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电阻测量方式辅助LCD没有显示延承HPM6700高性能特点

发布时间:2022/5/9 17:42:44 访问次数:671

NZC光敏可控硅的VO4257及VO4258系列中的器件还具有以下优势:能够在交流电相位周期内的任何时间触发,并在下一次过零时关闭。这可使NZC器件成为众多相位调制应用的理想选择。

HPM6300延承了HPM6700高性能的特点,在成本,功耗,DSP等各个方面做了进一步的优化,并推出了QFP封装,进一步扩大先楫MCU产品在市场上的覆盖范围。整个HPM6000家族有很好的兼容性和扩展性,客户可以据他们的应用需求在HPM6000家族中选出最优的选择。

要让所需的传感器或信号达到最佳效果,必须保证信号链中的所有元件配合出色。

传统的离散时间ADC(DT-ADC)和CTSD转换器之间的区别。与传统设计相比,CTSD设计可以将尺寸缩减68%。在传统的DT-ADC中,会使用开关电容拓扑。ADC和参考输入端就是这种情况。这会使“采样”和“保持”两个阶段之间出现差分。它们分别对应“保持”电容的充电和放电。

驱动器的速度还必须足够快,以便解决“采样”阶段结束时稳定输出,从而避免给目标信号带来更多误差。所以,对ADC驱动器的要求非常高。

如果采样速率过低,可能会出现混叠,导致干扰噪声进入信号。对于CTSD转换器本身的抗混叠滤波器特性,一种解释是:采样不是发生在调制器输入端,而是发生在环路滤波器之后。

人工量程方式可以人工转换量程和选择L、C、R的测量方式,得到比较精确的测量数值。其他同自动量程方式。不论是自动量程方式还是人置量程方式,由于电阻没有D(损耗系数)和Q(品质因数),所以在电阻测量方式辅助LCD没有显示。

LCR测试仪的使用注意事顶,使用前,确认测试仪的校验期。

测试频率的选择。高值元件应在120Hz(或100Hz)下测量,低值元件在1kHz下测量。具体测量条件以厂家说明书为准。一些测试仪开机后需要几分钟到几十分钟的预热时间,待测试仪稳定后进行测试。



NZC光敏可控硅的VO4257及VO4258系列中的器件还具有以下优势:能够在交流电相位周期内的任何时间触发,并在下一次过零时关闭。这可使NZC器件成为众多相位调制应用的理想选择。

HPM6300延承了HPM6700高性能的特点,在成本,功耗,DSP等各个方面做了进一步的优化,并推出了QFP封装,进一步扩大先楫MCU产品在市场上的覆盖范围。整个HPM6000家族有很好的兼容性和扩展性,客户可以据他们的应用需求在HPM6000家族中选出最优的选择。

要让所需的传感器或信号达到最佳效果,必须保证信号链中的所有元件配合出色。

传统的离散时间ADC(DT-ADC)和CTSD转换器之间的区别。与传统设计相比,CTSD设计可以将尺寸缩减68%。在传统的DT-ADC中,会使用开关电容拓扑。ADC和参考输入端就是这种情况。这会使“采样”和“保持”两个阶段之间出现差分。它们分别对应“保持”电容的充电和放电。

驱动器的速度还必须足够快,以便解决“采样”阶段结束时稳定输出,从而避免给目标信号带来更多误差。所以,对ADC驱动器的要求非常高。

如果采样速率过低,可能会出现混叠,导致干扰噪声进入信号。对于CTSD转换器本身的抗混叠滤波器特性,一种解释是:采样不是发生在调制器输入端,而是发生在环路滤波器之后。

人工量程方式可以人工转换量程和选择L、C、R的测量方式,得到比较精确的测量数值。其他同自动量程方式。不论是自动量程方式还是人置量程方式,由于电阻没有D(损耗系数)和Q(品质因数),所以在电阻测量方式辅助LCD没有显示。

LCR测试仪的使用注意事顶,使用前,确认测试仪的校验期。

测试频率的选择。高值元件应在120Hz(或100Hz)下测量,低值元件在1kHz下测量。具体测量条件以厂家说明书为准。一些测试仪开机后需要几分钟到几十分钟的预热时间,待测试仪稳定后进行测试。



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