100336低功耗4级计数器/移位寄存器
1998年8月
100336
低功耗4级计数器/移位寄存器
概述
在100336既可作为模16向上/向下
计数器，或者4位双向移位寄存器。三种选择
(S
n
）的输入确定的操作模式，如图所示，在
选择功能表。两个计数使能（ CEP ， CET ）输入
提供了用于便于级联在多级计数器。
一个计数使能（ CET）输入同时也可作为串行数据
(D
0
）输入的升档操作。对于换档减速操作，D-
3
为串行数据输入。在计数操作终端
计数（ TC ）输出变为低电平时，计数器达到15
在计数/断模式的计数/模式或0（零） 。在
换档模式下， TC输出重复的Q
3
输出。该
该TC / Q的双重性
3
输出和D
0
/ CET输入
是指一个互连从一个阶段到下一个
更高的阶段作为链接，多级计数或
升档操作。个人预置（P
n
）输入用于
并行输入数据或预置在编程的计数器
梅布尔柜台申请。在主再高信号
设置（ MR）输入将覆盖所有其它输入和异步
清除该触发器。此外，一个同步清零是亲
vided ，以及一个补体功能，同步
nously反转触发器的内容。所有输入都有50
kΩ的上拉或下拉电阻。
特点
n
n
n
n
n
在100136的40 ％降低功耗
2000V的ESD保护
引脚/功能与100136兼容
电压补偿工作范围= -4.2V至-5.7V
标准微电路图纸
（SMD） 5962-9230601
逻辑符号
针
名字
CP
CEP
D
0
/ CET
S
0
–S
2
MR
DS100307-1
描述
时钟脉冲输入
计数使能并行输入（低电平有效）
串行数据输入/计数使能
涓流输入（低电平有效）
选择输入
主复位输入
预置输入
串行数据输入
终端计数输出
数据输出
补充数据输出
P
0
–P
3
D
3
TC
Q
0
–Q
3
Q
0
–Q
3
1998美国国家半导体公司
DS100307
www.national.com
绝对最大额定值
（注2 ）
如果是用于军事/航空航天特定网络版设备是必需的，
请向美国国家半导体销售办事处/
经销商咨询具体可用性和规格。
存储温度（T
英镑
)
最高结温（T
J
)
陶瓷的
V
EE
端子电位接地引脚
输入电压（直流）
输出电流（ DC输出高电平）
静电放电（注3）
-65 ° C至+ 150°C
+175C
-7.0V至+ 0.5V
V
EE
至+ 0.5V
-50毫安
≥2000V
推荐工作
条件
外壳温度（T
C
)
军事
电源电压（V
EE
)
-55 ° C至+ 125°C
-5.7V至-4.2V
注2 ：
绝对最大额定值是那些价值超过该DE-
副可能被损坏或有其使用寿命降低。功能操作
在这些条件下，是不是暗示。
注3 ：
ESD测试，符合MIL-STD- 883 ，方法3015 。
军用版
DC电气特性
V
EE
= -4.2V至-5.7V ，V
CC
= V
CCA
= GND ，T
符号
V
OH
参数
输出高电压
民
1025
1085
V
OL
输出低电压
C
= -55 ° C至+ 125°C
单位
mV
mV
mV
mV
mV
mV
T
C
0℃至
+125C
V
IN
= V
IH
（最大）
最大
870
870
条件
与装
50Ω至-2.0V
笔记
55C
0℃至
+125C
55C
0℃至
+125C
或V
白细胞介素（分钟）
（注4， 5，6 ）
1830 1620
1830 1555
V
OHC
输出高电压
1035
1085
V
IN
= V
IH
（分钟）
与装
50Ω至-2.0V
（注4， 5，6 ）
55C
0℃至
+125C
55C
-55℃
+125C
-55℃
+125C
-55℃
+125C
0℃至
+125C
55C
55C
to
+125C
或V
白细胞介素（最大）
V
OLC
输出低电压
1610
1555
mV
mV
mV
mV
A
V
IH
V
IL
I
IL
I
IH
输入高电压
输入低电压
输入低电平电流
输入高电流
1165
870
保证高信号
所有输入
保证低信号
所有输入
V
EE
= 4.2V
V
IN
= V
白细胞介素（分钟）
V
EE
= 5.7V
V
IN
= V
IH（ MAX）的
输入OPEN
V
EE
= -4.2V至-4.8V
V
EE
= -4.2V至-5.7V
（注4， 5，6， 7）
（注4， 5，6， 7）
（注4， 5，6 ）
1830 1475
0.50
240
340
A
A
mA
（注4， 5，6 ）
I
EE
电源电流
185
195
70
70
（注4， 5，6 ）
注4 ：
F100K 300系列冷温度测试是通过浸泡的温度（以保证结温等于-55℃ ） ，然后立即进行测试
未经允许的结温平抑因受热后电耗散。这提供了可被认为是最坏的情况“冷启动”的规格
条件在寒冷的气温。
注5 ：
屏幕的每个设备上，在-55℃测试了100 ％，+ 25℃和+ 125℃ ，子群1，2， 3，7，和8 。
注6 ：
样品测试（方法5005 ，表一）各生产大量在-55℃ ， + 25℃ ， + 125℃ ，群A1 ， 2 ， 3 ， 7 ，和8 。
注7 ：
通过应用指定的输入conditon和测试V保证
OH
/V
OL
.
5
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