高频用阻抗测试仪器MC6875L的种类.用于高频电路的LCR元件与低频元件不同，高频电路中将产生杂散电感，杂散电容以及由集肤效应引起的有效电阻等。
    测量高频元件时，阻抗的测量方法如表5.6所示。Q表是应用LC谐振原理制成的仪表。高频电桥称为辛克莱电桥，测量频率可达200MHz。高频LCR测量仪表与低频LCR测量仪表在原理上是相同的。阻抗测试仪除LCR参数测试仪的测量项目外，还可在不同频率下自动测量阻抗的绝对值和相位角（izi和么口）。图5. 99为一种阻抗测试仪的外观。下面着重说明Q表的原理及其测量方法。

    Q表的原理.Q表是利用高频下的LC串联谐振原理制成的测量仪表，可用来
测量线圈或电容器的Q值。此外还可用来测量电感和电容值。图5. 100为Q表的原理图。OSC为标准可变振荡器，A是热电式高频电流表，V是装有Q值标尺的电子电压表，C。是标准可变空气电容器。R。为无感电阻，振荡器的高频电流流过无感电阻并产生电压V．。测量端子a、a 7与被测线圈L。连接，由可变电容器C。进行调谐（调节C。使电子电压表V的指示值为最大）。
    从电子电压表V中读取C。的端子电压Vz，则Q值为V2与Vl的比值，即
    Q=鲁
    通常V．都调整为常值，因此V：的指示值即为Q值。图5. 101为一种Q表的外观。