LPC55S16 MCU已获得Arm合作开发的PSA认证计划和GlobalPlatform“物联网平台安全评估标准”（SESIP）（使用了为嵌入式处理器定义的安全保护配置框架）的2级认证。

随着物联网和工业边缘应用的快速发展，设备安全性和数据保护正变得愈发重要。

此次获得的两项认证彰显了恩智浦“通过产品设计确保安全”路径的有效性，进一步增强了OEM和消费者对于基于恩智浦器件的边缘设备的信心。

该系列采用40纳米NVM工艺技术、高级安全功能和混合信号功能，确保性能的进一步提高。

IGBT 类型-电压 - 集射极击穿（最大值）600V电流 - 集电极 (Ic)（最大值）110A电流 - 集电极脉冲 (Icm)180A不同 Vge、Ic 时 Vce(on)（最大值）2.6V @ 15V，40A功率 - 最大值278W开关能量365μJ（开），560μJ（关）输入类型标准栅极电荷195nC25°C 时 Td（开/关）值52ns/240ns测试条件390V，40A，10 欧姆，15V反向恢复时间 (trr)55ns工作温度-55°C ~ 150°C（TJ）安装类型通孔封装/外壳TO-247-3

快速设置和重置,在生产线上，任何时间用在建立一个新的测试系统，或为一个新批次的系统重新校准，或为一个新DUT（被测设备）重新设置一个系统，实际上都是处于一种“停产”的状况。

作为一体化的测试系统,APx517B集成了音频分析仪（信号生成和采集）、功放、耳机放大器和麦克风电源以及可选的数字接口（如蓝牙），相比其他非一体化的测试系统，APx517B大幅缩短安装、重置和布线的时间，也减少接线的误差。

(素材来源：ttic和eccn.如涉版权请联系删除。特别感谢）