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单位体积内通道密度高的特点

发布时间:2020/4/17 18:24:12 访问次数:804

多年打造的高精度、大动态、插卡式源表,汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,最大输出电压达60V,最大输出电流达2A,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。CS系列源表适用于各行各业使用者,特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

CS系列源表由SMU CS控制机箱、SMU CS100源测量单元子卡、SMU CS200源测量单元子卡等组成,不同的子卡间电气隔离。CS100子卡为单卡单通道;CS204为单卡4通道,卡内4通道共地。CS系列相比S系列具有单位体积内通道密度更高的特点,一台SMU CS控制机箱内最多支持10块子卡,若全使用CS100子卡即可支持达10通道,若全使用CS204子卡即可支持达40通道。用户针对实际情况可以选择不同的子卡实现最优性价比搭配。

 


制造商IC编号

K4B4G1646E-BCNB

厂牌

SAMSUNG/三星

IC 类别

DDR3 SDRAM

IC代码

256MX16 DDR3

共通IC编号

产品详情

脚位/封装

FBGA-96

外包装

TRAY

无铅/环保

无铅/环保

电压(伏)

1.5 V

温度规格

0°C~+85°C

速度

2133(MT/s)

标准包装数量

1120

标准外箱

潜在应用

INDUSTRIAL COMPUTER/PC DIGITAL BOARD/工业电脑/ PC数位板

R&D DESIGN HOUSE/研發/設計

SMART TV/MONITOR/TFT/LCD TV-MAKER/顯示器/智能電視製造商

Number Of Words

256M

Bit Organization

x16

Density

4G

Internal Banks

8 Banks

Generation

6th Generation

Power

Normal Power

 

产品应用

 纳米材料特性测试,石墨烯、纳米线等

有机材料特性测试,电子墨水、印刷电子技术等

能量与效率特性测试,LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

分立半导体器件特性测试,电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等

传感器特性测试,电阻率、霍尔效应等

深圳市斌能达电子科技有限公司http://jkic888.51dzw.com/

(素材来源:eechina和ttic.如涉版权请联系删除。特别感谢)


 

 

多年打造的高精度、大动态、插卡式源表,汇集电压、电流输入输出及测量等多种功能,最大输出电压达60V,最大输出电流达2A,支持四象限工作,因此能广泛的应用于各种电气特性测试中。CS系列源表适用于各行各业使用者,特别适合现代半导体、纳米器件和材料、有机半导体、印刷电子技术以及其他小尺寸、低功率器件特性分析。

CS系列源表由SMU CS控制机箱、SMU CS100源测量单元子卡、SMU CS200源测量单元子卡等组成,不同的子卡间电气隔离。CS100子卡为单卡单通道;CS204为单卡4通道,卡内4通道共地。CS系列相比S系列具有单位体积内通道密度更高的特点,一台SMU CS控制机箱内最多支持10块子卡,若全使用CS100子卡即可支持达10通道,若全使用CS204子卡即可支持达40通道。用户针对实际情况可以选择不同的子卡实现最优性价比搭配。

 


制造商IC编号

K4B4G1646E-BCNB

厂牌

SAMSUNG/三星

IC 类别

DDR3 SDRAM

IC代码

256MX16 DDR3

共通IC编号

产品详情

脚位/封装

FBGA-96

外包装

TRAY

无铅/环保

无铅/环保

电压(伏)

1.5 V

温度规格

0°C~+85°C

速度

2133(MT/s)

标准包装数量

1120

标准外箱

潜在应用

INDUSTRIAL COMPUTER/PC DIGITAL BOARD/工业电脑/ PC数位板

R&D DESIGN HOUSE/研發/設計

SMART TV/MONITOR/TFT/LCD TV-MAKER/顯示器/智能電視製造商

Number Of Words

256M

Bit Organization

x16

Density

4G

Internal Banks

8 Banks

Generation

6th Generation

Power

Normal Power

 

产品应用

 纳米材料特性测试,石墨烯、纳米线等

有机材料特性测试,电子墨水、印刷电子技术等

能量与效率特性测试,LED/AMOLED、太阳能电池、电池、DC-DC转换器等

分立半导体器件特性测试,电阻、二极管、发光二极管、齐纳二极管、PIN二极管、BJT三极管、MOSFET、SIC等

传感器特性测试,电阻率、霍尔效应等

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