(1)当测试PNP型晶体管时，测量项目及量程M25P40-VMN6TP选择开关设定在”PNP”的位置；测试NPN型晶体管时，则设置在“NPN”位置，如图3.29所示。
    (2)把电源开关拨到“ON”。
    (3)分别将被测晶体管的E、B、C极插入hFE插口对应的插孑L内。
    (4)读取显示的hFE值，如图3.30所示。一个良好的晶体管的hFE显示值在几十至几百之间，如图3. 28所示。如果显示“000”，则说明三极管已损坏。

          
    注意事项：
    (1)使用数字式万用表的hFE挡测量小功率晶体管电流放大系数时，因hFH插座提供的测试电压较低，基极电流又很小，被测管工作在低电压、小电流条件下，与典型的工作条件有差距，因此测量结果仅供参考。
    (2)数字式万用表电阻挡所提供的测试电流很小，测量二极管、晶体管正向电阻时，要比用模拟式万用表电阻挡的测量值高出几倍，甚至几十倍。因此应该用二极管挡去测量PN结的正向压降，以获得二极管质量的准确判断。