- 陷阱产生的物理模型2016/4/4 20:40:48 2016/4/4 20:40:48
- 在MOS器件及IC中,AD73311AR栅极下面存在一薄层Si0。,即通称的栅氧(化层)。栅氧的漏电与栅氧质量关系极大,漏电增加到一定程度即可构成击穿,导致器件失效。当前由于VLS...[全文]
- 栅介质按照击穿时的情况2016/4/4 20:35:22 2016/4/4 20:35:22
- 栅介质按照击穿时的情况,通常可AD620AR分为以下两种。1.瞬时击穿电压一加上去,电场强度达到或超过该介质材料所能承受的临界场强,介质中流过的电流很大而立即击穿,这...[全文]
- 热载流子效应对器件性能的影响2016/4/4 19:16:25 2016/4/4 19:16:25
- 所谓热载流子是指其能量比费米能级大几个KT以上的载流子。这些载流子与晶格不处于热平衡状态,A7811当其能量达到或超过Si-Si0。界面势垒时(对电子注入为3.2eV,对空穴注入为4.5eV)便...[全文]
- 产品的可靠性是与许多因素有关的综合性质量指标2016/3/31 19:46:35 2016/3/31 19:46:35
- 产品的可靠性是与许多因素有关的综合性质量指标,最早的可靠性定义是由美国AGREE在1957年的报告中提出的,1966年美国的C2576GS又给出了传统的或经典的可靠性定义,即产品在规定的条件下和...[全文]
- 标签页窗口的打开2016/3/28 19:37:51 2016/3/28 19:37:51
- 标签页窗口的打开有两种方式:(1)在新建项目时LAN9220如果创建了-标签页,如SchematicCapture、PCBLayout、SourceCode(创建固件IP),则完成...[全文]
- Category(类)和Sub-category(子类)2016/3/27 18:31:42 2016/3/27 18:31:42
- Category(类)和Sub-category(子类)类和子类主要显示与D51A05D关键字有关的项目保存的类和子类,单击相应的类和子类可以快速定位搜索到的系统实例,主要的类和子...[全文]
- 增加的微处理器2016/3/26 21:44:52 2016/3/26 21:44:52
- 2008年7月,Proteus推出7.4版本。增加的微MAX706SESA处理器有dsPIC33FJ12GP201.dsPIC33FJ12GP202.dsPIC33FJ32GP202.dsPIC...[全文]
- 很强的数据处理能力2016/3/25 21:48:06 2016/3/25 21:48:06
- 很强的数据处理能力。由于计H0013算机具有存储量大、数据处理能力强的特点,在完成电路设计任务后,可以很方便地生成各种需要的数据文件和报表文件。随着电子技术的发展,需设计的电路越来...[全文]
- 微机级CAD/EDA软件水平的不断提高2016/3/25 21:46:40 2016/3/25 21:46:40
- 节省设计费用。搭试验HIN232EIBNZ-T电路费用高、效率低。采用计算机进行模拟验证就可以节省研制费用。特别要指出的是,伴随着计算机的迅速发展和普及,微机级CAD/EDA软件水平的不断提高,...[全文]
- Option Parameters:点击此按钮将打开选项参数设置对话框2016/3/24 20:30:26 2016/3/24 20:30:26
- >收敛情况的发生,MAX4242EUA+T如果没有特殊的要求,一般采用默认设置。协同仿真完成上述5个步骤后,在Simulink模型窗口选择执行Simulation—C...[全文]
- 选择电路特性Measurement2016/3/19 22:46:53 2016/3/19 22:46:53
- 在ParametricPlotter窗口中,进行参数扫描的第二项重要工作是指定要考虑电路中哪些“电路特性参数”受到元器件参数变化的影响。ACT-F512K8N-090P4EQ电路特性参数可以是电...[全文]
- 出错信息的显示方法三2016/3/16 21:08:06 2016/3/16 21:08:06
- 查看LogFile文件。K4D263238E-GC36在优化过程出现异常时,选择执行View-LogFile*Optimizer命令,出现的LogFile文件中同时记录有描述出错的信息,LogF...[全文]
- 电路特性分析监测符号(WATCHI)2016/3/10 22:40:37 2016/3/10 22:40:37
- PSpice还提供有另一种监测模式,可以监测DC、AC或者TRAN分析过程中是否出现节点电压超出设置的数值范围。监测符号(WATCHl)参数设置IRF510在电路图上放置图5-68所示WATCH...[全文]
- Probe的监测运行模式(Monitor Mode)2016/3/10 22:31:42 2016/3/10 22:31:42
- 监测运行模式下的波形显示在图5-1所示ProbeWindow对话框中,IRF3710若选中DisplayProbewindowwhenprofileis>duringsimulat...[全文]
- Performance Analysis状态下的信号波形显示2016/3/9 20:44:45 2016/3/9 20:44:45
- PerformanceAnalysis状态下的信号波形显示电路性能分析完毕以后,KIA78L09F-RT为了进一步分析和理解PerformanceAnalysis结果,有时需要同时...[全文]
- 继续进行电路性能分析的方法之二2016/3/9 20:34:08 2016/3/9 20:34:08
- 继续进行电路性能分析的方法之二:用户进行方式由用户直接完成分析任务的步骤如下。打开PerformanceAnalysis窗口在图中单击OK按钮,屏幕上出...[全文]
- Scale:该子框用于设置X轴的刻度方式2016/3/7 19:52:51 2016/3/7 19:52:51
- Scale:该子框用于设置X轴的刻度方式。Linear和Log分别代表均匀刻度坐标和对数坐标。Probe的默认设置为Linear。UseData:该项子DLW31SN...[全文]
- PSpice中的交流信号波形显示标示符 2016/3/6 20:47:30 2016/3/6 20:47:30
- 表5-1列出了这10种标示符代表的信号类型及符号名称。其中“符号名称”是指将EPM7064SLC44-10该符号放置于电路图时,在该符号旁边出现的字母名称。表5-1PSpice中的...[全文]
- robe调用和运行模式2016/3/5 19:52:10 2016/3/5 19:52:10
- Probe的调用方法有自动GMR10H150调用和手工调用等多种不同的模式,可以由用户设置确定。在Capture窗口中选择执行PSpice--EditSimulationProfi...[全文]
- 这样的MC分析将会给出正确的结果2016/3/5 19:44:50 2016/3/5 19:44:50
- 而PSpiceAD进行MonteCarlo分析时,产生正态分布随机数时将标准偏差取成了DEV容差值,GM7230-50H这样描述元器件数值分散性的范围实际为DEV设置值的3倍,远大于容差范围,导...[全文]
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