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基于JTAG的ARM芯片系统调试

发布时间:2007/4/23 0:00:00 访问次数:749

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基于JTAG的ARM芯片系统调试

1引言
32位ARM处理器是英国先进RISC机器公司(ADVANCED RISC Machines,ARM)的产品。随着嵌入式处理器性能的逐步提高,运算速度越来越快、处理的数据量越来越大,传统的调试方法如ROM驻留监控程序以及串口调试工具已经不能满足要求。ARM处理器采用一种基于JTAG的ARM的内核调试通道,它具有典型的ICE功能,基于ARM的包含有Embedded ICE(嵌入式在线ACTION GROUP,简称JTAG)开发的针对PCB的“标准测试访问接口和边界扫描结构”的标准。这个标准是ARM处理器调试的基础。
2.1硬件电路
JTAG边界扫描测试接口的一般结构[2]如图1所示。

S3C44B0X,是国内应用广泛的基于ARM7TDMI内核的SoC。其调试系统的硬件结构如图2:

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2.1硬件电路
JTAG边界扫描测试接口的一般结构[2]如图1所示。

S3C44B0X,是国内应用广泛的基于ARM7TDMI内核的SoC。其调试系统的硬件结构如图2:

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