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100313低功耗四核驱动
100313
1998年8月
100313
低功耗四核驱动
概述
的100313是具有两个或两个单片四驱动
NOR输出和公共启用。公共输入是
缓冲,以减少输入负载。如果D输入不是
所使用的使能可用于驱动16 50Ω线路。所有
输入具有50 kΩ的上拉和下拉电阻,所有输出都
缓冲。
特点
n
n
n
n
n
在100113的50 %降低功耗
2000V的ESD保护
引脚/功能与100113和100112兼容
电压补偿工作范围= -4.2V至-5.7V
标准微电路图纸
(SMD) 5962-9673201
逻辑符号
E
引脚名称
D
a
–D
d
O
na
–O
nd
O
na
–O
nd
数据输入
描述
使能输入
数据输出
补充数据输出
DS100297-3
连接图
24引脚DIP
24引脚Flatpak
DS100297-2
DS100297-1
1998美国国家半导体公司
DS100297
www.national.com
1
打印日期= 1998 / 08/31 PrintTime = 07 : 05 : 03 45028 ds100297启示录第1号
cmserv
证明
1
绝对最大额定值
(注1 )
如果是用于军事/航空航天特定网络版设备是必需的,
请向美国国家半导体销售办事处/
经销商咨询具体可用性和规格。
存储温度(T
英镑
)
最高结温(T
J
)
陶瓷的
V
EE
端子电位接地引脚
输入电压(直流)
输出电流( DC输出高电平)
静电放电(注2)
-65 ° C至+ 150°C
+175C
-7.0V至+ 0.5V
V
EE
至+ 0.5V
-50毫安
≥2000V
推荐工作
条件
外壳温度(T
C
)
军事
电源电压(V
EE
)
-55 ° C至+ 125°C
-5.7V至-4.2V
注1 :
绝对最大额定值是那些价值超过该DE-
副可能被损坏或有其使用寿命降低。功能操作
在这些条件下,是不是暗示。
注2 :
ESD测试,符合MIL-STD- 883 ,方法3015 。
军用版
DC电气特性
V
EE
= -4.2V至-5.7V ,V
CC
= V
CCA
= GND ,T
C
= -55 ° C至+ 125°C
符号
V
OH
V
OL
V
OHC
V
OLC
V
IH
V
IL
I
IL
I
IH
参数
输出高电压
输出低电压
输出高电压
输出低电压
输入高电压
输入低电压
输入低电平电流
输入高电流
数据
启用
数据
启用
I
EE
电源电流
65
350
240
500
340
20
mA
-55 ° C至+ 125°C
输入OPEN
(注3,4
5)
A
55C
A
0 ° C至+ 125°C
V
EE
= 5.7V
V
IN
= V
IH (最大)
(注3,4
5)
1165
1025
1085
最大
870
870
单位
mV
mV
mV
mV
mV
mV
1610
1555
870
mV
mV
mV
mV
A
T
C
0 ° C至+ 125°C
55C
0 ° C至+ 125°C
55C
0 ° C至+ 125°C
55C
0 ° C至+ 125°C
55C
-55 ° C至+ 125°C
-55 ° C至+ 125°C
-55 ° C至+ 125°C
保证高信号
所有输入
1830 1475
0.50
保证低信号
所有输入
V
EE
= 4.2V
V
IN
= V
白细胞介素(分钟)
(注3,4
5, 6)
(注3,4
5, 6)
(注3,4
5)
V
IN
= V
IH( MIN)的
或V
白细胞介素(最大)
与装
50Ω至-2.0V
(注3,4
5)
V
IN
= V
IH (最大)
或V
IL ( MIN )
与装
50Ω至-2.0V
(注3,4
5)
条件
笔记
1830 1620
1830 1555
1035
1085
注3 :
F100K 300系列冷温度测试是通过浸泡的温度(以保证结温等于-55℃ ) ,然后立即进行测试
未经允许交界温度稳定,由于加热后的电耗。这提供了可被认为是最坏的情况“冷启动”的规格
条件在寒冷的气温。
注4 :
屏幕的每个设备上,在-55℃测试了100 %,+ 25℃和+ 125℃ ,子群1,2, 3,7,和8 。
注5 :
样品进行测试(方法5005 ,表Ⅰ)的每个生产大量在-55℃ , + 25℃ ,和+ 125℃ ,子群A 1 ,2,3 ,7,和8 。
注6 :
通过将指定的输入条件和测试V保证
OH
/V
OL
.
www.national.com
2
打印日期= 1998 / 08/31 PrintTime = 07 : 05 : 03 45028 ds100297启示录第1号
cmserv
证明
2
军用版
AC电气特性
V
EE
= -4.2V至-5.7V ,V
CC
= V
CCA
= GND
符号
t
PLH
t
PHL
t
PLH
t
PHL
t
TLH
t
THL
参数
传播延迟
数据输出
传播延迟
使能到输出
转换时间
20%至80 %,80%至
20%
0.30
2.00
0.30
1.90
0.30
2.00
ns
(注10 )
0.50
2.40
0.60
2.30
0.60
2.70
ns
T
C
= 55C
0.30
最大
2.00
T
C
= +25C
0.30
最大
1.80
T
C
= +125C
0.30
最大
2.30
ns
(注7 ,
8, 10, 11)
单位
条件
笔记
图1,2
注7 :
F100K 300系列冷温度测试是通过浸泡的温度(以保证结温等于-55℃ ) ,然后立即进行测试
上电后。这提供了可以被认为是一个最坏的情况,在寒冷的气温“冷启动”的规格。
注8 :
屏幕上的每个设备在+ 25°C ,小组A9上测试100 % 。
注9 :
样品测试(方法5005 ,表一)各生产大量在+ 25°C ,小组A9 ,并在+ 125°C和-55℃的温度下,群A10和A11 。
注10 :
在+ 25℃ , + 125℃, -55℃的温度(设计特征数据)未测试。
注11 :
指定的传播延迟为单输出开关。延迟可能会发生变化高达150 ps的具有多个输出的开关。
测试电路
DS100297-5
注意事项:
V
CC
, V
CCA
= +2V, V
EE
= 2.5V.
L 1和L =长度相等50Ω阻抗线路。
R
T
= 50Ω端接器内部的范围。
去耦0.1 μF从GND到V
CC
和V
EE
.
所有未使用的输出负载是50Ω到GND。
C
L
=夹具和杂散电容
3 pF的。
显示引脚数是flatpak ;对于DIP看到逻辑符号。
图1. AC测试电路
3
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cmserv
证明
3
开关波形
EXTRACT
结束
DS100297-6
图2.传播延迟和转换时间
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4
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cmserv
证明
4
物理尺寸
英寸(毫米),除非另有说明
24引脚陶瓷双列直插式封装(D )
NS包装数J24E
24引脚四方Cerpak (F )
NS包装数W24B
5
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5
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联系人:刘先生
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