电容通常随所施加的电压而变化.因此，完整的表征需要了解在最大额定电压下的电容。

使用4200A-CVIV开关提供的偏置功能以及在Clarius中测量CISS 、COSS和CRSS的。

CVIV可以很容易地在I-V和C-V测量值之间切换，它还可以将C-V测量值移动到任何设备终端，而无需重新连接或抬起探针。

所有SMU和CVU连接都是通过4200A-CVIV进行连接的。CVIV可以有一个4210-CVU或4215-CVU，最多可以有四个SMU连接到一个设备上。

使用4200A-CVIV提供了以下优点：

内置项目可测量高达200V和400V的CISS、 CRSS和COSS。

4200A-CVIV开关支持自动测量。不需要重新连接设备或电缆。

开路和短路的C-V补偿。

MOSFET与CVIV的连接。对于这个特定的应用程序，至少需要三个SMU和一个CVU来完成测试。

显示了封装的MOSFET的实际CVIV连接。请注意，CVIV 上的所有通道都是打开的。4200A-CVIV 的四个通道将根据每次测试的配置进行配置，因此每次测试都不需要电缆重新连接。

此外，方案利用先进的跳频技术，允许用户预设特定跳频点，主动避开可能引发共振的频率区域，从而避免共振导致的机械振动、噪音增大以及潜在设备损伤，确保系统运行平顺且无故障风险。

仪器的直流输出电压如何从200V 加到400V，进行漏极上更高电压的测量，这有利于测试更高功率的半导体，如GaN器件。该功能已在Clarius V1.6以上的版本添加并更新。

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