2.介质损耗
    在介质损耗方面，又有漏电损耗、电离损耗、极化损耗三种形式。
    (1)漏电损耗。简单地讲，漏电损耗就是介质漏龟电流引起的一种电能损耗。
    电容器极板之间装入绝缘介质的目的就是使两极板相互绝缘，避免两极板上电荷相互移动。但任何绝缘介质都不是理想的绝缘体，总会有极少部分电荷通过介质在两极板间移动，任何电容器都存在这种现象。当移动的电荷极少，不影响电容器正常工作时，就说介质的绝缘电阻很大，是好电容器。当移动的电荷增加至一定量时，两极板间便形成微小电流，这种情况称为介质漏电，这时的电流称为漏电流。介质漏电就造成电能损耗。
    以图2-11为例说明。如果电容器漏电，A极板上负电荷会通过介质移动到B极板上与正电荷中和，从而造成A极板负电荷和B极板上正电荷的数量减少，这就损耗了电荷。这种因绝缘介质漏电产生的损耗，就称为漏电损耗。

               
    电容器的漏电损耗与介质的材料电极特性和厚度有关，还与工作频率、环境温度有关。一般介质材料越薄、工作频率与环境温度越高，漏电损耗就越大；反之，则越小。可想而知，一个本可以储存电的容器，如果出现了漏电损耗，它就不能再储电，就失去了应有的功能，甚至可说它已经损坏了。
    电容器的漏电损耗大（即Ps大，tgδ大），将有极大害处。漏电流过大会使电容器温度过高而膨胀爆炸。另外，漏电流过大还会使电路负载过重损坏电源。
    (2)电离损耗。一个电容器的极板边缘存在着空气隙，空气是绝缘强度最差的介质，一旦极板气隙之间的电压超过电离电压，极板边缘就有电荷分离出来，穿过绝缘介质最薄弱的空气隙发生放电，形成电能损耗，这就是电离损耗。这时损耗角的正切值tgδ与外加电压有关，电压低于电离电压时，tgδ几乎不变或变化很小，电容器基本不产生电离损耗，一旦外加电压大于电离电压，tgδ值就急剧增大，电离损耗遗速变大。
    上述表明，在应用电容器时，外加电压不能超过它的额定耐压。否则，将增加电容器的电离损耗，还会产生短路故障。
    (3)极化损耗。电容器在导通交流电时，还存在一种由于介质内偶极子旋转产生的损耗，称为极化损耗。下面介绍极化损耗，也可从中进一步理解电容器损耗角正切值tgδ的含义。
    极化损耗一般是由于介质极化比较缓慢造成的，介质极化一般有三种形式：离子式、电子式及偶极子极化。离子式、电子式极化损耗功率很小，可以忽略不计。偶极子极化对功率的损耗随温度和频率变化较大，明显改变着电容器损耗角正切值tgδ。要了解偶极子极化损耗，应先了解偶极子。
    电解电容器正、负极间介质浸过相对介电常数s很高的电解液。其中，每个电解液分子可看做一个电偶极子。偶极子在没有外电场作用时，排列杂乱无章，如图2-12(a)所示。当外加电压时，每个偶极子都要受到一个电场力矩的作用，并随外电场转变方向，使所有偶极子作定向排列，偶极子的正极向左，负极向右，如图2-12 (b)所示。由于分子热运动，各偶极子排列并不十分整齐，但大致相同，如图2-12 (c)所示。于是介质左边表面就产生大量正电荷，右边表面就产生大量负电荷，如图2-12 (d)所示。介质中偶极子的取向越一致，两边缘产生的电荷就越多，这种现象就叫介质极化现象。
    电容器工作交流电时，介质便处在交变电场中，内部偶极子的方向将随交变电场变化而发生旋转，偶极子旋转要克服偶极子的相互吸引力做功，要消耗能量，产生电容器的损耗功率P_S。
    交流电频率较低时，偶极子旋转较慢，克服吸引力做劝少，消耗的能量就少；当交流电频率较高时，偶极子旋转就快，克服吸引力做功就多，消耗的能量就多。如图2-12所示的是直流电源，它只表示交流电的一瞬间，这一点读者应加以理解。

     
    上述表明，电容器产生的损耗功率Ps与交流电的频率直接有关，交流电频率较低时，损耗的功率P_S小，损耗角正切值tgδ就小；交流电频率较高时，Ps大，损耗角正切值tgδ就大。反过来讲，电容器损耗角正切值tgδ大时，电容器的损耗就大。
    可见，电容器的损耗并不是一个定值，不仅与电容器的质量有关，还与工作频率、工作电压、工作温度等因素有关。但不管是何种形式，何种原因引起的损耗，有一点是一致的，即都要损耗功率PS，表明tgδ=Ps/P_W概括了电容器各方面的损耗，因此常用损耗角正切值tgδ来衡量电容器的损耗。
    tgδ值大的电容器，往往高频特性差，工作的温度升高很快，也很高，严重时还会产生曝炸。tgδ值大的电容器，即使耐压、电容均正常，在电路中也不会正常工作。在业余条件下，电容器的tgδ值无法测量。

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