X射线检测仪的工作原理
发布时间:2012/8/11 19:31:35 访问次数:9257
X射线检测仪是根据X射线穿透被测物12061A330KAT2A时的强度衰减来进行厚度测量的，即测量被测材料所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用操作系统转换为直观的实际厚度信号显示给操作人员。
X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测材料所吸收的X射线强度有关。为了确定一个在系统量程范围内的给定厚度所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任意特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。
在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开时，X射线将从X射线源和探头之间的被测材料中通过，被测材料将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测材料的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。
简而言之，射线在穿透一定的物质时，其强度呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为
I=TrxEXP(-U，X)
式中Tr一初始射线强度；
I一穿过物体后的射线强度；
U一衰减系数；
X-射线穿过的厚度。
对于不同昀材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言，密度越大的材料其U值就越大。例如，铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，对射线的阻挡能力最强，因此在核技术实验中用做防护材料。
X射线检测仪是利用X射线的穿透能力，在工业上一般用于检测一些人眼所看不到的物品内部伤断缺陷或电路的短路故障等。例如，检测多层基板内部电路有无短路，X射线可穿透基板的表面到达基板的内部电路，在X射线发生器对面有个数据接收器，自动将接收到的辐射转换成电信号并传到扩张板中，通过专用的软件将图像在显示器中显示出来，这样操作人员就可以观测到基板的内部结构。
X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测材料所吸收的X射线强度有关。为了确定一个在系统量程范围内的给定厚度所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任意特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。
在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开时，X射线将从X射线源和探头之间的被测材料中通过，被测材料将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测材料的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。
简而言之，射线在穿透一定的物质时，其强度呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为
I=TrxEXP(-U，X)
式中Tr一初始射线强度；
I一穿过物体后的射线强度；
U一衰减系数；
X-射线穿过的厚度。
对于不同昀材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言，密度越大的材料其U值就越大。例如，铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，对射线的阻挡能力最强，因此在核技术实验中用做防护材料。
X射线检测仪是利用X射线的穿透能力，在工业上一般用于检测一些人眼所看不到的物品内部伤断缺陷或电路的短路故障等。例如，检测多层基板内部电路有无短路，X射线可穿透基板的表面到达基板的内部电路，在X射线发生器对面有个数据接收器，自动将接收到的辐射转换成电信号并传到扩张板中，通过专用的软件将图像在显示器中显示出来，这样操作人员就可以观测到基板的内部结构。
X射线检测仪是根据X射线穿透被测物12061A330KAT2A时的强度衰减来进行厚度测量的，即测量被测材料所吸收的X射线量，根据该X射线的能量值，确定被测件的厚度。由X射线探测头将接收到的信号转换为电信号，经过前置放大器放大，再由专用操作系统转换为直观的实际厚度信号显示给操作人员。
X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测材料所吸收的X射线强度有关。为了确定一个在系统量程范围内的给定厚度所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任意特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。
在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开时，X射线将从X射线源和探头之间的被测材料中通过，被测材料将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测材料的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。
简而言之，射线在穿透一定的物质时，其强度呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为
I=TrxEXP(-U，X)
式中Tr一初始射线强度；
I一穿过物体后的射线强度；
U一衰减系数；
X-射线穿过的厚度。
对于不同昀材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言，密度越大的材料其U值就越大。例如，铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，对射线的阻挡能力最强，因此在核技术实验中用做防护材料。
X射线检测仪是利用X射线的穿透能力，在工业上一般用于检测一些人眼所看不到的物品内部伤断缺陷或电路的短路故障等。例如，检测多层基板内部电路有无短路，X射线可穿透基板的表面到达基板的内部电路，在X射线发生器对面有个数据接收器，自动将接收到的辐射转换成电信号并传到扩张板中，通过专用的软件将图像在显示器中显示出来，这样操作人员就可以观测到基板的内部结构。
X射线源辐射强度的大小，与X射线管的发射强度和被测材料所吸收的X射线强度有关。为了确定一个在系统量程范围内的给定厚度所需的X射线能量值，可利用M215型X射线检测仪进行校准。在检测任意特殊厚度时，系统将设定X射线的能量值，使检测能够顺利完成。
在厚度一定的情况下，X射线的能量值为常量。当安全快门打开时，X射线将从X射线源和探头之间的被测材料中通过，被测材料将一部分能量吸收，剩余的X射线被位于X射线源正上方的探头接收，探头将所接收的X射线转换为与之大小相关的输出电压。如果改变被测材料的厚度，则所吸收的X射线量也将改变，这将使探头所接收的X射线量发生变化，检测信号也随之发生相应的变化。
简而言之，射线在穿透一定的物质时，其强度呈指数规律衰减，这和半衰期的公式相似，其公式为
I=TrxEXP(-U，X)
式中Tr一初始射线强度；
I一穿过物体后的射线强度；
U一衰减系数；
X-射线穿过的厚度。
对于不同昀材料，其U值是不同的，因此使用射线测量厚度时必须知道被测材料的U值。一般而言，密度越大的材料其U值就越大。例如，铅的密度在天然非放射性元素中的密度是最大的，对射线的阻挡能力最强，因此在核技术实验中用做防护材料。
X射线检测仪是利用X射线的穿透能力，在工业上一般用于检测一些人眼所看不到的物品内部伤断缺陷或电路的短路故障等。例如，检测多层基板内部电路有无短路，X射线可穿透基板的表面到达基板的内部电路，在X射线发生器对面有个数据接收器，自动将接收到的辐射转换成电信号并传到扩张板中，通过专用的软件将图像在显示器中显示出来，这样操作人员就可以观测到基板的内部结构。
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