传统测试系统通常将一些台式仪器或特定仪器模块组装在机架上，构成“机架堆叠”式测试系统，这种测试系统的局限性在于它们一般用来对一个元件、一个模块或一个子系统进行测试，而没有足够的能力支持对大范围的产品进行测试，最多只能对一个相近系列的产品进行测试。随着产品生命周期的缩短和制造成本的不断下降，专用测试系统变得越来越不经济。为了降低产品的测试成本，测试系统现在必须能够测试多种产品，以确保每种产品都能有一个合理的投资回报(roi)。本文从解决灵活性、可伸缩和高效测试等问题入手，介绍既能经济地满足今天的要求，又能保护未来投资的合成测试系统方法。

　　今天的测试与测量提供商面临着与日俱增的压力，它们需要为客户提供成本更为经济，而且能支持迅速加快的产品周期的解决方案。产生这些压力的部分原因是：

1. 产品的总体生命周期和生产成本持续下降，而测试成本却往往不能同步降低。

2. 制造商不断追求更高的生产能力。

3. 产品复杂性的提高、技术和产品集成度的快速进步不断对生产测试设备提出更高要求。产品在生产过程中也经历比以往更多的改进，这也相应推动测试系统在生产周期中进行改进。

4. 在产品生命周期较长的情况下，测试设备的老化过时问题严重。

5. 产品性能的提高推动了对执行速度更快、并能在运行过程中工作的质量更高的系统级校准和自测试的需求。

　　传统测试系统提供商通常将一些台式仪器或特定仪器模块组装在机架上，并用相应的电缆和连接器将它们与被测产品连接起来。然后再增加软件，对这些仪器的内嵌功能进行调用。这种方法被称为“机架堆叠”(rack-and-stack)式测试系统开发方式。表1列举了一些传统仪器的例子，图1给出了一个简单的机架堆叠式射频(rf)测试系统。

　　台式仪器是为在实验室环境下使用而设计的，它们可以独立进行测试，但供应商也提供有机架安装套件，方便将仪器集成到测试系统中使用。仪器模块包含了与台式仪器相同的核心硬件，但不包用户接口、供电或其它辅助硬件部分。仪器模块插入一块背板之中，依靠一台远程计算机来提供用户界面和控制功能。迄今为止，采用这些部件的传统测试系统还是最为普遍的，但它们在解决测试和测量行业目前面临的挑战时遇到很大困难。

　　这些机架堆叠式解决方案常常受到其设计的限制。它们一般用来对一个元件、一个模块或一个子系统进行测试，而没有足够的能力支持对大范围的产品进行测试，最多只能对一个相近系列的产品进行测试。随着产品生命周期的缩短和制造成本的不断下降，专用测试系统变得越来越不经济。为了降低产品的测试成本，测试系统现在必须能够测试多种产品，以确保每种产品都能有一个合理的投资回报(roi)。

　　许多基于台式仪器的系统使用通用仪器总( gpibieee-488)等低速通信总线，这大大限制了它们的测试吞吐率。不过，这还只是问题的一部分。由于系统集成商通常只能使用生产时构建在各仪器内部的功能和测试算法，这也带来了一个很大的问题。在许多场合下，为测试而进行的产品配置仅仅允许优化测试算法以提高速度和性能，但对于传统仪器，系统集成商根本无法接触到这个层面。

　　在许多情况下，产品中的信号波形或数据协议将随时间发生变化，这可能导致需要改变测试系统中的一台甚至所有仪器。图1所示的传统射频测试系统就体现了这一点。如果原来的产品或被测单元(uut)工作频率在3ghz以下，测试系统集成商通常将选择覆盖这一频率范围的频谱分析仪、合成器、信号发生器或矢量信号分析仪，以降低初始采购成本，在测试系统竞标中尤其如此。如果下一代产品的工作频率改到了6ghz范围或更高，就需要对只能覆盖3ghz频率范围的所有仪器进行重新购置和集成，尽管它们的处理能力和瞬时带宽或许仍然足够应付升级产品的测试工作。这导致了巨大的一次性成本，并使针对特定单一产品的测试系统泛滥成灾。

所有这些问题都影响了军事、航天和商业领域的测试系统应用，但仪器老化过时问题给军事应用带来的挑战最为严重。因为军用设备的工作年限很长，军用测试系统的使用期限常常在20年以上。系统老化过时的原因大多是由于测试软件是围绕仪器特定的硬件能力而编写的，而且软件驱动程序相对特殊，使得改进提高还不如彻底地重新设计。替换老