美国国家半导体公司(National Semiconductor Corporation, 简称国半)推出两款全新高速模拟接口芯片——SCAN921025H串行器和SCAN921226H解串器，从而扩展其低电压差分信号传输(LVDS)芯片系列。这两款器件可以输出高达10位的数字数据，而且可以利用底板或电缆的点至点差分互连线路将数据传送出去，操作频率高达20至80MHz，数据传送速度可达200Mbps至800Mbps。

　　这款串行/解串器芯片组还添加了内置式自我测试(BIST)及JTAG两个测试功能，可工作在高达125℃的恶劣应用环境，例如汽车及工厂环境。

　　国半的高速LVDS SCAN921025H串行器可将10位宽的并行LVCMOS/LVTTL数据总线转为附有嵌入时钟的高速串行数据流。SCAN921226H解串器收到LVDS串行数据流之后，便会将之转回10位宽、并附有时钟的并行数据流。

　　这款串行/解串器芯片组支持IEEE 1149.1标准的边界扫描测试功能。按照IEEE 1149.1标准的规定，系统必须设有标准的测试访问端口(TAP)，以便设计或测试工程师可以通过这个端口进入底板或电缆的互连线路验证差分信号的完整性。这款芯片组也设有按照不同速度进行的内置式自我测试(at-speed BIST)模式，确保工程师可在不同速度下验证串行器及解串器之间的数据传输通道。

　　SCAN921025H串行器及SCAN921226H解串器芯片组采用小型FBGA-49封装，采购以1,000颗为单位，每颗售价5.90美元(仅供参考)。

　 （转自　国际电子商情）