 - 漏极( “米勒” )费
150
6.0
4.6
1.4
nC
源极 - 漏极额定值和特性
( TA = 25°C )
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
(注1 )
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
I
DR
= 2 A,V
GS
= 0 V
I
DR
= 2 A,V
GS
= 0 V
dI
DR
/ DT = 50 A /
μs
测试条件
典型值。
100
40
最大
2
6
1.5
单位
A
A
V
ns
nC
2
2009-09-29
2SK2615
3
2009-09-29
2SK2615
4
2009-09-29
2SK2615
5
2009-09-29
2SK2615
东芝场效应晶体管硅N沟道MOS型(L
-π - MOSV )
2
2SK2615
DC-DC转换器,继电器驱动器和电机驱动器
应用
低漏源导通电阻
高正向转移导纳
低漏电流
增强型
: R
DS ( ON)
= 0.23
(典型值)。
: |Y
fs
| = 2.0 S(典型值)。
单位:mm
: I
DSS
= 100
μA
(最大值) (Ⅴ
DS
= 60 V)
: V
th
= 0.8~2.0 V (V
DS
= 10 V,I
D
= 1 mA)的
绝对最大额定值
( TA = 25°C )
特征
漏源电压
漏极 - 栅极电压(R
GS
= 20 k)
栅源电压
漏电流
漏极功耗
漏极功耗
通道温度
存储温度范围
(注2 )
DC
(注1 )
符号
V
DSS
V
DGR
V
GSS
I
D
I
DP
P
D
P
D
T
ch
T
英镑
等级
60
60
±20
2
6
0.5
1.5
150
55~150
单位
V
V
V
A
W
W
°C
°C
脉冲(注1 )
JEDEC
JEITA
东芝
2-5K1B
注1 :确保通道温度不超过150 ℃。
注2 :安装在陶瓷衬底(25.4毫米× 25.4毫米× 0.8mm)的
重量0.05克(典型值)。
注3 :
重负载下连续使用(如高温/电流/电压的施加和显著变化
在温度等)可能会导致此产品的可靠性降低显著即使工作条件下(即
工作温度/电流/电压等)的绝对最大额定值。请设计适当的
经审查东芝半导体可靠性手册( “注意事项” /降级的概念和可靠性
方法)和个人可靠性数据(即可靠性测试报告和估计的故障率,等)。
热特性
特征
耐热性,信道至
环境
符号
R
第(章-a)的
最大
250
单位
C / W
此晶体管是静电感应装置。
请谨慎操作。
记号
产品型号(或缩写代码)
Z
LOT号
A
A线指示
铅(Pb ) - 免费包或
铅(Pb ) -free完成。
1
2006-11-17
2SK2615
电气特性
( TA = 25°C )
特征
栅极漏电流
漏截止电流
漏源击穿电压
栅极阈值电压
漏源导通电阻
正向转移导纳
输入电容
反向传输电容
输出电容
上升时间
符号
I
GSS
I
DSS
V
( BR ) DSS
V
th
R
DS ( ON)
|Y
fs
|
C
国际空间站
C
RSS
C
OSS
t
r
t
on
t
f
t
关闭
Q
g
Q
gs
Q
gd
V
DD
48 V, V
GS
= 10 V,I
D
= 2 A
V
DS
= 10 V, V
GS
= 0 V , F = 1兆赫
测试条件
V
GS
= ±16 V, V
DS
= 0 V
V
DS
= 60 V, V
GS
= 0 V
I
D
= 10 mA时, V
GS
= 0 V
V
DS
= 10 V,I
D
= 1毫安
VGS = 4 V, ID = 1
VGS = 10V , ID = 1
V
DS
= 10 V,I
D
= 1 A
60
0.8
1.0
典型值。
0.33
0.23
2.0
150
25
70
25
最大
±10
100
2.0
0.44
0.30
pF
单位
μA
μA
V
V
S
开启时间
开关时间
下降时间
30
ns
50
关断时间
总栅极电荷(栅源
加栅极 - 漏极)
栅极 - 源电荷
栅 - 漏极( “米勒” )费
150
6.0
4.6
1.4
nC
源极 - 漏极额定值和特性
( TA = 25°C )
特征
连续漏电流反向
(注1 )
脉冲漏极电流反向
(注1 )
正向电压(二极管)
反向恢复时间
反向恢复电荷
符号
I
DR
I
DRP
V
DSF
t
rr
Q
rr
I
DR
= 2 A,V
GS
= 0 V
I
DR
= 2 A,V
GS
= 0 V
dI
DR
/ DT = 50 A /
μs
测试条件
典型值。
100
40
最大
2
6
1.5
单位
A
A
V
ns
nC
2
2006-11-17
2SK2615
3
2006-11-17
2SK2615
4
2006-11-17
2SK2615
5
2006-11-17
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