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分立功率晶体管和驱动IC的方案

发布时间:2020/11/27 21:45:43 访问次数:687

嵌入硅基半桥驱动芯片和一对氮化镓(GaN)晶体管的 MasterGaN® 产品平台,对于400W以下轻便节能的消费电子、工业充电器以及电源适配器而言,意法半导体提出的这个集成化方案有助于加快开发速度。

GaN技术 使电子设备能够处理更大功率,同时设备本身变得更小、更轻、更节能,这些改进将会改变用于智能手机的超快充电器和 无线充电器 、用于PC和游戏机的USB-PD紧凑型适配器,以及太阳能储电系统、不间断电源或高端OLED电视机和云服务器等工业应用。

在当今的GaN市场上,通常采用分立功率晶体管和驱动IC的方案,这要求设计人员必须学习如何让它们协同工作,实现最佳性能。  

ST独有的MasterGaN产品平台是基于我们的经过市场检验的专业知识和设计能力,整合高压智能功率BCD工艺与GaN技术而成,能够加快节省空间、高能效的环境友好型产品的开发。

MasterGaN1是意法半导体新产品平台的首款产品,集成两个半桥配置的GaN功率晶体管和高低边驱动芯片。

作为3D扫描和在线检测的全球领导者,LMI Technologies 致力于通过3D传感器技术改善生产效率和生产质量。通过致力于为各个行业不同的用户开发快速、准确且可信赖的3D智能检测技术,获殊荣的LMI公司的FactorySmart? 激光、快照和线共焦传感器帮助客户提高生产效率和生产质量。和接触式测量方式或者2D视觉系统不同,我们的产品大大消除复杂性和有效降低实施成本。

PIC18 Q84 系列单片机(MCU)产品,这是首款通过具有灵活数据速率的控制器局域网(CAN FD)总线传输和接收数据的 PIC18 系列单片机。Microchip 的 PIC18 Q84 系列产品拥有大量独立于内核的外设(CIP),可在不需要 CPU 干预的情况下处理各种任务,能够在将系统连接到 CAN FD 网络时缩短时间和降低成本。

一种将传感器数据传输到 CAN FD 总线的简单解决方案,无需网关或复杂的网络交换技术。此外,可配置的 CIP 使其能够轻松地为汽车和工业设计创建基于硬件的定制功能,延迟几乎为零,也不需要额外的代码。可用外设包括用于功能安全的 32 位循环冗余校验扫描(CRC/SCAN)和窗口式看门狗定时器(WWDT),以及联合测试行动组(JTAG)接口,用于行业标准的测试和调试。

(素材来源:chinaaet.如涉版权请联系删除。特别感谢)

嵌入硅基半桥驱动芯片和一对氮化镓(GaN)晶体管的 MasterGaN® 产品平台,对于400W以下轻便节能的消费电子、工业充电器以及电源适配器而言,意法半导体提出的这个集成化方案有助于加快开发速度。

GaN技术 使电子设备能够处理更大功率,同时设备本身变得更小、更轻、更节能,这些改进将会改变用于智能手机的超快充电器和 无线充电器 、用于PC和游戏机的USB-PD紧凑型适配器,以及太阳能储电系统、不间断电源或高端OLED电视机和云服务器等工业应用。

在当今的GaN市场上,通常采用分立功率晶体管和驱动IC的方案,这要求设计人员必须学习如何让它们协同工作,实现最佳性能。  

ST独有的MasterGaN产品平台是基于我们的经过市场检验的专业知识和设计能力,整合高压智能功率BCD工艺与GaN技术而成,能够加快节省空间、高能效的环境友好型产品的开发。

MasterGaN1是意法半导体新产品平台的首款产品,集成两个半桥配置的GaN功率晶体管和高低边驱动芯片。

作为3D扫描和在线检测的全球领导者,LMI Technologies 致力于通过3D传感器技术改善生产效率和生产质量。通过致力于为各个行业不同的用户开发快速、准确且可信赖的3D智能检测技术,获殊荣的LMI公司的FactorySmart? 激光、快照和线共焦传感器帮助客户提高生产效率和生产质量。和接触式测量方式或者2D视觉系统不同,我们的产品大大消除复杂性和有效降低实施成本。

PIC18 Q84 系列单片机(MCU)产品,这是首款通过具有灵活数据速率的控制器局域网(CAN FD)总线传输和接收数据的 PIC18 系列单片机。Microchip 的 PIC18 Q84 系列产品拥有大量独立于内核的外设(CIP),可在不需要 CPU 干预的情况下处理各种任务,能够在将系统连接到 CAN FD 网络时缩短时间和降低成本。

一种将传感器数据传输到 CAN FD 总线的简单解决方案,无需网关或复杂的网络交换技术。此外,可配置的 CIP 使其能够轻松地为汽车和工业设计创建基于硬件的定制功能,延迟几乎为零,也不需要额外的代码。可用外设包括用于功能安全的 32 位循环冗余校验扫描(CRC/SCAN)和窗口式看门狗定时器(WWDT),以及联合测试行动组(JTAG)接口,用于行业标准的测试和调试。

(素材来源:chinaaet.如涉版权请联系删除。特别感谢)

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