概述
静电容量变化百分比
影响电压 -
在电压变化的影响很小
对1类电介质，但确实影响的电容和
的第2类电介质损耗角正切。的应用
直流电压降低了该电容与耗散
因素，而AC电压的说明原因中的应用
sonable范围趋于增加两个电容和显示
sipation系数读数。如果有足够高的交流电压是
应用，最终会降低电容只是作为一个DC
电压。图2示出的交流电压的作用。
帽。改变与直流电压
AVX X7R T.C.
2.5
0
-2.5
-5
-7.5
-10
25%
50%
75%
％的额定电压
100%
帽。改变与交流电压
AVX X7R T.C.
静电容量变化百分比
50
图4
40
30
20
静电容量变化百分比
典型帽。随温度变化
AVX X7R T.C.
+20
+10
OVDC
0
-10
-20
-30
-55 -35
-15
+5
+25 +45 +65 +85 +105 +125
RVDC
10
0
12.5
25
37.5
伏， 1.0千赫
50
图2
电容器的规格指定的AC电压，在其上
度量（通常为0.5或1 VAC）和应用程序的
错误的电压可能会导致虚假的读数。图3给出了
损耗因数为各种交流电压系数
电压为1千赫。不同频率的应用
会影响百分比的变化与电压。
温度℃
图5
D.F.与交流电压测量
AVX X7R T.C.
10.0
曲线1 - 100 VDC额定电容
8.0曲线2 - 50 VDC额定电容
曲线3 - 25 VDC额定电容
6.0
4.0
2.0
0
.5
曲线3
曲线2
曲线1
1.0
1.5
2.0
2.5
AC测量伏， 1.0千赫
科幻gure 3
直流电压的施加的影响示于
图4.电压系数是更为明显
高K电介质。这些数字显示的房间温
perature条件。众所周知的组合特征
作为电压的温度范围，显示的效果
额定电压在工作温度范围内是
在图5中为军事BX特性所示。
影响时间 -
第2类瓷介电容器的变化
电容和损耗因数与时间以及温
perature ，电压和频率。这种随时间的变化是
被称为老化。老化是造成一个渐进的重新调整
陶瓷的晶体结构和方式产生了一个
指数损耗的电容和降低耗散
因素随时间的变化。老龄化率半的典型曲线
稳定陶瓷示于图6 。
如果2类瓷介电容器一直坐在那
搁板的一段时间，在上述其居里点加热
（125 ℃下4小时或150℃下进行
1
2
小时就足够了）的一部分
将脱年龄，并返回到它的初始电容和耗散
化系数读数。因为电容的变化
迅速，脱老化后立即将基本电容
测量通常称为一个时间段某处
去老化处理之后的时间。各个厂家使用
不同的时基，但最常用的是一天或
后24小时“最后的热。 ”改变的老化
曲线可以通过电压和其他的应用程序引起的
应力。由于DE-可能的电容变化
通过加热设备老化解释为什么电容变化
允许测试之后，如温度循环，水份
TURE性等， MIL规格。高的应用
电压，如介质耐电压也趋向
2
耗散因数百分比
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