光电子器件测试工程应用经验

   由于对电信号的产生、采集、处理和分析等手段比较成熟,常见的测量设备都为电信号处理设备, HA2612S非电量信号(光信号)不能直接使用一般的仪表和电子仪器测量,所以非电量需要转换为与之有一定关系的电信号,再进行测量。在这种架构下,光电子器件的测量需要实现完整的“电一光”和“光一电”转换过程。如图10-29所示的4个部分:电信号输入、电光转换、光电转换和电信号输出。根据不同器件的特点和工作原理,此测试架构需要搭配不同的部件以实现对相关器件的测量。

   例如,发光二极管属于“电一光”转换部件,测量发光二极管的光学特性,需要在测试架构中加入“Ⅲ光电转换器”,实现“光一电”转换过程。如图10-29(a)所示。相应地,光电探测器属于“光一电”转换部件,测量光电探测器的光学特性,需要在测试架构中加入“II电光转换器∵,如特性己知的光源和单色仪,实现“电一光”转换过程。如图lO-29(c)所示。还有如光电耦合器,自身就实现了“电一光”和“光一电”的两次转换,就可以用电子仪器直接测量,如图10-29(d)所示。

   由于实现“电一光”和“光一电”转换的器件千差万别,而且它们的电特性与光特性之间的关系一般不是线性的。为保证测试结果的精度和准确度,测试系统所用的“电―光”和“光一电”转换器件需要利用多种手段进行适当的处理以满足测试要求。例如在出厂前做校准,每年至少进行一次计量检定,定期用标准器检查测试系统的测试结果是否发生漂移或偏差等。在使用时注意使用前需预热,自检正常并在需要时进行补偿或校准操作,使用过程中确保在测试系统的安全和有效范围内工作,必要时,对测试结果进行恰当的修正和数据处理。大部分波段的光波都自然存在,为保证测试精度,使测试结果不受外界因素的干扰,一

般需要将被测器件与外界隔离,在密闭空间内测试就很有必要。根据测试原理和参数的不同,需要采用不同的密闭空间。如测量发光二极管时,测量发光强度这种“点测量”参数就需要选择黑色亚光的测试盒并配置消光筒或光栏,防止漫反射和寄生辐射对结果造成影响。