这里主要研究数字集成电路的检测方法。判别数字集成电路的好坏，可以采用逻辑功能检测法和置位功能检测法，必要时还需采用参数测试法。ACT4065SH-T    
    1)逻辑功能检测法
    器件逻辑功能的正确标准是：在规定的电源电压范围内、输出端不接任何负载的惰况下，电路的输出与输入之间的关系应该完全符合真值表或逻辑功能表所具有的逻辑关系，且输端电平应符合规定值。根据测试条件的不同，逻辑功能检测法可分为如下五种方法。
    (1)数字集成电路测试仪检测法
    用数字集成电路测试仪检测数字集成电路器件的逻辑功能是最为简便迅速的方法，尤其适用于数量多、种类多的场合。
    (2)电子技术实验仪检测法
    具体操作步骤如下所述。
    ①先给器件加上规定的电源电压。
    ②将“电平开关”接至有关输入端以提供逻辑电平。
    ③将输出端接至“电平显示器”，使输出端电平能显示出来。
    ④若有时钟脉冲．则将“单次脉冲”输出端接至器件的时钟输入端。
    ⑤按器件真值表的输入电平拨动“电平开关”，从“显示器”显示的逻辑电平观察是否符合真值表的规定。
    (3)逻辑电平笔测试法
    具体操作步骤如下所述。
    ①接好被测器件的电源电压。
    ②将逻辑电子笔的“类型选择开关”拨到被测器件相应的类型(TTL或CMOS)。接好逻辑笔电源，注意接地良好。
    ③在器件的输入端按真值表接以相应的电平，观察逻辑笔上的显示是否符合真值表的规定。
    (4)万用表法
    具体操作步骤如下所述。
    在没有以上几种仪器的情况下，用万用表也可以测试器件的逻辑功能。
    ①把器件插入简易测诚板的插座里，并接好电源电压。

　　    ②按真值表规定的输入电平，将各输入端分别按地（为逻辑0）或接电源（为逻辑1），分别测量输出电压值，判断器件的逻辑功能是否正常。
    ③对于时钟输入端可用“先接地，瞬间接电源”的方法来实现。
    (5)示波器法
    具体操作．步骤如下所述。
    ①接好被测器件的电源电压；
    ②在输入端分别输入合适的脉冲信号；
    ③用双踪示波器的YA、Y。两通道同时观察输入、输出波形，并根据波形分析逻辑关系是否正确就可以判断集成电路的好坏。必要时还可测出被测信号的幅度、脉宽、占空比、前后沿时间、最高触发频率和抗干扰能力等脉冲参数。
    2)置位检测法
    对各种触发器和规模较大的数字集成电路可采用置位法进行检测。
    这些集成电路大多数具有置位功能，如D触发器、JK触发器的置o和置1功能；计数器的复位（清零）功能；译码驱动器的点亮测试功能、无效零消隐功能；编码器的选通输入功能等。若这些置位功能正常，则集成电路是正常的。
    置位检测时，需向被测集成电路提供合适的电源电压，按要求向集成电路置位端提供合适的o、1电平，用LED显示器或逻辑笔检测其能否正常置位，从而进行正确判断。使用置位法时要注意：集成电路输入端虚按真值表正确处置；检测CMOS电路时，空余输入端要特别处理好。
    在应用中，应根据具体使用场合的需要来选择测试方法和测试项目。在数字逻辑电路实验中，可行的方法是用简单的逻辑功能检测法确定器件的逻辑功能是否正常。但有些情况还要对器件的参数进行测试，对于某些器件的使用场合有特殊要求的，还需进行某些专项测试。