基本门电路的逻辑功APL0598能测试。实验目的：测试与门、或门、非门、与非门、或非门与异或门的逻辑功能。熟悉扩展板与主电路板的连接与使用。

了解测试的方法与测试的原理。

      预习要求。了解74系列逻辑门电路的参数和引脚排列。熟悉数字电路实验箱的使用方法。复习rITL、CMOS门电路的工作原理。

      实验设备与器件，数字逻辑电路实验箱。数字逻辑电路实验箱扩展板。双踪示波器，数字万用表。相应74LS系列、CC4000系列或74HC系列芯片若干。

      实验原理。实验中用到的基本门电路的符号如图3.43所示。

      在要测试芯片的输入端用逻辑电平输出单元输入高低电平，然后使用逻辑电平显示单元显示其逻辑功能。

      实验内容，测试TTL门电路的逻辑功能：测试74LS08（与门）的逻辑功能。

测试74LS32（或门）的逻辑功能。测试74LS04（非门）的逻辑功能。测试74LSOO（与非门）的逻辑功能。测试74LS02（或非门）的逻辑功能。测试74LS86（异或门）的逻辑功能。

      测试CMOS门电路的逻辑功能：测试CC4081( 74HC08)（与门）的逻辑功能。测试CC4071( 74HC32)（或门）的逻辑功能。测试CC4069( 74HC04)（非门）的逻辑功能。测试CC4011( 74HCOO)（与非门）的逻辑功能。测试CC4001( 74HC02)（或非门）的逻辑功能。测试CC4030( 74HC86)（异或门）的逻辑功能。