元器件布局、排列方向不合理
发布时间:2014/5/4 20:05:13 访问次数:907
(1)没有按照再流焊要求设计,AM29F800B-70ED造成焊接缺陷的概率增大
图5-6 (a)是推荐的布局。两个端头Chip元件的长轴应垂直于PCB的运动方向;SMD器件长轴平行于PCB的运动方向,再流焊时能够实现元件两焊端同步受热,同时到达熔化温度,降低产生立碑、移位、焊端脱离焊盘等焊接缺陷的概率。
图5-6 (b)是不推荐的布局。元件的布局和排列方向没有按照再流焊的要求设计,再流焊时由于元件两焊端不能同步受热,导致元件两焊端温度产生差异,增大了产生焊接缺陷的概率。
图5-6再流焊工艺元器件布局
(2)没有按照波峰焊要求设计,波峰焊时造成阴影效应
图5-7 (a)是推荐的排列方向,满足波峰焊的设计要求。两个端头片式元件的长轴垂直于焊裼流方向,SMD器件长轴平行于焊锡流方向,同尺寸两个端头的片式元件在平行于焊锡流方向排成一直线,不同尺寸的大小元件交错放置,小尺寸的元件排布在大元件的前方。
图5-7 (b)是不推荐的排列方向。因为没有按照波峰焊的要求设计,波峰焊时由于阴影效应,造成大量的漏焊、虚焊、桥接等焊接缺陷。
(1)没有按照再流焊要求设计,AM29F800B-70ED造成焊接缺陷的概率增大
图5-6 (a)是推荐的布局。两个端头Chip元件的长轴应垂直于PCB的运动方向;SMD器件长轴平行于PCB的运动方向,再流焊时能够实现元件两焊端同步受热,同时到达熔化温度,降低产生立碑、移位、焊端脱离焊盘等焊接缺陷的概率。
图5-6 (b)是不推荐的布局。元件的布局和排列方向没有按照再流焊的要求设计,再流焊时由于元件两焊端不能同步受热,导致元件两焊端温度产生差异,增大了产生焊接缺陷的概率。
图5-6再流焊工艺元器件布局
(2)没有按照波峰焊要求设计,波峰焊时造成阴影效应
图5-7 (a)是推荐的排列方向,满足波峰焊的设计要求。两个端头片式元件的长轴垂直于焊裼流方向,SMD器件长轴平行于焊锡流方向,同尺寸两个端头的片式元件在平行于焊锡流方向排成一直线,不同尺寸的大小元件交错放置,小尺寸的元件排布在大元件的前方。
图5-7 (b)是不推荐的排列方向。因为没有按照波峰焊的要求设计,波峰焊时由于阴影效应,造成大量的漏焊、虚焊、桥接等焊接缺陷。
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