位置:51电子网 » 技术资料 » 其它综合

硅-硅直接键合机制

发布时间:2008/6/5 0:00:00 访问次数:564

对于抛光的硅片的表面,一般存在10~60å的本征氧化层,并且在亲水活化处理的过程中,表面也会由于强氧化剂的作用生成一层本征氧化层,所以抛光硅片与氧化硅片的键合过程基本相似。硅-硅直接键合的机理目前已进行了较多的研究[4~8],整个键合机理可用三个或四个阶段的键合过程进行描述,这里用四个键合阶段对键合机理进行描述:

第一阶段,从室温到200,两硅片表面吸附oh团,在相互接触区产生h键,随着温度的升高,oh团因得到热能而增大迁移率,表面h键形成的几率也随着增大,因而键合的硅片的相互作用力增大,硅片表面产生弹性变形,键合面积增加,键合强度也增加。

第二阶段,200

对于抛光的硅片的表面,一般存在10~60å的本征氧化层,并且在亲水活化处理的过程中,表面也会由于强氧化剂的作用生成一层本征氧化层,所以抛光硅片与氧化硅片的键合过程基本相似。硅-硅直接键合的机理目前已进行了较多的研究[4~8],整个键合机理可用三个或四个阶段的键合过程进行描述,这里用四个键合阶段对键合机理进行描述:

第一阶段,从室温到200,两硅片表面吸附oh团,在相互接触区产生h键,随着温度的升高,oh团因得到热能而增大迁移率,表面h键形成的几率也随着增大,因而键合的硅片的相互作用力增大,硅片表面产生弹性变形,键合面积增加,键合强度也增加。

第二阶段,200

-->
相关IC型号

热门点击

 

推荐技术资料

罗盘误差及补偿
    造成罗盘误差的主要因素有传感器误差、其他磁材料干扰等。... [详细]
版权所有:51dzw.COM
深圳服务热线:13751165337  13692101218
粤ICP备09112631号-6(miitbeian.gov.cn)
公网安备44030402000607
深圳市碧威特网络技术有限公司
付款方式


 复制成功!