用于post-RET（分辨率增强技术）掩膜版设计版面 (reticle design layout)检测的完整芯片光刻制程工艺窗口(lithography process window)（允许误差空间）检测系统。

DesignScan 能使芯片生产商减少掩膜版的设计修正次数，获得高成品率的设计，以实现更好的参数化设计性能和快速的上市时间。通过 DesignScan 可在将设计提交到掩膜版生产之前识别并优化设计相关的影响性能和成品率的图形。

DesignScan 特别适合极其精细且易出现问题的 90 纳米及以下光刻制程工艺窗口设计。

这种内存的速度超过了固态闪存芯片以及计算机硬盘的速度，因此，它不仅可能改变存储行业，而且也可能会改变整个计算机行业。

Parkin的办法是在在每块硅片的边缘布置数十亿根超微的线圈，组成所谓的“赛道”，同时使用电流去推动无穷小的精细磁体沿每根线上下运动，从而实现数据0和1的读写。

Parkin的研究小组已经成功让这些精细磁体以每秒100多米的速度沿锯齿形的纳米线上运动。由于微型磁畴(magnetic domains)只需在分子以下级别的距离进行运动，因此，人们能够用一个“纳秒”(十亿分之一秒)的极化(polarization)速度读写磁性区域，这样的速度远远超过了现有的技术读写速度。

FGA25N120ANTD提供开关和导通损耗之间最佳的性能权衡，并降低IH (电磁加热)应用的工作温度

FGA25N120ANTD 1200V NPT沟道 IGBT结合业界最佳的抗雪崩能力和经优化的开关和导通损耗性能权衡，能为电磁加热 (IH) 应用提高系统可靠性和效率。

FGA25N120ANTD 专为微波炉、IH电饭煲和其它IH炊具而设计，与上一代器件相比，它的工作温度可降低达10℃，因而能够延长系统寿命。NPT沟道IGBT采用飞兆半导体的专利沟道技术和非穿通型 (NPT) 技术。

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