功能块和IDENTControl控制接口单元用于PLC应用
发布时间:2021/8/6 0:00:30 访问次数:633
解决方案基于UHF RFID技术,可实现较高的检测范围(最高6 m)和速度,并支持多标签读取。
IUT-F190-B40的发射功率可达1000 mW ERP,外壳尺寸仅为114 x 112 x 63 mm,这使其在市场上的性能堪称一流。
倍加福的其他RFID读写头主要通过功能块和IDENTControl控制接口单元用于PLC应用,而IUT-F190-B40可以通过使用REST API轻松集成到IT系统中。
可以通过此接口对UHF读码器进行完全的参数化和操作。
制造商: Infineon
产品种类: MOSFET
技术: Si
安装风格: SMD/SMT
封装 / 箱体: TO-263-3
晶体管极性: N-Channel
通道数量: 1 Channel
Vds-漏源极击穿电压: 75 V
Id-连续漏极电流: 80 A
Rds On-漏源导通电阻: 4.8 mOhms
Vgs - 栅极-源极电压: - 20 V, + 20 V
Vgs th-栅源极阈值电压: 1.2 V
Qg-栅极电荷: 233 nC
最小工作温度: - 55 C
最大工作温度: + 175 C
Pd-功率耗散: 300 W
通道模式: Enhancement
资格: AEC-Q101
商标名: OptiMOS
封装: Cut Tape
封装: MouseReel
封装: Reel
配置: Single
高度: 4.4 mm
长度: 10 mm
晶体管类型: 1 N-Channel
宽度: 9.25 mm
商标: Infineon Technologies
下降时间: 22 ns
产品类型: MOSFET
上升时间: 55 ns
工厂包装数量: 1000
子类别: MOSFETs
典型关闭延迟时间: 85 ns
典型接通延迟时间: 19 ns
零件号别名: IPB80N08S2L-07 SP000219051
单位重量: 4 g
距离测量应用的发展,比如自动化技术中的机器人技术。为满足严苛工业环境的高要求,TDK开发了一种紧凑且坚固耐用的超声波传感器模块。
市面上的距离测量和物体检测技术有很多,但大多不适合工业应用。
例如,基于毫米波雷达和激光雷达的系统价格昂贵并且功耗相对较高,并且光学系统受环境光、反射和雾霾污染影响较大,很少用于工业环境。
而实践证明,基于飞行时间 (ToF) 工作原理的超声波测量方法能可靠用于工业环境。
(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)
解决方案基于UHF RFID技术,可实现较高的检测范围(最高6 m)和速度,并支持多标签读取。
IUT-F190-B40的发射功率可达1000 mW ERP,外壳尺寸仅为114 x 112 x 63 mm,这使其在市场上的性能堪称一流。
倍加福的其他RFID读写头主要通过功能块和IDENTControl控制接口单元用于PLC应用,而IUT-F190-B40可以通过使用REST API轻松集成到IT系统中。
可以通过此接口对UHF读码器进行完全的参数化和操作。
制造商: Infineon
产品种类: MOSFET
技术: Si
安装风格: SMD/SMT
封装 / 箱体: TO-263-3
晶体管极性: N-Channel
通道数量: 1 Channel
Vds-漏源极击穿电压: 75 V
Id-连续漏极电流: 80 A
Rds On-漏源导通电阻: 4.8 mOhms
Vgs - 栅极-源极电压: - 20 V, + 20 V
Vgs th-栅源极阈值电压: 1.2 V
Qg-栅极电荷: 233 nC
最小工作温度: - 55 C
最大工作温度: + 175 C
Pd-功率耗散: 300 W
通道模式: Enhancement
资格: AEC-Q101
商标名: OptiMOS
封装: Cut Tape
封装: MouseReel
封装: Reel
配置: Single
高度: 4.4 mm
长度: 10 mm
晶体管类型: 1 N-Channel
宽度: 9.25 mm
商标: Infineon Technologies
下降时间: 22 ns
产品类型: MOSFET
上升时间: 55 ns
工厂包装数量: 1000
子类别: MOSFETs
典型关闭延迟时间: 85 ns
典型接通延迟时间: 19 ns
零件号别名: IPB80N08S2L-07 SP000219051
单位重量: 4 g
距离测量应用的发展,比如自动化技术中的机器人技术。为满足严苛工业环境的高要求,TDK开发了一种紧凑且坚固耐用的超声波传感器模块。
市面上的距离测量和物体检测技术有很多,但大多不适合工业应用。
例如,基于毫米波雷达和激光雷达的系统价格昂贵并且功耗相对较高,并且光学系统受环境光、反射和雾霾污染影响较大,很少用于工业环境。
而实践证明,基于飞行时间 (ToF) 工作原理的超声波测量方法能可靠用于工业环境。
(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)