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驱动模拟数字转换器脉冲捕获功能

发布时间:2020/9/10 22:57:41 访问次数:793

NuMicro® M451全系列采用内建数字信号处理单元(Digital Signal Processor, DSP)与浮点运算单元(FloaTIng Point Unit, FPU)的ARM® Cortex®-M4F核心,具备高运算效能,可运行至72 MHz,内建256/128/72/40K Bytes程序内存(Flash ROM)、32/16K Bytes 数据存储器(SRAM),符合国际电子技术委员会(InternaTIonal Electrotechnical Commission, IEC) 60730标准,内存奇偶校验检查(Parity Check),硬件循环冗余校验(Cyclic Redundancy Check, CRC);

M451全系列并提供高分辨率144MHz PWM脉宽调制,快速电机控制定时器,分辨率《 7ns,搭配驱动模拟数字转换器(ADC),具有硬件刹车保护和脉冲捕获功能,节省微控制器运算负担,有效执行马达控制所需之高阶计算,在工业自动化及马达控制等应用中极具优势。在芯片安全方面,M451全系列为保护客户之知识产权,设计了铜墙铁壁,包含Flash安全锁、防窜改侦测脚位、96位芯片唯一序号(Unique Identification, UID)及128位唯一客户序号(Unique Customer Identification, UCID),为开发程序提供多重保护。

易于操作、功能完备的NuTiny-SDK-M451软硬件开发环境,方便客户于IAR EWARM 和Keil™ RVMDK开发环境下,利用M451全系列开发新产品。客户可利用新唐提供之专属 ISP(In System Program)、IAP(In Application Program) 或 ICP(In Circuit Program),透过在线或脱机烧录,直接对系统在线更新,增加生产的灵活度与设计的便利性。

新唐M451全系列已量产,产品采用LQFP48 (7mm x 7mm)、LQFP64 (10mm x 10mm)与LQFP100 (14mm x 14mm)封装。

提供客制化模拟、电源管理及微控制器产品制程之晶圆厂,除负责生产自有IC产品外,另提供部份产能作为晶圆代工服务。新唐科技以灵活之技术、先进之设计能力及数字模拟整合技术能力提供客户高性价比之产品。新唐科技重视与客户及合作伙伴的长期关系,致力于产品、制程及服务的不断创新。新唐科技在美国、中国大陆、以色列等地均设有据点,以强化地区性客户支持服务与全球运筹管理。

心轴/通孔 CD和套准精度等工艺参数被控制在以目标值为中心一定宽度的范围内分布。通过SEMulator3D可自动执行实验设计(DOE)并生成和收集由用户定义的平均值和范围宽度/标准差。根据收集的数据和预先设定的良率规则,即可计算出合格率或良率(即在特定输入条件下,通过合格次数与检验总次数的比率)。 用户还可以根据生成的测量结果与失效规则做对比,对失效进行自定义分类。

MCD(心轴CD)、VCD(通孔CD)、SPT(侧墙厚度)和MVO(轴心-VCX轴方向套准精度)的均值移动范围及其分布宽度,之后执行实验设计,用蒙特卡洛模拟方法执行3000次虚拟实验测试。四种不同输入条件下的失效类别汇总条形图和良率汇总表,通过这些表可以看出特定输入条件下发生各种失效的概率大小并由此判断出各类失效模式对良率的影响。

(素材:chinaaet.如涉版权请联系删除)

NuMicro® M451全系列采用内建数字信号处理单元(Digital Signal Processor, DSP)与浮点运算单元(FloaTIng Point Unit, FPU)的ARM® Cortex®-M4F核心,具备高运算效能,可运行至72 MHz,内建256/128/72/40K Bytes程序内存(Flash ROM)、32/16K Bytes 数据存储器(SRAM),符合国际电子技术委员会(InternaTIonal Electrotechnical Commission, IEC) 60730标准,内存奇偶校验检查(Parity Check),硬件循环冗余校验(Cyclic Redundancy Check, CRC);

M451全系列并提供高分辨率144MHz PWM脉宽调制,快速电机控制定时器,分辨率《 7ns,搭配驱动模拟数字转换器(ADC),具有硬件刹车保护和脉冲捕获功能,节省微控制器运算负担,有效执行马达控制所需之高阶计算,在工业自动化及马达控制等应用中极具优势。在芯片安全方面,M451全系列为保护客户之知识产权,设计了铜墙铁壁,包含Flash安全锁、防窜改侦测脚位、96位芯片唯一序号(Unique Identification, UID)及128位唯一客户序号(Unique Customer Identification, UCID),为开发程序提供多重保护。

易于操作、功能完备的NuTiny-SDK-M451软硬件开发环境,方便客户于IAR EWARM 和Keil™ RVMDK开发环境下,利用M451全系列开发新产品。客户可利用新唐提供之专属 ISP(In System Program)、IAP(In Application Program) 或 ICP(In Circuit Program),透过在线或脱机烧录,直接对系统在线更新,增加生产的灵活度与设计的便利性。

新唐M451全系列已量产,产品采用LQFP48 (7mm x 7mm)、LQFP64 (10mm x 10mm)与LQFP100 (14mm x 14mm)封装。

提供客制化模拟、电源管理及微控制器产品制程之晶圆厂,除负责生产自有IC产品外,另提供部份产能作为晶圆代工服务。新唐科技以灵活之技术、先进之设计能力及数字模拟整合技术能力提供客户高性价比之产品。新唐科技重视与客户及合作伙伴的长期关系,致力于产品、制程及服务的不断创新。新唐科技在美国、中国大陆、以色列等地均设有据点,以强化地区性客户支持服务与全球运筹管理。

心轴/通孔 CD和套准精度等工艺参数被控制在以目标值为中心一定宽度的范围内分布。通过SEMulator3D可自动执行实验设计(DOE)并生成和收集由用户定义的平均值和范围宽度/标准差。根据收集的数据和预先设定的良率规则,即可计算出合格率或良率(即在特定输入条件下,通过合格次数与检验总次数的比率)。 用户还可以根据生成的测量结果与失效规则做对比,对失效进行自定义分类。

MCD(心轴CD)、VCD(通孔CD)、SPT(侧墙厚度)和MVO(轴心-VCX轴方向套准精度)的均值移动范围及其分布宽度,之后执行实验设计,用蒙特卡洛模拟方法执行3000次虚拟实验测试。四种不同输入条件下的失效类别汇总条形图和良率汇总表,通过这些表可以看出特定输入条件下发生各种失效的概率大小并由此判断出各类失效模式对良率的影响。

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