Wave Scan也是一种用于非矢AT697-DKIT量测试的新技术，它把频率为0.3～1MHz、幅度大约是1/3V的射频信号加到螺线形的回路中激发磁场，这个磁场感应器放在器件的上方。于是被测器件中产生交流电压，再用测试仪内的仪器把它测量出来。现在有4种不同尺寸的磁场感应器可用于测试不同封装和类型的器件。
    在磁场感应器固定装置上装有一块多路解编器，在进行一个项目的测试时确定一个感应器激发磁场。Wave Scan能测试器件多达每块板255个。
    在测试仪上还装有一块发射接收电路板，板上有射频号发射器和接收器，它接到多路解编器电路板，在测试固定装置中设有缓冲器和放大器，如图15.88所示。

            
    在测试仪软件的控制下，Wave Scan的工作过程为：多路解码器选择磁场感应器准备激磁；在器件的被测试引出线和器件的地线（或者Ve。）之间送进直流偏置电流，使该引出线的保护二板管进入导通状态。发射接收电路板把射频信号（频率为0.3MHz或者1MHz）送到选定的磁场感应器；磁场感应器激发磁场，在被测试器件中感应微小的交流电压；发射接收电路板依次测量器件上每条引出线的交流电压。
    如果器件中的电路是闭合的，那么测试仪就把叠加在直流偏置电压上的交流电压测量出来。如果在器件和测试探针之间存在开路，那么就没有交流信号，这样，如果电路中有断路现象便可检查出来。
    Wave Scan的特点为：
    ●能测试有散热封装、有接地的器件，因为Wave有很强的穿透性；
    ●能测试没有引脚支架的器件，如BGA、PGA等；
    ●能查出器件的接地线与信号线是否接错或开路；
    ●编程速度快；
    ●运行可靠（因力IC上磁场分布比较均匀），信噪比高(100:1)。
    但Wave Scan不能检查出编程有错误的器件以及器件内部的故障。
    上述三种非向量测试方法在实际应用时可作为互补，即对于一个具体的ASIC器件来说，总可以采用其中一个方法测试是否合格，通常Delta Scan法可以用于首选，它具有相当高的故障覆盖率，并用于不同种的器件，此外附加硬件相对较少。然后再采用WaveScan进一步对尚不明确的器件进行测试，而对于非硅器件则可以采用Frame Scan方法进行测试。
    总之，对于lC器件的测试，非向量测试技术有较高的缺陷诊断覆盖率，但非向量测试技术不能测量器件内部功能，也不能识别编程的错误，它与ICT结合在一起能实现对SMA焊接质量的全面测试。