随着先进工艺的演进，晶体管数量急剧增加，如果测试要覆盖到每个晶体管的话，芯片测试时间就会相应增加。

2015年之后，尤其是2020年前后，芯片制程进入5nm，甚至2-3nm节点，这个时候情况又开始轮回，晶体管数量的增长超过本身可测试设计的技术。

此外,机台多工位测试也不可能无限次增加。而与之形成矛盾的是，芯片的生命周期却越来越短,消费类芯片从原来的2-3年变更为1年,AI芯片和AP高复杂度芯片开始逐年迭代，不同的领域要求ATE测试机作出不同复杂性的调整,我们称这个时代为“复杂性时代”。

SMSC USB4640占位面积和功耗优点：

和基于SMSC USB上游解决方案相比, HSIC上游大约降低20%的功耗

集线器和闪存媒体读卡器组合解决方案优化占位面积, 与以前SMSC分立器件相比,降低大约40%的电路板空间。

HSIC接口无需模拟USB电路，减少了主机系统SoC的复杂性。

于是ATE测试机不得不增加板卡上面集成的通道，增强自身的同测能力，从起先的单工位增加至2工位、4工位和8工位，我们称这个时代为“资本效率时代”。

为了应对计算资源分配的不平衡，基于云计算的新一代企业IT架构在2007年应运而生。在云计算时代,计算和存储设备将化身为“计算资源”，变得和水、电、气一样按需使用。

当企业需要大规模计算时，只需租用一定时段的计算能力，应对完服务之后，计算资源将会得到释放并为其他云计算用户服务。

新一代的IT架构下，企业将不需要再不断扩充自己的机房，并且可以按照企业现有的IT硬件水平定制适合员工的轻客户端，这将极大降低企业在IT硬件上的投入，并可能在曾经因为计算能力无法染指的业务上实现突破。

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