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600V高压高速功率MOSFET和IGBT驱动器的加速发展

发布时间:2021/5/14 7:57:47 访问次数:756

EVAL_FAN_XMC_PFD7是100W马达驱动评估板,主要包括600V CoolMOS PFD7 SJ功率器件IPN60R2K0PFD7S和600V 高压高速功率MOSFET和IGBT驱动器.

此外还包括基于ARM® Cortex®-M0的XMC1302-T038X0200 32位MCU,准谐振CoolSET™反激控制器ICE5QR4770AG,低压降电压稳压器IFX1763XEJV50以及P沟MOSFET BSS314PE和N沟MOSFET BSS138N.

评估板EVAL_FAN_XMC_PFD7采用AC输入电压,最大输出功率为100W,能驱动FOC无传感器模式的三相BLDC/PMSM马达,适合风扇和泵的应用.

制造商:STMicroelectronics产品种类:ARM微控制器 - MCURoHS: 系列:安装风格:SMD/SMT封装 / 箱体:LQFP-100核心:程序存储器大小:512 kB数据总线宽度:32 bitADC分辨率:12 bit最大时钟频率:72 MHz输入/输出端数量:80 I/O数据 RAM 大小:64 kB工作电源电压:2 V to 3.6 V最小工作温度:- 40 C最大工作温度:+ 85 C封装:Tray高度:1.4 mm长度:14 mm程序存储器类型:Flash宽度:14 mm商标:STMicroelectronics数据 Ram 类型:SRAM接口类型:CAN, I2C, SPI, USART, USB湿度敏感性:YesADC通道数量:16 Channel计时器/计数器数量:8 Timer处理器系列:ARM Cortex M产品类型:ARM Microcontrollers - MCU540子类别:Microcontrollers - MCU电源电压-最大:3.6 V电源电压-最小:2 V商标名:单位重量:1.319 g

近年来数字时代的加速发展,对新的消费电子产品以及自动驾驶汽车产生了巨大的需求。

集成电路的速度变得越来越快,功能越来越复杂,这就要求更高的测试可靠性和更少的测试时间以将产品快速推出市场。

史密斯英特康的研发脚步也不敢懈怠,Joule 20射频测试插座的解决方案可以大大提高测试生产量以及满足对外围封装技术(QFN,QFP和SOIC)更快,更可靠且可重复的测试需求。

(素材来源:ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢)

EVAL_FAN_XMC_PFD7是100W马达驱动评估板,主要包括600V CoolMOS PFD7 SJ功率器件IPN60R2K0PFD7S和600V 高压高速功率MOSFET和IGBT驱动器.

此外还包括基于ARM® Cortex®-M0的XMC1302-T038X0200 32位MCU,准谐振CoolSET™反激控制器ICE5QR4770AG,低压降电压稳压器IFX1763XEJV50以及P沟MOSFET BSS314PE和N沟MOSFET BSS138N.

评估板EVAL_FAN_XMC_PFD7采用AC输入电压,最大输出功率为100W,能驱动FOC无传感器模式的三相BLDC/PMSM马达,适合风扇和泵的应用.

制造商:STMicroelectronics产品种类:ARM微控制器 - MCURoHS: 系列:安装风格:SMD/SMT封装 / 箱体:LQFP-100核心:程序存储器大小:512 kB数据总线宽度:32 bitADC分辨率:12 bit最大时钟频率:72 MHz输入/输出端数量:80 I/O数据 RAM 大小:64 kB工作电源电压:2 V to 3.6 V最小工作温度:- 40 C最大工作温度:+ 85 C封装:Tray高度:1.4 mm长度:14 mm程序存储器类型:Flash宽度:14 mm商标:STMicroelectronics数据 Ram 类型:SRAM接口类型:CAN, I2C, SPI, USART, USB湿度敏感性:YesADC通道数量:16 Channel计时器/计数器数量:8 Timer处理器系列:ARM Cortex M产品类型:ARM Microcontrollers - MCU540子类别:Microcontrollers - MCU电源电压-最大:3.6 V电源电压-最小:2 V商标名:单位重量:1.319 g

近年来数字时代的加速发展,对新的消费电子产品以及自动驾驶汽车产生了巨大的需求。

集成电路的速度变得越来越快,功能越来越复杂,这就要求更高的测试可靠性和更少的测试时间以将产品快速推出市场。

史密斯英特康的研发脚步也不敢懈怠,Joule 20射频测试插座的解决方案可以大大提高测试生产量以及满足对外围封装技术(QFN,QFP和SOIC)更快,更可靠且可重复的测试需求。

(素材来源:ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢)

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