任何类型的APU启动程序都是完全相似的,并且都是通过飞机驾驶舱内APU控制面板上的主控电门开始的。当电门置于启动位,进气门打开,启动机带转发动机到燃油和点火系统能够投入工作的转速,开始点火和点燃后发动机开始加速到稳态工作转速。

氢可以以原子态HO存在,也可以以氢分子H2的形式存在,还有诸如正电性的氢或质H+、氢氧基团OH、水合氢离子H30+、氧化氢离子OH。

当硅氢键断裂后形成界面态nt,氮化栅氧层中的H与N之间的相互作用也值得关注。

在NBTI的应力期间,因为具有较低的激活能,可动氢离子更可能与si―N键中的N结合而不是si―o键。因此,在氮化的氧化层中更易形成固定正电荷g,导致NBTI退化的增加。

合理进行电路版图设计及热设计,尽可能增加条宽,降低电流密度,采用合适的金属化图形,使有源器件分散。增大芯片面积,合理选择封装形式,必要时加装散热器防止热不均匀性和降低芯片温度,减小热阻,有利于散热。

当达到某一百分比转速时(典型数值是35%至50%),启动机被离心电门自动断开,启动机停止工作。

互连线因电迁移而产生小丘堆积,引起相邻两条互连线短路,在微波器件和VLSI中尤为多见。铝在发射极末端堆积,可引起EB结短路。多层布线的上下层铝条间也会因电迁移发生短路等。

在金属化层跨越台阶处或有伤痕处,应力集中,电流密度大,可因电迁移而发生断开。铝条也可因水汽作用产生电化学腐蚀而开路。

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