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​激光颗粒物(PM)传感器SN-GCJA5的光学传感器组件

发布时间:2021/4/29 22:57:34 访问次数:572

激光颗粒物 (PM)传感器SN-GCJA5,进一步扩展其高质量传感器产品供应范围。

SN-GCJA5专为解决全球日益关注的室内空气质量问题而设计,是空气质量监测、空调、楼宇自动化、智能家居、HVAC系统、空气净化器、物联网 (IoT) 设备、测试与测量仪器以及环境监测等应用的理想解决方案。

SN-GCJA5激光PM传感器采用了创新的光学传感器组件,能够对小至0.3μm的微粒进行精确检测,同时还可延长传感器使用寿命并始终保持高可靠运行。

其先进的激光散射技术使传感器在检测烟雾、环境灰尘及其他有害污染物时能够提供快速响应。

制造商:Nexperia 产品种类:双极晶体管 - 双极结型晶体管(BJT) 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOT-89-3 晶体管极性:NPN 配置:Single 集电极—发射极最大电压 VCEO:20 V 集电极—基极电压 VCBO:32 V 发射极 - 基极电压 VEBO:5 V 最大直流电集电极电流:1 A Pd-功率耗散:1000 mW 增益带宽产品fT:60 MHz 最小工作温度:- 55 C 最大工作温度:+ 150 C 资格:AEC-Q101 封装:Cut Tape 封装:MouseReel 封装:Reel 直流电流增益 hFE 最大值:160 at 500 mA, 1 V 高度:1.6 mm 长度:4.6 mm 技术:Si 宽度:2.6 mm 商标:Nexperia 直流集电极/Base Gain hfe Min:160 at 500 mA, 1 V 产品类型:BJTs - Bipolar Transistors 工厂包装数量1000 子类别:Transistors 零件号别名:934005380115 单位重量:130.500 mg  

利用AS585xB的柔性电路设计,图像设备可由内部数据采集系统和基于AS585xB读取IC(采购自第三方FPD制造商)的探测器组装,从而简化生产。

柔性AS585xB电路板可以手动组装到数据采集系统中,而无需采用昂贵、复杂的ACF粘合工艺。

新型AS585xB产品还带有内置自测(Built-In Self-Test)功能,用于在组装完成后快速、准确地验证数据采集系统是否正常工作。

这有助于制造商快速找出数据采集系统或探测器系统中的错误来源。

(素材来源:ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢)

激光颗粒物 (PM)传感器SN-GCJA5,进一步扩展其高质量传感器产品供应范围。

SN-GCJA5专为解决全球日益关注的室内空气质量问题而设计,是空气质量监测、空调、楼宇自动化、智能家居、HVAC系统、空气净化器、物联网 (IoT) 设备、测试与测量仪器以及环境监测等应用的理想解决方案。

SN-GCJA5激光PM传感器采用了创新的光学传感器组件,能够对小至0.3μm的微粒进行精确检测,同时还可延长传感器使用寿命并始终保持高可靠运行。

其先进的激光散射技术使传感器在检测烟雾、环境灰尘及其他有害污染物时能够提供快速响应。

制造商:Nexperia 产品种类:双极晶体管 - 双极结型晶体管(BJT) 安装风格:SMD/SMT 封装 / 箱体:SOT-89-3 晶体管极性:NPN 配置:Single 集电极—发射极最大电压 VCEO:20 V 集电极—基极电压 VCBO:32 V 发射极 - 基极电压 VEBO:5 V 最大直流电集电极电流:1 A Pd-功率耗散:1000 mW 增益带宽产品fT:60 MHz 最小工作温度:- 55 C 最大工作温度:+ 150 C 资格:AEC-Q101 封装:Cut Tape 封装:MouseReel 封装:Reel 直流电流增益 hFE 最大值:160 at 500 mA, 1 V 高度:1.6 mm 长度:4.6 mm 技术:Si 宽度:2.6 mm 商标:Nexperia 直流集电极/Base Gain hfe Min:160 at 500 mA, 1 V 产品类型:BJTs - Bipolar Transistors 工厂包装数量1000 子类别:Transistors 零件号别名:934005380115 单位重量:130.500 mg  

利用AS585xB的柔性电路设计,图像设备可由内部数据采集系统和基于AS585xB读取IC(采购自第三方FPD制造商)的探测器组装,从而简化生产。

柔性AS585xB电路板可以手动组装到数据采集系统中,而无需采用昂贵、复杂的ACF粘合工艺。

新型AS585xB产品还带有内置自测(Built-In Self-Test)功能,用于在组装完成后快速、准确地验证数据采集系统是否正常工作。

这有助于制造商快速找出数据采集系统或探测器系统中的错误来源。

(素材来源:ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢)

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