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滤波电感与去耦电容特征阻抗类似于MM测试中的电流限制

发布时间:2023/11/28 22:12:30 访问次数:75

对于高速双极型IC,HBM测试中吸收的最大能量是1μJ;2kV人体模式下,如果电容小于0.02μF,C1>>C0二极管会产生动作。

实际应用中,通常不允许使用更大的去耦电容。浪涌电流的要求会限制电容尺寸。

去耦电容与电源间的引线总是存在一定量的电感,通常也会接入一个滤波电感。

这种配置下,最大浪涌电流取决于滤波电感与去耦电容的特征阻抗,这个阻抗类似于MM测试中的电流限制。

箝位电压从第一次击穿变化到突变稳定后的导通电压,为保证箝位时关闭正常的工作条件,设计的箝位电压一般要略高于IC的绝对最大电压。

机器模式(MM)下将电荷储存在金属物体,机器模式中的放电只受内部连接电感的限制。

电源去耦电容会影响箝位操作,传递到去耦电容的电荷会产生高于IC绝对最大值的电压,但还不足以使箝位电路导通。这时的电容相当于一个能源,迅速向器件注入能量。

对于一个给定的去耦电容,ESD测试中初始电压的变化遵循电荷守恒原理。

双极型IC的箝位电路类似于在受保护核电路中提供一个受冲击时击穿的部件,箝位晶体管的过压导致集电极-基极之间的雪崩电流,发射结的正向偏置会进一步提高集电极电流,导致一个“突变”过程。

ESD测试中一般使用两种充电模式,人体模式(HBM)下将电荷储存在人体内(100pF等效电容),通过人体皮肤放电(1.5kΩ等效电阻)。

合理选择去耦电容的大小有助于在电路中提高IC的保护,降低电容储能,使ESD电荷不会产生击穿箝位电路的电压。

http://zpfykj.51dzw.com深圳市展鹏富裕科技有限公司


对于高速双极型IC,HBM测试中吸收的最大能量是1μJ;2kV人体模式下,如果电容小于0.02μF,C1>>C0二极管会产生动作。

实际应用中,通常不允许使用更大的去耦电容。浪涌电流的要求会限制电容尺寸。

去耦电容与电源间的引线总是存在一定量的电感,通常也会接入一个滤波电感。

这种配置下,最大浪涌电流取决于滤波电感与去耦电容的特征阻抗,这个阻抗类似于MM测试中的电流限制。

箝位电压从第一次击穿变化到突变稳定后的导通电压,为保证箝位时关闭正常的工作条件,设计的箝位电压一般要略高于IC的绝对最大电压。

机器模式(MM)下将电荷储存在金属物体,机器模式中的放电只受内部连接电感的限制。

电源去耦电容会影响箝位操作,传递到去耦电容的电荷会产生高于IC绝对最大值的电压,但还不足以使箝位电路导通。这时的电容相当于一个能源,迅速向器件注入能量。

对于一个给定的去耦电容,ESD测试中初始电压的变化遵循电荷守恒原理。

双极型IC的箝位电路类似于在受保护核电路中提供一个受冲击时击穿的部件,箝位晶体管的过压导致集电极-基极之间的雪崩电流,发射结的正向偏置会进一步提高集电极电流,导致一个“突变”过程。

ESD测试中一般使用两种充电模式,人体模式(HBM)下将电荷储存在人体内(100pF等效电容),通过人体皮肤放电(1.5kΩ等效电阻)。

合理选择去耦电容的大小有助于在电路中提高IC的保护,降低电容储能,使ESD电荷不会产生击穿箝位电路的电压。

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