结温变化、开通时间等因素对于IGBT寿命影响的数学模型,开通时间影响的参考曲线,开通时间短，器件的功率循环次数变长。

究其原因主要是由于在秒级循环测试中绑定线的失效主要以材料的塑性变形为主，而在几十毫秒的循环测试中绑定线的失效模式由塑性变形向弹性变形过度，因而寿命变长。

IGBT芯片存在由于温度波动引起的可靠性问题,功率循环测试有四种不同的测试方法，对于同一个被测对象，测试结果有很大差异。其中恒定导通和关断时间的测试方法，其测试条件最为苛刻，因而测试的循环次数也最短，带有补偿的其余三种测试方法，其测试循环次数会变长。

转速负反馈有静差调速系统放大器的放大倍数为Kp则:σc-h=m

触发器和晶间管整流装置放大倍数为氏r-σd=mj

电枢回路电压方程式为:

E=σd-rdRΣ

式中,RΣ为电动机电枢电阻、电刷电阻等电阻之和。

电动机的转速为:

j=~1~E=KmE-Cc9

在反馈环节中:

yi=αnn

EA-PSI电源、EA-PSB电源和EA-ELR负载都有一个内置函数发生器，可以产生加载在直流偏置上的复杂信号，并模拟各种设备的特性，如太阳能电池、普通电池和燃料电池。

特殊功能可用于太阳能电池板逆变器测试的最大功率点跟踪(MPPT)和EN50530，以及基于LV123、LV124和LV148标准的测试序列，用于测试汽车组件和系统。内置功能简化了仪器编程的任务，模拟各种设备并创建输出（或输入）序列，以符合关键测试标准。

有源功率因数校正，通常为0.99，以将从电网中获取的功率最小化。此外，EA-PSB双向电源和EA-ELR 电子负载采用再生电路将能量回馈至电网，效率高达96%以上。再生电路节省了运行成本和冷却需要的费用。传统电子负载产生热量，冷却系统必不可少。