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嵌入式IDE控制器产品级的器件进行实地插损测量

发布时间:2022/5/15 12:35:54 访问次数:224

超低功耗Eclipse II™  技术的桥接控制器。集成的IDE和PCI控制器实现了Intel® PXA系列处理器、IDE微型硬盘和PCI设备之间的高能效连接。

Intel PXA处理器在以电池为电源的便携式应用领域中倍受业内追捧。

嵌入式IDE控制器能与PIO模式(0,1,2,3或4)下的IDE硬盘进行数据交换。

通过在器件中加入缓冲区,QuickLogic可以实现高达13MB/s的数据传输。IDE的时序和寄存器都完全由QuickLogic所提供的桥接控制器控制,这进一步降低了处理器总线利用率,从而提高了能耗效率。

ABS1143接线柱件号,在接线柱上安装接线片时,每个接线片的接触面应当与其他接线片保持平行,不能出现变形或在接线柱相邻位置出现相碰现象,确保装配安全可靠。

全新8位微控制器采用绿色TQFP-48和TQFP-64封装。XC164SM和XC164LM的第一批器件现在已经开始生产,采用低成本绿色TPFQ-64封装。

ABS1143接线柱使用环境温度是―55℃(-67°F)~210℃(410°F)

l l L-分流器类型代码;A、B或C

i L―――螺栓编码:02或05

L―――――类型代码:A=有螺帽分流器和没有柱状螺栓和护盖

R=有螺帽、弹簧垫片、分流器和没有标准件号  柱状螺栓和护盖

将测器件接入即可(如电容接在夹具芯线和地之间,电感串接在芯线中,三端口器件按功能接入等),归一化水平线和频谱轨迹线的差值即为器件接入产生的插损值。该方法也可以用于校准衰减器、小功率放大器等。

使用特制的探头在线对板级或产品级的器件进行实地插损测量,如板载滤波器的真实插损等。

通过插损测试方法,我们可以方便快捷地验证理论设计与工程实践之间的差异并及时进行设计改善,为我们EMC研发活动提供强有力的过程数据支持。


超低功耗Eclipse II™  技术的桥接控制器。集成的IDE和PCI控制器实现了Intel® A系列处理器、IDE微型硬盘和PCI设备之间的高能效连接。

Intel A处理器在以电池为电源的便携式应用领域中倍受业内追捧。

嵌入式IDE控制器能与PIO模式(0,1,2,3或4)下的IDE硬盘进行数据交换。

通过在器件中加入缓冲区,QuickLogic可以实现高达13MB/s的数据传输。IDE的时序和寄存器都完全由QuickLogic所提供的桥接控制器控制,这进一步降低了处理器总线利用率,从而提高了能耗效率。

ABS1143接线柱件号,在接线柱上安装接线片时,每个接线片的接触面应当与其他接线片保持平行,不能出现变形或在接线柱相邻位置出现相碰现象,确保装配安全可靠。

全新8位微控制器采用绿色TQFP-48和TQFP-64封装。XC164SM和XC164LM的第一批器件现在已经开始生产,采用低成本绿色TPFQ-64封装。

ABS1143接线柱使用环境温度是―55℃(-67°F)~210℃(410°F)

l l L-分流器类型代码;A、B或C

i L―――螺栓编码:02或05

L―――――类型代码:A=有螺帽分流器和没有柱状螺栓和护盖

R=有螺帽、弹簧垫片、分流器和没有标准件号  柱状螺栓和护盖

将测器件接入即可(如电容接在夹具芯线和地之间,电感串接在芯线中,三端口器件按功能接入等),归一化水平线和频谱轨迹线的差值即为器件接入产生的插损值。该方法也可以用于校准衰减器、小功率放大器等。

使用特制的探头在线对板级或产品级的器件进行实地插损测量,如板载滤波器的真实插损等。

通过插损测试方法,我们可以方便快捷地验证理论设计与工程实践之间的差异并及时进行设计改善,为我们EMC研发活动提供强有力的过程数据支持。


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