QMLV生产水平测试与光学发射光谱测量技术相比具有明显优势
发布时间:2021/7/25 23:01:06 访问次数:415
新的瑞萨电子抗辐射塑料 IC 可帮助客户在不影响性能的情况下减少电子产品的占用空间和成本。
为确保塑料 IC 在恶劣的空间环境中保持最高质量,新器件具有类似 QMLV 的生产水平测试,并且所有器件都将接受辐射批次验收测试 (RLAT)。
生产测试流程包括 100% CSAM、X 射线、温度循环、静态和动态老化以及目视检查,并符合 SAE AS6294/1 空间塑料封装微电子标准。额外的筛选包括针对 HAST、寿命测试和湿度敏感度的每个组件和晶圆批次产品的批次保证测试。
制造商: Vishay
产品种类: 高速光耦合器
RoHS: 详细信息
封装 / 箱体: PDIP-8
数据速率: 1 Mb/s
通道数量: 1 Channel
输出类型: Phototransistor
绝缘电压: 5300 Vrms
Vf - 正向电压: 1.33 V
If - 正向电流: 16 mA
Vr - 反向电压 : 5 V
Pd-功率耗散: 100 mW
电流传递比: 35 %
最小工作温度: 0 C
最大工作温度: + 70 C
封装: Tube
高度: 3.81 mm
长度: 9.91 mm
输出电流: 8 mA
宽度: 6.81 mm
商标: Vishay Semiconductors
下降时间: 5 ns
最大集电极电流: 8 mA
产品类型: High Speed Optocouplers
上升时间: 5 ns
工厂包装数量: 2000
子类别: Optocouplers
单位重量: 1.591 g

这与光学发射光谱测量技术相比具有明显的优势,后者需要等离子体源方可操作,这使Aston成为ALD和某些金属沉积工艺的理想选择,这些工艺可能会需要使用较弱的、脉冲等离子体,或无需等离子体进行处理。
Aston还能够通过提供量化、可操作的实时数据来提高过程一致性,并可通过人工智能推进高性能机器学习,满足最苛刻的过程应用。
(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)
新的瑞萨电子抗辐射塑料 IC 可帮助客户在不影响性能的情况下减少电子产品的占用空间和成本。
为确保塑料 IC 在恶劣的空间环境中保持最高质量,新器件具有类似 QMLV 的生产水平测试,并且所有器件都将接受辐射批次验收测试 (RLAT)。
生产测试流程包括 100% CSAM、X 射线、温度循环、静态和动态老化以及目视检查,并符合 SAE AS6294/1 空间塑料封装微电子标准。额外的筛选包括针对 HAST、寿命测试和湿度敏感度的每个组件和晶圆批次产品的批次保证测试。
制造商: Vishay
产品种类: 高速光耦合器
RoHS: 详细信息
封装 / 箱体: PDIP-8
数据速率: 1 Mb/s
通道数量: 1 Channel
输出类型: Phototransistor
绝缘电压: 5300 Vrms
Vf - 正向电压: 1.33 V
If - 正向电流: 16 mA
Vr - 反向电压 : 5 V
Pd-功率耗散: 100 mW
电流传递比: 35 %
最小工作温度: 0 C
最大工作温度: + 70 C
封装: Tube
高度: 3.81 mm
长度: 9.91 mm
输出电流: 8 mA
宽度: 6.81 mm
商标: Vishay Semiconductors
下降时间: 5 ns
最大集电极电流: 8 mA
产品类型: High Speed Optocouplers
上升时间: 5 ns
工厂包装数量: 2000
子类别: Optocouplers
单位重量: 1.591 g

这与光学发射光谱测量技术相比具有明显的优势,后者需要等离子体源方可操作,这使Aston成为ALD和某些金属沉积工艺的理想选择,这些工艺可能会需要使用较弱的、脉冲等离子体,或无需等离子体进行处理。
Aston还能够通过提供量化、可操作的实时数据来提高过程一致性,并可通过人工智能推进高性能机器学习,满足最苛刻的过程应用。
(素材来源:eccn和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)