高频用阻抗测试仪器的种类
发布时间:2012/7/27 20:11:29 访问次数:1621
用于高频电路的LCR元件与UF4007低频元件不同，高频电路中将产生杂散电感，杂散电容以及由集肤效应引起的有效电阻等。
测量高频元件时，阻抗的测量方法如表5.6所示。Q表是应用LC谐振原理制成的仪表。高频电桥称为辛克莱电桥，测量频率可达200MHz。高频LCR测量仪表与低频LCR测量仪表在原理上是相同的。阻抗测试仪除LCR参数测试仪的测量项目外，还可在不同频率下自动测量阻抗的绝对值和相位角（izi和么口）。图5.99为一种阻抗测试仪的外观。下面着重说明Q表的原理及其测量方法。
用于高频电路的LCR元件与UF4007低频元件不同，高频电路中将产生杂散电感，杂散电容以及由集肤效应引起的有效电阻等。
测量高频元件时，阻抗的测量方法如表5.6所示。Q表是应用LC谐振原理制成的仪表。高频电桥称为辛克莱电桥，测量频率可达200MHz。高频LCR测量仪表与低频LCR测量仪表在原理上是相同的。阻抗测试仪除LCR参数测试仪的测量项目外，还可在不同频率下自动测量阻抗的绝对值和相位角（izi和么口）。图5.99为一种阻抗测试仪的外观。下面着重说明Q表的原理及其测量方法。
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