集成电路是由多个元器件组成的，因此不能采用简单的方法来判断其好坏，一般可用下列几种方法进行质量判定。

　　(1)电阻测试法

　　电阻测试适用于非在路集成电路的测试，对于在路集成电路，如有必要，也可从电路上拆下后再进行测试。

　　电阻测试法实际上是一个元器件的质量比较法。首先测试质量完好的单个集成电路各引脚对其接地端的阻值并做好记录，然后测试待测单个集成电路各引脚对其接地端的阻值，将测试结果进行比较，以判断被测集成电路的好坏。

　　这种方法一般可准确地判断集成电路质量的好坏，但应注意的是，这种比较不是阻值数值要绝对相等，而是要求变化规律相同，阻值的差异对半导体器件来说是正常的。例如，某型号集成电路阻值标准数据为2.6kω、4.8kω、1.2kω和9.6kω，而被检测集成电路测得的阻值为2.8kω、5.1kω、1.6kω和10.8kω，虽然两者的阻值数值有差异，但由于变化规律是相同的，应该认为该集成电路是好的。如果测得其中某引脚阻值出现反向变化，则可怀疑该集成电路有问题。

　　测量阻值可用万用表进行，万用表应置于rx1k挡比较安全。

　　(2)在路集成电路的质量判断
在路集成电路的质量判断常采用在路电压差别法。当集成电路供电端电压正常时，集成电路各引脚电压有两种情况:一是有的引脚电压数据取决于外部条件及外接元件;二是有的引脚电压数据是由集成电路内部给出的。如果在路测得的电压与标准数据的规定有较大的差异，应首先确认外部条件及外接元件是否正常，在排出外部条件及外接元件有质量问题后，大多数情况下可确认集成电路已损坏。

　　在路电压的标准数据有两种，若图纸上只给出一种，常为静态电压，即通电后无输入信号时测得的电压值;如图纸中给出两个电压数据，则括号内的为动态输入电压，即通电后有输入信号时测得的电压值。