电流型灯丝(电子管PL508)与电压型灯丝(多种电子管取平均)的电流百分比比较
发布时间:2013/7/16 19:54:40 访问次数:2364
测试了灯丝指定为串联供电的PL508。先是按其标称电流(300mA),AZ1117D-2.5测得相应的灯丝电压。再以此作为“6.3V”的名义电压,分别求得“6.OV”、“5.5V”等各个名义电压对应的实际电压值。然后,一边调节、一边测量灯丝电流,使灯丝电压达到所需的实际值。这样,就得到一组测试数据。最后,对所有测试数据作归一化处理,并与表4.1的平均数据作比较,从而得到了表4.2。
表4.2电流型灯丝(电子管PL508)与电压型灯丝(多种电子管取平均)的电流百分比比较
在PL508的测试中,或许还可以稍作改进。但不管怎么样,这种管子的串联供电式灯丝,显然与那些并联供电式灯丝存在着十分密切的关系。从中可看到,电子管的灯丝之间,并没有什么明显的差别;无论灯丝被指定为串联供电逐是并联供电,均是如此。只要灯丝个体能获得正确的功率,完全可以将供电方式不同的两种灯丝混起来使用。第7章的u式跟随器RIAA前置电路。
此外,还利用EL34作了进一步的测试。在灯丝电压标称值的士5%范围内,以灯丝电流的0.5%为步长间隔,对EL34进行多次测试。将测得的灯丝电压与灯丝电流画成关系曲线图,可看到测量结果的曲线,极为接近于一条直线。这表明,在这个很有限的灯丝电压范围内,灯丝表现为一个固定电阻。由于P=12R、P= V2/R,因此,可得出如下两个结论。
第一,相互并联起来的一组灯丝,应由输出电压固定的稳压电源(戴维南源)供电;串联起来的一组灯丝,则应由输出电流固定的稳流电源(诺顿源)供电。
第二,我们不要采用混合的电路拓扑-——灯丝既串又并的拓扑,否则,会引起供电差错。这是因为,此时各个灯丝看到的源,不再是理想的戴维南源或理想的诺顿源。例如,作为双三极管的6SN7,其两个三极管对应的两条灯丝线已在内部并联起来,因此,应当并且只能使用6.3V的戴维南源来供电。而12SN7双三极管(内部两条灯丝线是串联的),理想的灯丝供电方法则是采用300mA诺顿源。
在这里,还有一个值得注意的实例。曾利用电子管测试仪对一只双三极管进行测试,以6.3V并联方式给灯丝供电时,发现内部两只三极管的阳板特性匹配得非常好。但是,当灯丝串联起来供电,内部两只三极管就表现为失配——此时两只三极管的灯丝供电实际上也是失配的。因此,电子管经测试配对后,用于实际电路时,灯丝供电应尽可能接近于原来测试时的状况。
测试了灯丝指定为串联供电的PL508。先是按其标称电流(300mA),AZ1117D-2.5测得相应的灯丝电压。再以此作为“6.3V”的名义电压,分别求得“6.OV”、“5.5V”等各个名义电压对应的实际电压值。然后,一边调节、一边测量灯丝电流,使灯丝电压达到所需的实际值。这样,就得到一组测试数据。最后,对所有测试数据作归一化处理,并与表4.1的平均数据作比较,从而得到了表4.2。
表4.2电流型灯丝(电子管PL508)与电压型灯丝(多种电子管取平均)的电流百分比比较
在PL508的测试中,或许还可以稍作改进。但不管怎么样,这种管子的串联供电式灯丝,显然与那些并联供电式灯丝存在着十分密切的关系。从中可看到,电子管的灯丝之间,并没有什么明显的差别;无论灯丝被指定为串联供电逐是并联供电,均是如此。只要灯丝个体能获得正确的功率,完全可以将供电方式不同的两种灯丝混起来使用。第7章的u式跟随器RIAA前置电路。
此外,还利用EL34作了进一步的测试。在灯丝电压标称值的士5%范围内,以灯丝电流的0.5%为步长间隔,对EL34进行多次测试。将测得的灯丝电压与灯丝电流画成关系曲线图,可看到测量结果的曲线,极为接近于一条直线。这表明,在这个很有限的灯丝电压范围内,灯丝表现为一个固定电阻。由于P=12R、P= V2/R,因此,可得出如下两个结论。
第一,相互并联起来的一组灯丝,应由输出电压固定的稳压电源(戴维南源)供电;串联起来的一组灯丝,则应由输出电流固定的稳流电源(诺顿源)供电。
第二,我们不要采用混合的电路拓扑-——灯丝既串又并的拓扑,否则,会引起供电差错。这是因为,此时各个灯丝看到的源,不再是理想的戴维南源或理想的诺顿源。例如,作为双三极管的6SN7,其两个三极管对应的两条灯丝线已在内部并联起来,因此,应当并且只能使用6.3V的戴维南源来供电。而12SN7双三极管(内部两条灯丝线是串联的),理想的灯丝供电方法则是采用300mA诺顿源。
在这里,还有一个值得注意的实例。曾利用电子管测试仪对一只双三极管进行测试,以6.3V并联方式给灯丝供电时,发现内部两只三极管的阳板特性匹配得非常好。但是,当灯丝串联起来供电,内部两只三极管就表现为失配——此时两只三极管的灯丝供电实际上也是失配的。因此,电子管经测试配对后,用于实际电路时,灯丝供电应尽可能接近于原来测试时的状况。