驱动芯片的输入和输出端形成较大的地弹电压和振荡尖峰电压
发布时间:2021/8/10 8:26:08 访问次数:473
AC/DC开关电源系统为例，PFC部分采用无桥升压拓扑，可选用一颗NSD1025同时驱动两路开关MOSFET，LLC的原边可用一颗半桥隔离驱动芯片NSi6602同时驱动上下桥臂MOSFET，副边用一颗NSD1025驱动全波同步整流MOSFET。
选用高速高可靠性的驱动IC，可以帮助电源系统提升效率和功率密度。
由于开关电源经常需要硬开关驱动大功率负载，在硬开关以及布局限制的情况下，功率MOSFET往往会对驱动芯片的输入和输出端形成较大的地弹电压和振荡尖峰电压。
产品种类: 数模转换器- DAC
RoHS: 详细信息
系列: DAC715
分辨率: 16 bit
采样比: 100 kS/s
通道数量: 1 Channel
稳定时间: 6 us
输出类型: Voltage Buffered
接口类型: Parallel
模拟电源电压: +/- 15 V
数字电源电压: +/- 15 V
最小工作温度: - 40 C
最大工作温度: + 85 C
安装风格: SMD/SMT
封装 / 箱体: SOIC-28
封装: Tube
特点: On-chip Offset and Gain Calibration, Reset to Mid-Scale
高度: 2.35 mm
转换器数量: 1 Converter
功耗: 10 mW
结构: R-2R
商标: Texas Instruments
DNL - 微分非线性: +/- 8 LSB
增益误差: 0.1 % FSR
INL - 积分非线性: +/- 8 LSB
湿度敏感性: Yes
Pd-功率耗散: 600 mW
产品类型: DACs - Digital to Analog Converters
工厂包装数量: 20
子类别: Data Converter ICs
电源电压-最大: 16.5 V
电源电压-最小: 11.4 V
单位重量: 730.800 mg
配备 20 个并行内核，可提供灵活的可扩展性和配置方式，能够同时对多个被测器件执行测试。
系统体积小，仅宽 600 毫米，为您节省宝贵的测试空间和测试周期。
支持大规模到超大规模电路板检测，可以减少系统投资，改善电路板测试时间。
不上电和无矢量测试技术（VTEP）带来更快的测试速度、更低的夹具成本和更高的故障覆盖率。
仪器与 Keysight OpenTAP软件集成在同一个平台中，可提供高效的功能测试测量；其 PXI 体系结构设计可支持是德科技和第三方的仪器。
(素材来源：eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢）
AC/DC开关电源系统为例，PFC部分采用无桥升压拓扑，可选用一颗NSD1025同时驱动两路开关MOSFET，LLC的原边可用一颗半桥隔离驱动芯片NSi6602同时驱动上下桥臂MOSFET，副边用一颗NSD1025驱动全波同步整流MOSFET。
选用高速高可靠性的驱动IC，可以帮助电源系统提升效率和功率密度。
由于开关电源经常需要硬开关驱动大功率负载，在硬开关以及布局限制的情况下，功率MOSFET往往会对驱动芯片的输入和输出端形成较大的地弹电压和振荡尖峰电压。
产品种类: 数模转换器- DAC
RoHS: 详细信息
系列: DAC715
分辨率: 16 bit
采样比: 100 kS/s
通道数量: 1 Channel
稳定时间: 6 us
输出类型: Voltage Buffered
接口类型: Parallel
模拟电源电压: +/- 15 V
数字电源电压: +/- 15 V
最小工作温度: - 40 C
最大工作温度: + 85 C
安装风格: SMD/SMT
封装 / 箱体: SOIC-28
封装: Tube
特点: On-chip Offset and Gain Calibration, Reset to Mid-Scale
高度: 2.35 mm
转换器数量: 1 Converter
功耗: 10 mW
结构: R-2R
商标: Texas Instruments
DNL - 微分非线性: +/- 8 LSB
增益误差: 0.1 % FSR
INL - 积分非线性: +/- 8 LSB
湿度敏感性: Yes
Pd-功率耗散: 600 mW
产品类型: DACs - Digital to Analog Converters
工厂包装数量: 20
子类别: Data Converter ICs
电源电压-最大: 16.5 V
电源电压-最小: 11.4 V
单位重量: 730.800 mg
配备 20 个并行内核，可提供灵活的可扩展性和配置方式，能够同时对多个被测器件执行测试。
系统体积小，仅宽 600 毫米，为您节省宝贵的测试空间和测试周期。
支持大规模到超大规模电路板检测，可以减少系统投资，改善电路板测试时间。
不上电和无矢量测试技术（VTEP）带来更快的测试速度、更低的夹具成本和更高的故障覆盖率。
仪器与 Keysight OpenTAP软件集成在同一个平台中，可提供高效的功能测试测量；其 I 体系结构设计可支持是德科技和第三方的仪器。
(素材来源：eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢）
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