25LC080C 25LC320A
25LC080D 25LC640A
25LC160C 25LC128
25LC160D 25LC256
8K - 256K SPI串行EEPROM的高温系列数据手册
产品特点：
马克斯。时钟为5MHz
低功耗CMOS技术：
- 最大。写电流5mA电压为5.5V ， 5兆赫
- 读取电流5mA电压为5.5V ， 5兆赫
- 待机电流： 10
μA
在5.5V
1024× 8到32768 ×8位的组织
字节和页级写操作
自定时擦写周期（ 6 ms以下。 ）
块写保护：
- 无保护， 1/4，1/2或所有阵列
内置写保护：
- 电源开/关数据保护电路
- 写使能锁存器
- 写保护引脚
连续读
高可靠性：
- 耐力： >1M擦除/写周期
- 数据保存： > 200年
- ESD保护： > 4000V
温度范围支持：
- 扩展（H ） ：
-40 ° C至+ 150°C
封装是无铅和符合RoHS
描述：
微芯片技术公司25LCXXX *设备中旬
密度8至256千位串行电可擦除
PROM的（ EEPROM）中。该系列器件在
X8位的内存块，并支持串行外设
全部擦除接口（SPI）兼容的串行总线架构。
字节级和页面级的功能都支持。
所需的总线信号的时钟输入（SCK）加
在（SI）的单独的数据输入和数据输出（ SO）线。访问
该装置是通过在芯片的控制选择（CS）的
输入。
通信设备可以通过暂停
HOLD引脚（ HOLD ） 。当设备被暂停，跃迁
在其输入上系统蒸发散将被忽略，除
片选，允许主机优先级更高
中断。
该25LCXXX可在一个标准的8引脚SOIC
封装。封装是无铅的。
封装类型（不按比例）
SOIC
（ SN ）
CS
SO
WP
V
SS
1
2
3
4
8
7
6
5
V
CC
HOLD
SCK
SI
引脚功能表
名字
CS
SO
WP
V
SS
SI
SCK
HOLD
V
CC
功能
片选输入
串行数据输出
写保护
地
串行数据输入
串行时钟输入
HOLD输入
电源电压
* 25LCXXX使用本文档中作为25系列器件的通用零件编号。
2009年Microchip的科技公司
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DS22131C第1页
25LCXXX
1.0
电气特性
绝对最大额定值
()
V
CC
.............................................................................................................................................................................6.5V
所有输入和输出w.r.t. V
SS
..........................................................................................................-0.6V到V
CC
+1.0V
储存温度................................................................................................................................. -65℃ 155℃
在环境温度bias........................................................................................................... -40 ° C至150℃
(1)
所有的ESD保护pins.......................................................................................................................................... 4千伏
注1 ：
AEC -Q100可靠性测试的目的，在150 ℃下进行操作的设备为1000小时。任何设计，其中
在125 ° C和150 °C时总运行时间将大于1,000小时不保证与 -
Microchip的公司进行事先书面批准
注意：如果运行条件超过上述“绝对最大额定值”，可能会造成永久性损坏
装置。这只是额定和器件运行在超过或任何其他条件超出上述
本说明书中的操作列表表示是不是暗示。暴露在极限条件下的
在相当长时间内可能会影响器件的可靠性。
表1-1：
DC特性
扩展（H）：
分钟。
.7 V
CC
-0.3
-0.3
—
—
V
CC
-0.5
—
—
—
T
A
= -40 ° C至+ 150°C
马克斯。
V
CC
+1
0.3V
CC
0.2V
CC
0.4
0.2
—
±2
±2
7
单位
V
V
V
V
V
V
μA
μA
pF
V
CC
≥
2.7V
V
CC
＆ LT ; 2.7V
I
OL
= 2.1毫安
I
OL
= 1.0毫安
I
OH
= -400
μA
CS = V
CC
, V
IN
= V
SS或
V
CC
CS = V
CC
, V
OUT
= V
SS或
V
CC
T
A
= 25°C ， CLK = 1.0 MHz时，
V
CC
= 5.0V
（注）
V
CC
= 5.5V ; F
CLK
= 5.0 MHz的;
SO =打开
V
CC
= 2.5V ; F
CLK
= 3.0 MHz的;
SO =打开
V
CC
= 5.5V
V
CC
= 2.5V
CS = V
CC
= 5.5V ，输入连接到V
CC
or
V
SS
, 150°C
V
CC
= 2.5V至5.5V
测试条件
DC特性
参数。
号
D001
D002
D003
D004
D005
D006
D007
D008
D009
符号。
V
IH1
V
IL1
V
IL2
V
OL1
V
OL2
V
OH
I
LI
I
LO
C
INT
特征
高级别输入
电压
低电平输入
电压
低电平输出
电压
高电平的输出
电压
输入漏电流
输出漏
当前
内部电容
（所有输入和
输出）
D010
I
CC
读
工作电流
—
—
5
2.5
mA
mA
mA
mA
μA
D011
D012
注意：
I
CC
写
I
CCS
待机电流
—
—
—
5
3
10
此参数是周期性采样，而不是100 ％测试。
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25LCXXX
表1-2：
AC特性
扩展（H）：
分钟。
—
—
100
150
200
250
50
20
30
40
50
—
—
100
150
100
150
50
50
—
—
0
—
—
40
80
40
80
60
160
60
160
—
1,000,000
T
A
= -40 ° C至+ 150°C
马克斯。
5
3
—
—
—
—
—
—
—
—
—
2
2
—
—
—
—
—
—
100
160
—
80
160
—
—
—
—
—
—
—
—
6
—
单位
兆赫
兆赫
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
μs
μs
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ns
ms
V
CC
= 2.5V至5.5V
测试条件
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
—
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
（注1 ）
（注1 ）
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
—
—
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
（注1 ）
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V(Note
1)
2.5V
≤
VCC
≤
4.5V(Note
1)
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V(Note
1)
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V(Note
1)
4.5V
≤
VCC
≤
5.5V
2.5V
≤
VCC
＆ LT ;
4.5V
（注2 ）
AC特性
参数。
符号。
号
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
19
20
21
F
CLK
T
CSS
T
CSH
T
惩教署
TSU
T
HD
T
R
T
F
T
HI
T
LO
T
CLD
T
CLE
T
V
T
HO
T
DIS
T
HS
T
HH
T
HZ
T
HV
T
WC
—
特征
时钟频率
CS建立时间
CS保持时间
CS禁用时间
数据建立时间
数据保持时间
CLK上升时间
CLK下降时间
时钟高电平时间
时钟低电平时间
时钟延迟时间
时钟使能时间
时钟输出有效
低
输出保持时间
输出禁止时间
HOLD建立时间
HOLD保持时间
HOLD低到输出
高-Z
高举到输出
有效
内部写周期时间
耐力
东/西页模式， 25 ° C，V
CC
= 5.5V
（注3）
周期
注1 ：
此参数是周期性采样，而不是100 ％测试。
2:
T
WC
开始在CS的后一个有效的写序列的上升沿和结束该内部写入周期时
就完成了。
3:
该参数没有进行测试，但性能可以保证。对于一个具体的估计耐用
应用程序，请参考这可以从我们的网站上获得的Total Endurance模型：
www.microchip.com 。
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