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大功率驱动四路2Ω低阻抗负载提供PXIe模块化接口整合功能测试

发布时间:2021/8/10 8:15:34 访问次数:539

HFDA801A是一款高分辨率音频放大器芯片,专门为尺寸紧凑、追求成本效益的车用音响系统设计。

这款放大器采用内部供给全部电源电压的架构,使HFDA801A可以从车辆蓄电池取电,而无需增加额外的电源变换器。

新放大器具有广泛负载范围,即使大功率驱动四路2Ω低阻抗负载,也能确保性能稳定。

此外,通过集成实时诊断、数字阻抗表和实时负载电流监视器,HFDA801A还可用于安全相关的必须符合ASIL要求的音频应用,例如,电动汽车低速提示音系统 (AVAS)。

制造商: Texas Instruments

产品种类: 闭锁

RoHS: 详细信息

电路数量: 2 Circuit

逻辑类型: True

逻辑系列: ABT

极性: Non-Inverting

静态电流: 85 mA

输出线路数量: 16 Line

高电平输出电流: - 24 mA

低电平输出电流: 32 mA

传播延迟时间: 5.4 ns at 5 V

电源电压-最大: 5.5 V

电源电压-最小: 4.5 V

最小工作温度: - 55 C

最大工作温度: + 125 C

封装 / 箱体: SSOP-48

封装: Reel

功能: Transparent

高度: 2.59 mm

长度: 15.88 mm

输出类型: 3-State

系列: SN74ABT16373A-EP

类型: D-Type

宽度: 7.49 mm

商标: Texas Instruments

安装风格: SMD/SMT

通道数量: 16 Channels

输入线路数量: 16 Line

工作电源电压: 5 V

产品类型: Latches

复位类型: No Reset

工厂包装数量: 1000

子类别: Logic ICs

零件号别名: V62/06628-01XE

单位重量: 600.300 mg

全新的 i7090 多核并行测试系统。这是一全新的自动测试设备,专门设计用于对多种印刷电路板(PCBA)进行并行测试,可以实现高测试吞吐量,帮助客户加速产品推向市场并降低测试成本。

目前市面上的测试系统最多只能支持四核并行测试。客户需要采购更多系统进行测试,才能满足制造需求,但这样无疑会导致规模扩大、基础设施成本上升、占用更大的测试空间,并且需要更多的成本投资和维护人员。

新型多核并行测试系统可支持多达20个内核并行测试,并提供了基于 PXIe 模块化接口整合功能测试。


(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)




HFDA801A是一款高分辨率音频放大器芯片,专门为尺寸紧凑、追求成本效益的车用音响系统设计。

这款放大器采用内部供给全部电源电压的架构,使HFDA801A可以从车辆蓄电池取电,而无需增加额外的电源变换器。

新放大器具有广泛负载范围,即使大功率驱动四路2Ω低阻抗负载,也能确保性能稳定。

此外,通过集成实时诊断、数字阻抗表和实时负载电流监视器,HFDA801A还可用于安全相关的必须符合ASIL要求的音频应用,例如,电动汽车低速提示音系统 (AVAS)。

制造商: Texas Instruments

产品种类: 闭锁

RoHS: 详细信息

电路数量: 2 Circuit

逻辑类型: True

逻辑系列: ABT

极性: Non-Inverting

静态电流: 85 mA

输出线路数量: 16 Line

高电平输出电流: - 24 mA

低电平输出电流: 32 mA

传播延迟时间: 5.4 ns at 5 V

电源电压-最大: 5.5 V

电源电压-最小: 4.5 V

最小工作温度: - 55 C

最大工作温度: + 125 C

封装 / 箱体: SSOP-48

封装: Reel

功能: Transparent

高度: 2.59 mm

长度: 15.88 mm

输出类型: 3-State

系列: SN74ABT16373A-EP

类型: D-Type

宽度: 7.49 mm

商标: Texas Instruments

安装风格: SMD/SMT

通道数量: 16 Channels

输入线路数量: 16 Line

工作电源电压: 5 V

产品类型: Latches

复位类型: No Reset

工厂包装数量: 1000

子类别: Logic ICs

零件号别名: V62/06628-01XE

单位重量: 600.300 mg

全新的 i7090 多核并行测试系统。这是一全新的自动测试设备,专门设计用于对多种印刷电路板(PCBA)进行并行测试,可以实现高测试吞吐量,帮助客户加速产品推向市场并降低测试成本。

目前市面上的测试系统最多只能支持四核并行测试。客户需要采购更多系统进行测试,才能满足制造需求,但这样无疑会导致规模扩大、基础设施成本上升、占用更大的测试空间,并且需要更多的成本投资和维护人员。

新型多核并行测试系统可支持多达20个内核并行测试,并提供了基于 Ie 模块化接口整合功能测试。


(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)




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