低功耗状态测试套件提供一套专用测试方法来验证L1低功耗状态功能
发布时间:2024/1/15 8:47:13 访问次数:52
多锁相环(MPLL)、前馈均衡(FFE)、连续时间线性均衡(CTLE)和可编程决策反馈均衡(DFE)等技术来提高高损耗和不稳定通道中的信号完整性。
PHY支持自动测试设备(ATE)的测试功能,小面积和可选的引线键合封装等功能降低了整体BOM成本。
此外,Synopsys用于PCIe架构的验证IP(VIP)与System Verilog源代码测试套件结合在一起,可以支持低功耗场景的验证。该VIP提供控制方式进出和切换低功耗子状态。它监控低功耗的状态,同时测试套件提供了一套专用的测试方法来验证L1低功耗状态的功能。
LTM4675包括EEPROM、功率MOSFET、电感器和支持性组件。该器件具快速、双模拟控制环路和精准的混合信号电路。LTM4675与更大型封装(16mmx16mm BGA)、更大功率的双通道13A LTM4676A是完全引脚兼容的,从而无需更改布局,以便系统设计师在原型设计阶段可容易地于器件之间进行开关切换。
集成电路的引脚排列次序有一定的规律,一般是从外壳顶部向下看,从左下角按逆时针方向读数,其中第一脚附近一般有参考标志,如凹槽、色点等。常见集成电路的外形和封装形式。
单列直插集成电路是它的引脚只有一列,且引脚为直的(不是弯曲的).这类集成电路的引脚分布规律。
金属膜技术制造,为照明镇流器和LED驱动、工业逆变器和转换器、电池管理系统和医疗设备中的高压电路提供了经过验证的可靠性。在这些应用里,电阻可替换较大外形尺寸的器件、相似外形尺寸的多个电阻和引线电阻,从而节省空间,简化设计。
多锁相环(MPLL)、前馈均衡(FFE)、连续时间线性均衡(CTLE)和可编程决策反馈均衡(DFE)等技术来提高高损耗和不稳定通道中的信号完整性。
PHY支持自动测试设备(ATE)的测试功能,小面积和可选的引线键合封装等功能降低了整体BOM成本。
此外,Synopsys用于PCIe架构的验证IP(VIP)与System Verilog源代码测试套件结合在一起,可以支持低功耗场景的验证。该VIP提供控制方式进出和切换低功耗子状态。它监控低功耗的状态,同时测试套件提供了一套专用的测试方法来验证L1低功耗状态的功能。
LTM4675包括EEPROM、功率MOSFET、电感器和支持性组件。该器件具快速、双模拟控制环路和精准的混合信号电路。LTM4675与更大型封装(16mmx16mm BGA)、更大功率的双通道13A LTM4676A是完全引脚兼容的,从而无需更改布局,以便系统设计师在原型设计阶段可容易地于器件之间进行开关切换。
集成电路的引脚排列次序有一定的规律,一般是从外壳顶部向下看,从左下角按逆时针方向读数,其中第一脚附近一般有参考标志,如凹槽、色点等。常见集成电路的外形和封装形式。
单列直插集成电路是它的引脚只有一列,且引脚为直的(不是弯曲的).这类集成电路的引脚分布规律。
金属膜技术制造,为照明镇流器和LED驱动、工业逆变器和转换器、电池管理系统和医疗设备中的高压电路提供了经过验证的可靠性。在这些应用里,电阻可替换较大外形尺寸的器件、相似外形尺寸的多个电阻和引线电阻,从而节省空间,简化设计。