二次隔振系统的随机振动试验
发布时间:2012/10/26 20:49:07 访问次数:1386
①对频综器进行一次TLC2543CDW隔振的GQJ-0-0.25型歼强击机隔振器的特性详见5.6.5节。通过一次隔振后,将激励的外激励值进行衰减,从而使晶振隔振器的高频段输入值得到改善。
依此特点需指出的是,二次隔振对低频段没有好处,由于在频段比r≤√互时,隔振器(或系统)是放大的,所以对低频激励特别敏感的器件是不宜采用二次隔振的。
②二次隔振系统的结构安装示意图如图5-94所示,随机振动和冲击试验测点的传感器布局如图5-93所示。随机振动均方根值Grm。(g)按GJB 150.16-1986图26中15~1 000Hz,WO=0.0492/Hz的试验条件进行功能试验;将Wo扩大1.6倍进行耐久试验,其均方根加速度Grm。值见表5-17。
振动冲击结果简析如下。
(1)单个晶振隔振器的隔振效果。将带配重的晶振隔振器通过过滤板与振动台面刚性连接进行振动试验时,由图5-96中的测点6、测点4和测点5检测结果(见表5-17)可见,三轴向均有较好的隔振效果。
在进行X轴向功能试验时,XA4=1.083,XA4/XAi=0.169 2;
在进行X轴向耐久试验时,XB4-1.912,XB4/XBi=0.193 3;
在进行y轴向功能试验时,YA4-1.881,YA4/YAi=0.291 0;
在进行y轴向耐久试验时,YB4=2.218,YB4/YBi=0.224 7。
(2)二次隔振系统的隔振效果。由表5-17可见,X.K Z三轴向二次隔振均有较好的隔振效果,尽管在均方根加速度值上与一次隔振结果相比差别不是很大。其原因是在低频段(/<100 Hz)时,二次隔振系统有所放大;但在中高频段,二次隔振系统明显优于一次隔振系统,这恰恰是工程上需要的。大量试验结果表明(以图5-97、图5-98为例),晶振电性特性(相位噪声)变坏的振动频率在100Hz以上,在400Hz~2kHz间特别敏感。此时,二次隔振系统的晶振响应曲线(测点3)明显低于一次隔振时的晶振响应(测点4)。
某火控雷达采用本二次隔振系统后,在400Hz~2kH内,功能谱密度参数量级相差10-l~10-3,比采用其他隔振器时的相位噪声提高了-22dB以上,从而使其成为真正的超视距雷达。
①对频综器进行一次TLC2543CDW隔振的GQJ-0-0.25型歼强击机隔振器的特性详见5.6.5节。通过一次隔振后,将激励的外激励值进行衰减,从而使晶振隔振器的高频段输入值得到改善。
依此特点需指出的是,二次隔振对低频段没有好处,由于在频段比r≤√互时,隔振器(或系统)是放大的,所以对低频激励特别敏感的器件是不宜采用二次隔振的。
②二次隔振系统的结构安装示意图如图5-94所示,随机振动和冲击试验测点的传感器布局如图5-93所示。随机振动均方根值Grm。(g)按GJB 150.16-1986图26中15~1 000Hz,WO=0.0492/Hz的试验条件进行功能试验;将Wo扩大1.6倍进行耐久试验,其均方根加速度Grm。值见表5-17。
振动冲击结果简析如下。
(1)单个晶振隔振器的隔振效果。将带配重的晶振隔振器通过过滤板与振动台面刚性连接进行振动试验时,由图5-96中的测点6、测点4和测点5检测结果(见表5-17)可见,三轴向均有较好的隔振效果。
在进行X轴向功能试验时,XA4=1.083,XA4/XAi=0.169 2;
在进行X轴向耐久试验时,XB4-1.912,XB4/XBi=0.193 3;
在进行y轴向功能试验时,YA4-1.881,YA4/YAi=0.291 0;
在进行y轴向耐久试验时,YB4=2.218,YB4/YBi=0.224 7。
(2)二次隔振系统的隔振效果。由表5-17可见,X.K Z三轴向二次隔振均有较好的隔振效果,尽管在均方根加速度值上与一次隔振结果相比差别不是很大。其原因是在低频段(/<100 Hz)时,二次隔振系统有所放大;但在中高频段,二次隔振系统明显优于一次隔振系统,这恰恰是工程上需要的。大量试验结果表明(以图5-97、图5-98为例),晶振电性特性(相位噪声)变坏的振动频率在100Hz以上,在400Hz~2kHz间特别敏感。此时,二次隔振系统的晶振响应曲线(测点3)明显低于一次隔振时的晶振响应(测点4)。
某火控雷达采用本二次隔振系统后,在400Hz~2kH内,功能谱密度参数量级相差10-l~10-3,比采用其他隔振器时的相位噪声提高了-22dB以上,从而使其成为真正的超视距雷达。
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