ADuM7704模拟输入由高性能模拟调制器持续进行采样
发布时间:2021/5/28 20:36:42 访问次数:316
ADuM7704的模拟输入由高性能模拟调制器持续进行采样，再转换成单比特的数字输出流，数据传输速率可达21MHz。
如果采用合适的sinc3数字滤波器，ADuM7704调制器可在78.1kSPS下实现82dB的信噪比 (SNR)。高SNR可以让电流和电压测量更精确，从而提升电机驱动器的性能。
ADuM7704将高速互补金属氧化物半导体 (CMOS) 技术与单片变压器技术相结合，可实现片内隔离，从而提供优异的性能。
64 mg
配备 20 个并行内核，可提供灵活的可扩展性和配置方式，能够同时对多个被测器件执行测试。
系统体积小，仅宽 600 毫米，为您节省宝贵的测试空间和测试周期。
支持大规模到超大规模电路板检测，可以减少系统投资，改善电路板测试时间。
不上电和无矢量测试技术（VTEP）带来更快的测试速度、更低的夹具成本和更高的故障覆盖率。
仪器与 Keysight OpenTAP软件集成在同一个平台中，可提供高效的功能测试测量；其 PXI 体系结构设计可支持是德科技和第三方的仪器。
(素材来源：ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢）
ADuM7704的模拟输入由高性能模拟调制器持续进行采样，再转换成单比特的数字输出流，数据传输速率可达21MHz。
如果采用合适的sinc3数字滤波器，ADuM7704调制器可在78.1kSPS下实现82dB的信噪比 (SNR)。高SNR可以让电流和电压测量更精确，从而提升电机驱动器的性能。
ADuM7704将高速互补金属氧化物半导体 (CMOS) 技术与单片变压器技术相结合，可实现片内隔离，从而提供优异的性能。
64 mg
配备 20 个并行内核，可提供灵活的可扩展性和配置方式，能够同时对多个被测器件执行测试。
系统体积小，仅宽 600 毫米，为您节省宝贵的测试空间和测试周期。
支持大规模到超大规模电路板检测，可以减少系统投资，改善电路板测试时间。
不上电和无矢量测试技术（VTEP）带来更快的测试速度、更低的夹具成本和更高的故障覆盖率。
仪器与 Keysight OpenTAP软件集成在同一个平台中，可提供高效的功能测试测量；其 I 体系结构设计可支持是德科技和第三方的仪器。
(素材来源：ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢）
相关技术资料- 4-19由于克服传统电池寿命限制在VPP模式下为住宅储能用户带来收益
- 4-19嵌入式反射计在提供精确信号同时缩短测试时间并简化测试设置
- 4-19DAC专用集成电路芯片使用DDS提供精准信号最大程度地减少失真
- 4-19超低电容可满足高速接口应用超高要求能有效保证信号完整性
- 4-18在GaN IC上融入单独的二维条形码并可通过标准商用读码器读取
- 4-18数字信号处理器(DSP)相结合提高了动态范围无需微调或额外校准
- 4-18采集数据存储在容量巨大4GB板载内存中以最快速度通过PCIe总线传输
- 4-18初步设计为一个容纳144U HPC/AI浸没服务器40英尺集装箱
- 4-18压力传感器拥有24位输出分辨率具有两个极高分辨率的流量传感器
- 4-18LD的波长随着温度变化而变对LD温度进行控制提高其性能关键所在
- 4-18金丝键合安装于封装内部对光通信用激光二极管进行高度准确温度检测
- 4-18开发板模块在设计上与Adafruit外形尺寸兼容为传感器提供原型创建解决方案
公网安备44030402000607
