100370低功耗通用多路分解器/解码器
1998年8月
100370
低功耗通用多路解复用器/解码器
概述
在100370通用多路分解器/解码器功能的EI
THER -1为-4的双解码器或1- - 8的单个解码器，去
有待施加到模式控制（M）的输入信号。
在双模式中，每一半具有一对低电平有效使能的
（ E）的投入。引脚分配为E的投入是这样的，在
1 - 8的模式，他们可以很容易地连接在一起，在对向
提供两个低电平有效使能（
1a
到E
1b
, E
2a
到E
2b
).
适用于辅助输入信号
a
, H
b
和H
c
DETERMINE
无论是输出为高电平或低电平有效。在
1 -的-4双模式地址输入是甲
0a
, A
1a
AND A
0b
,
A
1b
与一位
2a
未使用（即，向左打开，连接到V
EE
或低
信号应用） 。以1 - 8的模式中，地址输入是
A
0a
, A
1a
, A
2a
与一位
0b
AND A
1b
LOW或打开。所有输入都有
50 kΩ的下拉电阻。
特点
n
n
n
n
在100170的35 ％降低功耗
2000V的ESD保护
引脚/功能与100170兼容
电压补偿工作范围= -4.2V至-5.7V
逻辑符号
单8应用1的
1 -的-4双应用
DS100311-1
DS100311-4
引脚名称
A
na
, A
nb
E
na
, E
nb
M
H
a
H
b
H
c
Z
0
–Z
7
Z
na
, Z
nb
描述
地址输入
使能输入
模式控制输入
Z
0
–Z
3
(Z
0a
–Z
3a
)
极性选择输入
Z
4
–Z
7
(Z
0b
–Z
3b
)
极性选择输入
常见的极性
选择输入
单1 - 8
数据输出
双-1-的-4
数据输出
1998美国国家半导体公司
DS100311
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绝对最大额定值
（注3）
如果是用于军事/航空航天特定网络版设备是必需的，
请向美国国家半导体销售办事处/
经销商咨询具体可用性和规格。
上面这使用寿命可能被削弱。
-65 ° C至+ 150°C
存储温度（T
英镑
)
最高结温（T
J
)
陶瓷的
+175C
-7.0V至+ 0.5V
V
EE
端子电位接地引脚
输入电压（直流）
V
EE
至+ 0.5V
输出电流（ DC输出高电平）
-50毫安
ESD （注4 ）
≥2000V
推荐工作
条件
外壳温度（T
C
)
军事
电源电压（V
EE
)
-55 ° C至+ 125°C
-5.7V至-4.2V
注3 ：
绝对最大额定值是那些价值超过该DE-
副可能被损坏或有其使用寿命降低。功能操作
在这些条件下，是不是暗示。
注4 ：
ESD测试，符合MIL-STD- 883 ，方法3015 。
军用版
DC电气特性
V
EE
= -4.2V至-5.7V ，V
CC
= V
CCA
= GND ，T
C
= -55 ° C至+ 125°C
符号
V
OH
参数
输出高电压
1085
1830
V
OL
输出低电压
1830
1035
V
OHC
输出高电压
1085
1610
V
OLC
V
IH
V
IL
I
IL
I
IH
输出低电压
1555
输入高电压
输入低电压
输入低电平电流
输入高电流
240
A
25℃
+125C
340
I
EE
电源电流
105
36
A
mA
55C
-55℃
+125C
注5 ：
F100K 300系列冷温度测试是通过温度进行浸泡（以保证结温等于-55℃ ，然后立即测试
未经允许交界温度稳定，由于加热后的电耗。这提供了可被认为是最坏的情况“冷启动”的规格
条件在寒冷的气温。
注6 ：
屏幕的每个设备上，在-55℃测试了100 ％，+ 25℃和+ 125℃ ，子群1，2， 3，7，和8 。
注7 ：
样品进行测试（方法5005 ，表Ⅰ）的每个生产大量在-55℃ ， + 25℃ ，和+ 125℃ ，子群A 1 ，2，3 ，7，和8 。
注8 ：
通过将特定的输入条件和测试V保证
OH
/V
OL
.
民
1025
最大
870
870
1620
1555
单位
mV
mV
mV
mV
mV
mV
mV
mV
mV
mV
A
T
C
0℃至
+125C
55C
0℃至
+125C
55C
0℃至
+125C
55C
0℃至
+125C
55C
-55℃
+125C
-55℃
+125C
-55℃
+125C
条件
笔记
V
IN
= V
IH
（最大）
或V
IL
（分钟）
与装
50Ω至-2.0V
（注5 ， 6 ， 7 ）
V
IN
= V
IH
（分钟）
或V
IL
（最大）
与装
50Ω至-2.0V
（注5 ， 6 ， 7 ）
1165
1830
0.50
870
1475
保证高信号
所有的输入
保证低信号
所有的输入
V
EE
= 4.2V
V
IN
= V
IL
（分钟）
（注5 ，6，7 ，8）
（注5 ，6，7 ，8）
（注5 ， 6 ， 7 ）
V
EE
= 5.7V
V
IN
= V
IH
（最大）
输入OPEN
（注5 ， 6 ， 7 ）
（注5 ， 6 ， 7 ）
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4
AC电气特性
V
EE
= -4.2V至-5.7V ，V
CC
= V
CCA
= GND
符号
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
TLH
t
THL
参数
传播延迟
E
na
, E
nb
输出
传播延迟
A
na
, A
nb
输出
传播延迟
H
a
, H
b
, H
c
输出
传播延迟
M键输出
转换时间
20％至80 ％，80％至20％的
0.30
1.60
0.30
1.60
0.30
1.60
ns
（注12 ）
0.40
3.10
0.60
2.80
0.70
3.70
ns
0.30
2.60
0.40
2.40
0.40
2.40
ns
0.30
2.60
0.40
2.40
0.40
2.90
ns
（注9，10，
11)
T
C
= 55C
民
0.3
最大
2.40
T
C
= +25C
民
0.4
最大
2.20
T
C
= +125C
民
0.40
最大
2.70
ns
单位
条件
笔记
图1,2
注9 ：
F100K 300系列冷温度测试是通过浸泡的温度（以保证结温等于-55℃ ） ，然后立即进行测试
未经允许交界温度稳定，由于加热后的电耗。这提供了可被认为是最坏的情况“冷启动”的规格
条件在寒冷的气温。
注10 ：
屏幕上的每个设备上，在+ 25℃ ，温度只，小组A9测试100 ％ 。
注11 ：
样品在+ 25℃ ，分组A9，并在+ 125℃进行测试（方法5005 ，表Ⅰ）上的每个制作所很多，和-55℃温度范围，子群的A10和A11 。
注12 ：
在+ 25℃ ， + 125℃， -55℃的温度（设计特征数据）未测试。
测试电路
DS100311-7
注意事项：
V
CC
, V
CCA
= +2V, V
EE
= 2.5V
L 1和L =长度相等50Ω阻抗线路
R
T
= 50Ω端接器内部范围
去耦0.1 μF从GND到V
CC
和V
EE
所有未使用的输出负载是50Ω到GND
C
L
=夹具和杂散电容
≤
3 pF的
显示引脚数是flatpak ; DIP的看到逻辑符号
图1. AC测试电路
5
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